一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

技术编号:26033851 阅读:38 留言:0更新日期:2020-10-23 21:11
本发明专利技术提供了一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质;方法包括:获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据;将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息,其中,所述故障预警信息,至少用于指示所述光纤发生故障的位置;所述质量评分信息,用于提供是否对光纤维护提供参考依据。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质
本专利技术涉及光缆质量分析
,尤其涉及一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
OTDR(OpticalTimeDomainReflectometer,光时域反射仪)即光时域反射仪,通过发射光脉冲到光纤内,利用瑞利散射和菲涅尔反射,在OTDR端口接收返回的曲线信息对链路状态进行监测。当光脉冲在光纤内传输时,会由于光纤本身的性质、连接器、接合点、弯曲或其它类似的事件而产生散射、反射。OTDR被广泛应用于光缆维护行业,维护人员通过采集OTDR测试曲线,来分析光纤质量情况。通常的分析方式是通过OTDR测试空余光纤,搜集测试曲线,把测试曲线导入至专业分析软件,解析曲线的长度、平均衰耗、全程衰耗及事件点损耗,根据以上测试结果分析光纤质量好坏。一条缆段包含多条纤芯,判定缆段质量状况,需要分析多条纤芯,由维护人员在excel中记录多个纤芯测试结果,然后人工分析。光缆数据量庞大,上千万的光缆数据,靠人工分析,做到准确详细,几乎是不可能的。近年来,有厂家开发了配套的OTDR管理软件,可以通过软件的固定算法来替代部分人工分析,但是通常软件只能分析厂家自己生产的OTDR设备采集的曲线,不能在市场形成通用。由上可见,当前的光缆质量分析方式主要依靠人工或单一的软件公式分析,效率低下、准确率低,且无法分析出光缆质量发展趋势和预测光缆未来故障发生概率。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种光纤质量分析方法、装置、电子设备及存储介质。本专利技术实施例的技术方案是这样实现的:本专利技术实施例提供一种光纤质量分析方法,包括:获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据;将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息,其中,所述故障预警信息,至少用于指示所述光纤发生故障的位置;所述质量评分信息,用于提供是否对光纤维护提供参考依据。上述方案中,将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息,包括:将所述光纤的事件数据和历史故障维护数据输入到第一神经网络,确定所述光纤的质量评分信息。上述方案中,所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的故障预警信息,包括:将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中,得到所述光纤的故障率;将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息。上述方案中,所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中,得到所述光纤的故障率,包括:所述支持向量机模型根据所述事件数据中的位置信息和所述历史故障维护数据中的历史故障位置信息,分段确定所述光纤的各个分段的故障率;所述将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息,包括:将各个分段的故障率输入到所述第二神经网络,得到所述光纤的故障预警信息。上述方案中,所述将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息,包括:将所述各个分段的故障率输入到第二神将网络,得到故障率大于预设故障率阈值的各个光纤分段的故障预警信息。上述方案中,所述方法还包括:获取光时域反射仪输出不同测试时刻监测到的测试数据;对所述测试数据进行分析,得到所述光纤的事件数据,其中,所述事件数据至少包括:损耗事件信息,其中,所述损耗事件信息包括损耗值大于预设损耗阈值的损耗事件对应的插入损耗值和发生损耗事件的光纤位置的位置信息,反射事件信息,其中,所述反射事件信息包括:反射率大于预设反射率阈值和/或损耗值大于所述预设损耗阈值的反射事件对应的反射率、插入损耗值和所述光纤上发生反射事件的光纤位置的位置信息。上述方案中,所述历史故障维护数据至少包括:所述光纤历史发生故障的故障位置信息、故障的类型和故障造成的损失及维修成本。本专利技术实施例还提供一种光纤质量分析装置,包括:获取模块,用于获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据;质量评分模块,用于将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息,其中,所述质量评分信息,用于提供是否对光纤维护提供参考依据;故障预警模块,用于将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的故障预警信息,其中,所述故障预警信息,至少用于指示所述光纤发生故障的位置。上述方案中,所述质量评分模块,具体用于将所述光纤的事件数据和历史故障维护数据输入到第一神经网络,确定所述光纤的质量评分信息;所述故障预警模块包括:故障率计算模块,用于将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中,得到所述光纤的故障率;故障分析模块,用于将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息。上述方案中,所述故障率计算模块,具体用于利用所述支持向量机模型根据所述事件数据中的位置信息和所述历史故障维护数据中的历史故障位置信息,分段确定所述光纤的各个分段的故障率;所述故障分析模块,具体用于将所述各个分段的故障率输入到所述第二神经网络,得到所述光纤的故障预警信息;所述故障分析模块,具体用于将各个分段的故障率输入到第二神将网络,得到故障率大于预设故障率阈值的各个光纤分段的故障预警信息。上述方案中,所述装置还包括:事件分析模块,用于获取光时域反射仪输出不同测试时刻监测到的测试数据;对所述测试数据进行分析,得到所述光纤的事件数据,其中,所述事件数据至少包括:损耗事件信息,其中,所述损耗事件信息包括:损耗值大于预设损耗阈值的损耗事件对应的插入损耗值和发生损耗事件的光纤位置的位置信息,反射事件信息,其中,所述反射事件信息包括:反射率大于预设反射率阈值和/或损耗值大于所述预设损耗阈值的反射事件对应的反射率、插入损耗值和所述光纤上发生反射事件的光纤位置的位置信息。本专利技术实施例还提供一种电子设备,包括:存储器,用于存储可执行指令;处理器,用于执行所述存储器中存储的可执行指令时,实现本专利技术实施例提供的一种光纤质量分析方法。本专利技术实施例还提供一种计算机可读存储介质,存储有可执行指令,所述可执行指令被处理器执行时,实现本专利技术实施例提供的一种光纤质量分析方法。本专利技术实施例通过获取光纤的事件数据,并基于机器学习,结合光纤的历史故障功能维护信息,实现了光纤质量发展趋势的智能分析和光缆故障发生位置的预测,且质量评分信息还为光缆维护带来参考依据,为维护人员争取了光缆的维护时间,使维护人员能快速定位光缆的可能发生故障的位置并进行维护,提高了光缆维护的效率,极大降低光缆中断现象。附图说明图1是本专利技术实施例提供的一种光纤质量分析方法的流程示意图;图2是本专利技术实施例提供的一种基于机器学习的光纤质量分析方法的原理示意图;...

【技术保护点】
1.一种光纤质量分析方法,其特征在于,包括:/n获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据;/n将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息,其中,所述故障预警信息,至少用于指示所述光纤发生故障的位置;所述质量评分信息,用于提供是否对光纤维护提供参考依据。/n

【技术特征摘要】
1.一种光纤质量分析方法,其特征在于,包括:
获取所述光纤的事件数据和历史故障维护数据;
将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息和故障预警信息,其中,所述故障预警信息,至少用于指示所述光纤发生故障的位置;所述质量评分信息,用于提供是否对光纤维护提供参考依据。


2.根据权利要求1所述的光纤质量分析方法,其特征在于,将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的质量评分信息,包括:
将所述光纤的事件数据和历史故障维护数据输入到第一神经网络,确定所述光纤的质量评分信息。


3.根据权利要求1所述的光纤质量分析方法,其特征在于,所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入机器学习模型,得到所述光纤的故障预警信息,包括:
将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中,得到所述光纤的故障率;
将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息。


4.根据权利要求3所述的光纤质量分析方法,其特征在于,所述将所述事件数据和所述历史故障维护数据输入到支持向量机模型中,得到所述光纤的故障率,包括:
所述支持向量机模型根据所述事件数据中的位置信息和所述历史故障维护数据中的历史故障位置信息,分段确定所述光纤的各个分段的故障率;
所述将所述光纤的故障率输入到第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息,包括:
将所述光纤的各个分段的故障率输入到所述第二神经网络,得到所述光纤的故障预警信息。


5.根据权利要求4所述的光纤质量分析方法,其特征在于,所述将所述光纤的各个分段的故障率输入到所述第二神经网络,确定所述光纤的故障预警信息,包括:
将所述光纤的各个分段的故障率输入到第二神将网络,得到故障率大于预设故障率阈值的所述各个分段的故障预警信息。


6.根据权利要求1所述的光纤质量分析方法,其特征在于,在获取所述光纤的事件数据之前,所述方法还包括:
获取光时域反射仪输出不同测试时刻监测到的测试数据;
对所述测试数据进行分析,得到所述光纤的事件数据,其中,所述事件数据至少包括:
损耗事件信息,其中,所述损耗事件信息包括:损耗值大于预设损耗阈值的损耗事件对应的插入损耗值和发生损耗事件的光纤位置的位置信息;
反射事件信息,其中,所述反射事件信息包括:反射率大于预设反射率阈值和/或损耗值大于所述预设损耗阈值的反射事件对应的反射率、插入损耗值和所述光纤上发生反射事件的光纤位置的位置信息。


7.根据权利要求1所述的光纤质量分析方法,其特征在于,所述历史故障维护数据...

【专利技术属性】
技术研发人员:张小娇陈星云余磊周治柱
申请(专利权)人:武汉光迅科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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