【技术实现步骤摘要】
一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具
本技术涉及一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具。
技术介绍
薄膜微带滤波器在生产过程中需要对产品进行S参数(即滤波器的插入损耗S21和回拨损耗S11)的测试,以保证产品的质量和可靠性。传统的夹具做法是将连接器焊接在产品输入输出端,然后进行试验,这种做法的缺点是易对产品造成破坏、不能重复利用、测试精确度低等。其次,在滤波器进行S参数测试过程中,需要产品的接地端接地效果良好。传统做法是将连接器外导体与滤波器接地端焊接,但由于焊接的不确定性,可能出现虚焊情况,导致接地效果不理想,另外,平面电路与连接器同轴传输直接焊接,会出现平衡-不平衡转换,出现高频电流,引入外部误差,测试不精确,导致S参数失真。再者,传统夹具采用焊锡,由于温度高,易损伤滤波器的金层电极,影响测试的可靠性及结果;每次测试失效,需要重复进行,影响了测试效率。尤其是,无法有效测试小尺寸产品。所以,传统夹具存在极大的缺陷。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足,提出一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,能够保证产品的接地效果良好,不会对产品造成破坏,可重复使用,测试可靠性及精度高,也适用于小尺寸产品。本技术通过以下技术方案实现:一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,薄膜微带滤波器具有接地面,包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶,两连接器分别设置在测试基座两端,薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部,两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄 ...
【技术保护点】
1.一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,薄膜微带滤波器具有接地面,其特征在于:包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶,两连接器分别设置在测试基座两端,薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部,两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄膜微带滤波器的输入输出电极键合连接,两测试微带线长度相同且经过TRL校准,测试基座表面经金属化处理。/n
【技术特征摘要】
1.一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,薄膜微带滤波器具有接地面,其特征在于:包括测试基座、两连接器、两测试微带线、两金丝和导电胶,两连接器分别设置在测试基座两端,薄膜微带滤波器通过设置在其接地面的导电胶固定在测试基座中部,两测试微带线一端分别与两连接器连接、另一端分别通过金丝与薄膜微带滤波器的输入输出电极键合连接,两测试微带线长度相同且经过TRL校准,测试基座表面经金属化处理。
2.根据权利要求1所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,其特征在于:所述连接器包括外壳和设置在外壳内的芯线,外壳固定在所述测试基座上,芯线与所述测试微带线一端连接。
3.根据权利要求1所述的一种薄膜微带滤波器的S参数测试夹具,其特征在于:所述测试基座表面设...
【专利技术属性】
技术研发人员:苏祺益,黄星凡,潘甲东,严勇,
申请(专利权)人:福建毫米电子有限公司,
类型:新型
国别省市:福建;35
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