一种重力传感器芯片检验装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及芯片检验技术领域，公开了一种重力传感器芯片检验装置，包括底座，所述底座顶端两侧均设有立柱，两个所述立柱顶端设有固定台，所述固定台内的两侧均设有调节机构，所述调节机构相向的一侧均连接有夹持机构，所述夹持机构设置在固定台顶端中部的固定口内，且所述夹持机构间夹持有待检测的芯片。本实用新型专利技术固定夹持操作简便，并且螺纹柱带动滑杆滑动稳定性强，夹持长久，避免了夹持紧固后出现松动现象，便于后续芯片检验。

【技术实现步骤摘要】
一种重力传感器芯片检验装置
本技术涉及芯片检验
，尤其涉及一种重力传感器芯片检验装置。
技术介绍
重力传感器是采用弹性敏感元件制成悬臂式位移器，与采用弹性敏感元件制成的储能弹簧来驱动电触点，完成从重力变化到电信号的转换，应用广泛，重力传感器中的主要部件即为芯片，芯片在安装时均需要对传感器片材进行浸蚀，布线，在使用时需要对这些芯片进行检验，现有的芯片检验装置在使用时，由于芯片的体积较小，不便于对芯片进行固定，使得芯片在进行检验时固定起来比较麻烦，影响了装置的工作效率。经检索，中国专利授权号CN209624727U公开了一种半导体传感器芯片检验装置，该半导体传感器芯片检验装置，包括底座、机体和空腔，所述机体的底部与底座的顶部固定连接，所述空腔位于机体的内部，所述空腔的内部包括有支撑座、两个侧板、支撑板、芯体和固定机构。现有重力传感器芯片检验装置的不足之处：在对芯片进行检测前需要进行固定操作，而装置对芯片的固定操作繁琐，从而增加了检验流程的困难度。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种重力传感器芯片检验装置，具备固定夹持操作简便，并且螺纹柱带动滑杆滑动稳定性强，夹持长久，避免了夹持紧固后出现松动现象的优点，解决了现有重力传感器芯片检验装置在对芯片进行检测前需要进行固定操作，而装置对芯片的固定操作繁琐，从而增加了检验流程的困难度的问题。根据本技术实施例的一种重力传感器芯片检验装置，包括底座，所述底座顶端两侧均设有立柱，两个所述立柱顶端设有固定台，所述固定台内的两侧均设有调节机构，所述调节机构相向的一侧均连接有夹持机构，所述夹持机构设置在固定台顶端中部的固定口内，且所述夹持机构间夹持有待检测的芯片。进一步地，所述调节机构包括调节销，所述调节销的一侧设有连接杆，所述连接杆贯穿固定台侧壁且端头延伸至内部的固定轴承上。进一步地，所述连接杆的外壁上嵌套有螺纹柱，所述螺纹柱的上侧设有滑杆，所述滑杆的下侧均匀排列有多个凸柱。进一步地，所述凸柱与螺纹柱相啮合，所述滑杆的一端贯穿设在固定口侧壁上的直线轴承且端头设有推板。进一步地，所述夹持机构包括设置在推板上的凹槽，所述凹槽的两侧壁上均设有滑槽。进一步地，两个所述滑槽间设有滑板，所述滑板的一侧设有多个弹簧。进一步地，多个所述弹簧的一端设有限位板，所述滑板的另一侧设有呈“凸”字状的夹紧块。进一步地，所述调节销呈圆柱状且侧壁上设有多个相互平行的棱条。进一步地，所述夹紧块的一侧两端均设置有连接块，所述连接块相向一侧的棱角处设置有固定槽。进一步地，所述固定槽与芯片的棱角边沿相匹配。本技术与现有技术相比具有的有益效果是：1、芯片设置在固定台上的固定口内，通过手动旋转调节销，调节销上的螺纹柱转动，通过凸柱的作用，使凸柱在螺纹柱上的螺纹作用下发生移动，从而使滑杆实现移动，直线轴承限定其移动方向，使两个推板带动夹持机构移动，最后使夹紧块上的固定槽与芯片边缘卡接触固定，固定夹持操作简便，并且螺纹柱带动滑杆滑动稳定性强，夹持长久，避免了夹持紧固后出现松动现象，便于后续芯片检验；2、夹持固定时夹紧块不断挤压滑板，使滑板在滑槽内不断后移，并压缩弹簧，最后使限位板与凹槽底壁相接触，通过弹簧提供的弹力可以将芯片夹紧的更稳固，同时也能够避免装置在震动时芯片发生位置的偏离，增加了实验数据的准确性，提高了实验人员的工作效率。附图说明附图用来提供对本技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本技术的实施例一起用于解释本技术，并不构成对本技术的限制。在附图中：图1为本技术提出的一种重力传感器芯片检验装置的正面结构示意图；图2为本技术提出的一种重力传感器芯片检验装置的俯视图；图3为本技术提出的一种重力传感器芯片检验装置中夹持机构的结构示意图；图4为图1中B区域的结构放大示意图；图5为本技术提出的一种重力传感器芯片检验装置中连接块的侧视图。1-底座、2-立柱、3-固定台、4-调节机构、5-连接杆、6-螺纹柱、7-固定轴承、8-调节销、9-滑杆、10-直线轴承、11-推板、12-凹槽、13-滑板、14-滑槽、15-弹簧、16-限位板、17-夹紧块、18-凸柱、19-连接块、20-固定槽、21-芯片、A-夹持机构。具体实施方式为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。以下结合具体实施例对本技术的实现进行详细的描述。本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。参照图1-5所示，为本技术提供的较佳实施例。一种重力传感器芯片检验装置，包括底座1，底座1顶端两侧均设有立柱2，两个立柱2顶端设有固定台3，固定台3内的两侧均设有调节机构4，调节机构4相向的一侧均连接有夹持机构A，夹持机构A设置在固定台3顶端中部的固定口内，且夹持机构A间夹持有待检测的芯片21，调节机构4能够实现夹持机构A的位置调节，通过调节夹持机构A的位置，最终将芯片21进行固定。在本实施例中，调节机构4包括调节销8，调节销8的一侧设有连接杆5，连接杆5贯穿固定台3侧壁且端头延伸至内部的固定轴承7上，连接杆5的外壁上嵌套有螺纹柱6，螺纹柱6的上侧设有滑杆9，滑杆9的下侧均匀排列有多个凸柱18，凸柱18与螺纹柱6相啮合，滑杆9的一端贯穿设在固定口侧壁上的直线轴承10且端头设有推板11；具体的，芯片21设置在固定台3上的固定口内，通过手动旋转调节销8，调节销8上的螺纹柱6转动，通过凸柱18的作用，使凸柱18在螺纹柱8上的螺纹作用下发生移动，从而使滑杆9实现移动，直线轴承10限定其移动方向，使两个推板11带动夹持机构A移动实现芯片21夹持固定。在本实施例中，夹持机构A包括设置在推板11上的凹槽12，凹槽12的两侧壁上均设有滑槽14，两个滑槽14间设有滑板13，滑板13的一侧设有多个弹簧15，多个弹簧15的一端设有限位板16，滑板13的另一侧设有呈“凸”字状的夹紧块17，夹持固定时夹紧块17不断挤压滑板13，使滑板13在滑槽14内不断后移，并压缩弹簧15，最后使限位板16与凹槽12底壁相接触，通过弹簧15提供的弹力可以将芯片21夹紧的更稳固。在本实施例中，调节销8呈圆柱状且侧壁上设有多个相互平行的棱条，增加转动时手接触的摩擦力。...

【技术保护点】
1.一种重力传感器芯片检验装置，其特征在于：包括底座，所述底座顶端两侧均设有立柱，两个所述立柱顶端设有固定台，所述固定台内的两侧均设有调节机构，所述调节机构相向的一侧均连接有夹持机构，所述夹持机构设置在固定台顶端中部的固定口内，且所述夹持机构间夹持有待检测的芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种重力传感器芯片检验装置，其特征在于：包括底座，所述底座顶端两侧均设有立柱，两个所述立柱顶端设有固定台，所述固定台内的两侧均设有调节机构，所述调节机构相向的一侧均连接有夹持机构，所述夹持机构设置在固定台顶端中部的固定口内，且所述夹持机构间夹持有待检测的芯片。


2.根据权利要求1所述的一种重力传感器芯片检验装置，其特征在于：所述调节机构包括调节销，所述调节销的一侧设有连接杆，所述连接杆贯穿固定台侧壁且端头延伸至内部的固定轴承上。


3.根据权利要求2所述的一种重力传感器芯片检验装置，其特征在于：所述连接杆的外壁上嵌套有螺纹柱，所述螺纹柱的上侧设有滑杆，所述滑杆的下侧均匀排列有多个凸柱。


4.根据权利要求3所述的一种重力传感器芯片检验装置，其特征在于：所述凸柱与螺纹柱相啮合，所述滑杆的一端贯穿设在固定口侧壁上的直线轴承且端头设有推板。


5.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员：崔俊华，
申请(专利权)人：深圳市宇浩隆科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44