检测装置及检测方法制造方法及图纸

本申请公开了一种检测装置及检测方法，首先对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息，然后根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标，实现了精准定位待测区域，进而提升后续对待测区域的检测精度。

【技术实现步骤摘要】
检测装置及检测方法
本申请涉及检测
，尤其涉及一种检测装置及检测方法。
技术介绍
随着手机制造业的发展，对手机的要求越来越高，对工业检测的要求也增加。为了提高产品的集成度，手机制造过程中需要在屏幕上进行打孔，用于安装前置摄像头。在打孔的过程中，容易导致孔边缘出现划痕、裂纹等缺陷，因此需要对孔边缘进行检测。
技术实现思路
本申请实施例提供一种检测装置及检测方法。第一方面，本申请提供一种检测装置，包括：定位模块，用于对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息；第一检测模块，用于根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标。一个实现中，所述定位模块为成像装置，所述成像装置，用于对所述待测物进行成像，以获取所述待测物的第一图像，并根据所述第一图像确定所述位置信息；或者，所述定位模块为三维坐标检测装置，且所述定位模块的视场大于所述第一检测模块的视场，所述三维坐标检测装置，用于检测所述待测物表面多个点的三维坐标，以获取所述位置信息。一个实现中，检测装置还包括：第二检测模块，用于根据所述位置信息确定所述待测区域的第二检测轨迹，以及根据所述第二检测轨迹对所述待测区域进行检测，以获取所述待测区域的几何尺寸或表面缺陷。一个实现中，所述第二检测模块为成像装置、形貌检测装置或膜厚检测装置。一个实现中，所述定位模块的视场大于所述第二检测模块的视场。一个实现中，所述第二检测模块，还用于在对所述待测区域进行检测过程中，根据所述三维位置信息对所述待测区域进行聚焦。一个实现中，所述第二检测模块包括光源、镜头与探测器，所述光源发出的光束经所述待测物反射后被所述镜头接收；所述探测器，用于探测所述镜头收集的光束。一个实现中，检测装置还包括：第一平移台，用于使所述镜头与所述待测物沿所述镜头光轴方向相对移动；和/或，所述第一平移台，用于使所述探测器与所述待测物沿所述镜头光轴方向相对移动。一个实现中，所述镜头为变焦镜头，所述变焦镜头的焦距可调。一个实现中，检测装置还包括：第二平移台，用于使所述第二检测模块与所述待测物沿平行于所述二维平面的方向相对移动。一个实现中，检测装置还包括：第三平移台，用于使所述待测物与所述第一检测模块沿平行于所述二维平面的方向相对移动。一个实现中，所述第一检测模块为光谱共聚焦设备、激光测距设备、白光干涉设备、共聚焦成像设备中的其中一个。一个实现中，所述待测区域包括多个定位点，所述位置信息包括多个定位点的二维坐标。一个实现中，所述待测物为屏幕，所述屏幕中具有开口；所述待测区域为所述开口的边缘区域；至少部分所述待测区域的表面具有膜层。第二方面，本申请提供一种检测方法，包括：对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息；根据所述位置信息确定所述待测区域的第一检测轨迹；根据所述第一检测轨迹对所述待测区域进行第一检测，以获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标。一个实现中，所述对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息，包括：对所述待测物进行成像，获取所述待测物的第一图像；根据所述第一图像确定所述位置信息。一个实现中，所述方法还包括：根据所述位置信息确定所述待测区域的第二检测轨迹；根据所述第二检测轨迹对所述待测区域进行第二检测，以获取所述待测区域的几何尺寸或表面缺陷信息。一个实现中，应用于检测装置，所述检测装置包括第二检测模块，所述第二检测轨迹是所述第二检测模块确定的，所述第二检测是所述第二检测模块执行的；所述方法还包括：在进行所述第二检测过程中，通过所述第二检测模块根据所述三维位置信息对所述待测区域进行聚焦。一个实现中，所述待测区域包括多个子区域，所述三维位置信息包括所述多个子区域的三维坐标；所述通过所述第二检测模块根据所述三维位置信息对所述待测区域进行聚焦，包括：通过所述第二检测模块分别对所述多个子区域进行聚焦，其中，对每个所述子区域进行聚焦具体实现方式有：根据所述子区域的三维坐标对所述子区域进行聚焦；所述第二检测在所述对所述多个子区域聚焦完成后；所述对所述待测区域进行所述第二检测，包括：对所述多个子区域进行检测。一个实现中，所述检测装置还包括第一平移台、镜头和探测器；所述根据所述子区域的三维坐标对所述子区域进行聚焦，包括：根据所述子区域的三维坐标通过所述第一平移台调节第一距离和/或第二距离，实现对所述子区域表面进行聚焦，所述第一距离为所述镜头与所述待测物沿所述镜头光轴方向的相对距离，所述第二距离为所述探测器与所待测物沿所述镜头光轴方向的距离。一个实现中，所述检测装置还包括第二平移台，所述第二平移台用于使所述第二检测模块与所述待测物沿平行于所述二维平面的方向相对移动；所述待测区域包括多个子区域；所述根据所述第二检测轨迹对所述待测区域进行检测，包括：通过所述第二移动平台使所述待测物和所述第二检测模块沿所述第二检测轨迹相对移动，并通过所述第二检测模块依次对每个所述子区域进行检测，所述待测区域的表面缺陷信息包括每个所述子区域的表面缺陷信息。可以看出，在本申请实施例中，先对待测物的待测区域进行定位，得到待测区域在二维平面内的位置信息，然后根据位置信息确定第一检测轨迹，以及根据第一检测轨迹得到待测区域的三维位置信息，实现了精准定位待测区域，进而提升后续对待测区域的检测精度。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本申请一个实施例的检测装置的结构示意图；图2是本申请一个实施例的待测物的示意图；图3为本申请另一个实施例的检测装置的结构示意图；图4是本申请一个实施例提供的第二检测模块的结构示意图；图5是本申请一个实施例提供的检测方法的流程示意图。具体实施方式为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明，应对理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。图1为本申请一个实施例的检测装置的结构示意图。如图1所示，该检测装置包括定位模块10和第一检测模块20。其中，定位模块10，用于对待测物的待测区域进行定位，以获取待测区域在二维平面内的位置信息；第一检测模块20，用于根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：/n定位模块，用于对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息；/n第一检测模块，用于根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
定位模块，用于对待测物的待测区域进行定位，以获取所述待测区域在二维平面内的位置信息；
第一检测模块，用于根据所述位置信息确定第一检测轨迹，以及根据所述第一检测轨迹获取所述待测区域的三维位置信息，所述三维位置信息包括至少一个点的三维坐标。


2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述定位模块为成像装置，所述成像装置，用于对所述待测物进行成像，以获取所述待测物的第一图像，并根据所述第一图像确定所述位置信息；
或者，所述定位模块为三维坐标检测装置，且所述定位模块的视场大于所述第一检测模块的视场，所述三维坐标检测装置，用于检测所述待测物表面多个点的三维坐标，以获取所述位置信息。


3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括：第二检测模块，用于根据所述位置信息确定所述待测区域的第二检测轨迹，以及根据所述第二检测轨迹对所述待测区域进行检测，以获取所述待测区域的几何尺寸或表面缺陷。


4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第二检测模块为成像装置、形貌检测装置或膜厚检测装置。


5.根据权利要求3或4所述的检测装置，其特征在于，所述定位模块的视场大于所述第二检测模块的视场。


6.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述第二检测模块，还用于在对所述待测区域进行检测过程中，根据所述三维位置信息对所述待测区域进行聚焦。


7.根据权利要求3或6所述的检测装置，其特征在于，所述第二检测模块包括光源、镜头与探测器，所述光源发出的光束经所述待测物反射后被所述镜头接收；
所述探测器，用于探测所述镜头收集的光束。


8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，还包括：
第一平移台，用于使所述镜头与所述待测物沿所述镜头光轴方向相对移动；
和/或，所述第一平移台，用于使所述探测器与所述待测物沿所述镜头光轴方向相对移动。


9.根据权利要求7或8所述的检测装置，其特征在于，所述镜头为变焦镜头，所述变焦镜头的焦距可调。


10.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，还包括：
第二平移台，用于使所述第二检测模块与所述待测物沿平行于所述二维平面的方向相对移动。


11.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括：
第三平移台，用于使所述待测物与所述第一检测模块沿平行于所述二维平面的方向相对移动。


12.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述第一检测模块为光谱共聚焦设备、激光测距设备、白光干涉设备、共聚焦成像设备中的其中一个。


13.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述待测区域包括多个定位点，所述位置信息包括多个定位点的二维坐标。


14.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈鲁，方一，李青格乐，张军，张嵩，
申请(专利权)人：深圳中科飞测科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44