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本发明属于利用光电子方法测量光纤性能的技术领域。本发明是利用高双折射光纤的法拉第效应实现对高双折射光纤拍长测量的一种新方案，其主要优点是可不需破坏高双折射光纤的保护层进行无损检测、分辨率高、测量速度快，测量结果不受光纤摆放状态影响，并适于低...
该专利属于清华大学所有，仅供学习研究参考，未经过清华大学授权不得商用。

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