一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法技术

本发明专利技术公开一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，该方法通过调取各个批次打后叶片结构指标数据和打后SQH

【技术实现步骤摘要】
一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法
本专利技术涉及烟草生成
，尤其涉及一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法。
技术介绍
打叶复烤是烟草行业产业链中的重要环节，其上游是烟叶生产、原料基地建设，下游对接卷烟生产制造，对于中式卷烟品牌原料保障发挥着重要的桥梁作用，其加工质量的优劣直接影响着后续卷烟产品质量的稳定，关系到整个烟草加工环节健康和稳定发展[1]。片烟结构指打叶复烤后叶片的片型结构，片烟结构均匀性是打叶复烤加工质量均质化评价中一项重要指标，是衡量打叶质量的重要指标。片烟结构均匀性差，打后片烟中各种规格叶片率的叶片大小不一，不仅影响到打叶复烤生产过程烟叶的损耗，也关系到卷烟工业的制丝等环节，它与制丝率及卷烟质量密切相关，是卷烟产品保持风格特征和质量的重要条件[2]。片烟结构均匀性可以引用文献《YCT366-2010打叶烟叶烤烟质量均匀性评价》[3]中片烟结构均匀性指标(SQH1)值公式，进行片烟结构均匀性数值化转换体现。将打后片烟结构中叶片结构指标的大于25.4mm×25.4mm叶片率(俗称“大片率”)、大于12.7mm×12.7mm且小于25.4mm×25.4mm叶片率(俗称“中片率”)、大于6.35mm×6.35mm且小于12.7mm×12.7mm叶片率(俗称“小片率”)和叶中含梗率这4个指标检测数据的平均值(至)和标准偏差(S1至S4)，进行打后片烟结构均匀性指标(SQH1)值(简称：打后SQH1值)公式1计算，根据计算数值大小进行打后片烟结构均匀性评判，若SQH1值＜5.0％，评判等级a，均匀性表现好；若5.0％＜SQH1值≤10.0％，评判等级b，均匀性表现较好；若SQH1值＞10.0％，评判等级c，均匀性表现较差。在实际生产过程中，打叶复烤质量管理系统中设有叶片结构质量报表，每次叶片结构质量检测15min后，质量管理系统都会相应进行打后SQH1值自动计算和显示，每个生产班组通过系统内班次叶片结构质量报表或检索批次叶片结构质量汇总，可以查看、跟踪班次/批次打后SQH1值情况。生产中，操作人员为了确保打后SQH1值达到目标控制要求，每次根据SQH1值大小变化，进行打叶复烤设备参数调整，这样费时、又费力。由于每个批次烟叶生产任务，常常需要多次生产班组交替生产加工完成，不可避免出现有些批次生产加工中个体班组的打后SQH1值低于目标值5.0％，汇总后的整个批次打后SQH1值超过目标值5.0％现象，这样控制方法不利于打后SQH1值的有效控制，影响整个批次打后片烟结构均匀性。总而言之，现有的打后的控制方法，存在以下缺点：1.需要等待质量系统计算后，方可查看、跟踪，再进行打后SQH1值判断、分析和调整，这样控制存在事后分析再调整，过程打后SQH1值无法有效控制，存在打后SQH1值超过目标值5.0％控制的安全隐患；2.完全只能依靠操作人员丰富的操作经验完成，缺乏打后片烟中各项指标值范围量化，无法进行打后SQH1值指标目标预测，均匀性控制存在较大随机性和盲目性，严重影响整个批次打后片烟结构均匀性控制。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法。本专利技术采用的技术方案是：一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，其包括以下步骤：步骤1，打后片烟结构均匀性追踪；步骤1-1，获取生产班组打后叶片结构指标检测历史数据；步骤1-2，构建打后SQH1值追踪模型：分别计算同一批次下各个生产班组每天的指标检测数据的平均值和标准偏差值；步骤1-3，基于指标检测数据的变化分别计算每个生产班组和整个批次的打后片烟结构均匀性指标(SQH1)值；步骤2，打后片烟结构均匀性预测；步骤2-1，获取打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据；步骤2-2，通过数据分析软件对数据进行显著性分析获取影响批次打后SQH1值的至少一个的主要影响指标，并主要影响指标的标准偏差总和作为打后SQH1值不大于目标控制X的关键影响因素V1；步骤2-3，对各批次非关键影响指标进行数据处理获取非关键影响指标平均值的最小值及非关键影响指标标准偏差的最大值和最小值,进而通过SQH1值计算公式反推得到关键影响因素V1的量化范围；步骤2-4，基于历史数据计算并确定所有批次打后SQH1值不大于目标控制X的合格率满足目标合格率Y要求时关键影响因素V1的最佳最高值和最低值；步骤2-5，打后片烟结构均匀性模拟预测：将选取打后SQH1值关键影响因素范围最佳最高值和最低值引入打后SQH1值追踪模型中，根据生产班组至少2组指标检测数据，结合预设输入大片率、中片率、小片率指标检测数据，通过生产班组打后SQH1值和批次打后SQH1值自动计算和显示，模拟出SQH1值不大于目标控制X下的大片率、中片率、小片率指标检测值最大波动范围值，为操作人员进行后续生产加工指标调整控制提供指导以控制批次打后片烟结构均匀性。进一步地，步骤1-1中通过质量管理系统获取各个批次打后叶片结构指标的历史数据，打后叶片结构指标检测历史数据包括大片率、中片率、小片率和叶中含梗率。进一步地，步骤1-2中利用excel自带的公式分别计算同一批次下各个生产班组每天的指标检测数据的平均值和标准偏差值，并分别显示。进一步地，步骤1-3中利用excel分别计算每个生产班组和整个批次的打后片烟结构均匀性指标(SQH1)值，并分别显示。进一步地，步骤1-3中打后片烟结构均匀性指标SQH1的计算公式如下：其中，至分别表示大片率、中片率、小片率和叶中含梗率的平均值；S1至S4分别表示大片率、中片率、小片率和叶中含梗率的标准偏差。进一步地，步骤2-1中通过质量管理系统调取批次生产班组打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据，打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据包括大片率、中片率、小片率、叶中含梗率4个指标数据对应的平均值、标准偏差和批次打后SQH1值。进一步地，步骤2-2中以大片率、中片率、小片率的标准偏差总和作为打后SQH1值不大于目标控制X的关键影响因素。进一步地，步骤2-2中目标控制X的取值为5％。进一步地，步骤2-3中关键影响因素V1的量化范围具体如下：其中，为关键影响指标平均值的最小值，max(S4)为非关键影响指标标准偏差的最大值，min(S4)为非关键影响指标标准偏差的最小值。进一步地，步骤2-4中目标合格率Y为90％。本专利技术采用以上技术方案，与现有技术相比，本专利技术具有以下有益效果：既消除安全隐患，省时、省力，减轻操作人员控制压力，又能降低打后片烟结构均匀性控制的复杂性，直观追踪打后片烟结构均匀性变化，实现打后SQH1值过程/批次有效控制，提高工作效率和检测数据使用价值，增强生产指导意义。本专利技术提出的方法计算量小、易于实现、准确度高、是一种能够有效提高打后片烟结构均匀性的控制方法，可以在同类复烤企业进行推广应用。附图说本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，其特征在于：其包括以下步骤：/n步骤1，打后片烟结构均匀性追踪；/n步骤1-1，获取生产班组打后叶片结构指标检测历史数据；/n步骤1-2，构建打后SQH

【技术特征摘要】
1.一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，其特征在于：其包括以下步骤：
步骤1，打后片烟结构均匀性追踪；
步骤1-1，获取生产班组打后叶片结构指标检测历史数据；
步骤1-2，构建打后SQH1值追踪模型：分别计算同一批次下各个生产班组每天的指标检测数据的平均值和标准偏差值；
步骤1-3，基于指标检测数据的变化分别计算每个生产班组和整个批次的打后片烟结构均匀性指标SQH1值；
步骤2，打后片烟结构均匀性预测；
步骤2-1，获取打后叶片结构指标数据和打后SQH1值的历史数据；
步骤2-2，通过数据分析软件对数据进行显著性分析获取影响批次打后SQH1值的至少一个的主要影响指标，并主要影响指标的标准偏差总和作为打后SQH1值不大于目标控制X的关键影响因素V1；
步骤2-3，对各批次非关键影响指标进行数据处理获取非关键影响指标平均值的最小值及非关键影响指标标准偏差的最大值和最小值,进而通过SQH1值计算公式反推得到关键影响因素V1的量化范围；
步骤2-4，基于历史数据计算并确定所有批次打后SQH1值不大于目标控制X的合格率满足目标合格率Y要求时关键影响因素V1的最佳最高值和最低值；
步骤2-5，打后片烟结构均匀性模拟预测：将选取打后SQH1值关键影响因素范围最佳最高值和最低值引入打后SQH1值追踪模型中，根据生产班组至少2组指标检测数据，结合预设输入大片率、中片率、小片率指标检测数据，通过生产班组打后SQH1值和批次打后SQH1值自动计算和显示，模拟出SQH1值不大于目标控制X下的大片率、中片率、小片率指标检测值最大波动范围值，为操作人员进行后续生产加工指标调整控制提供指导以控制批次打后片烟结构均匀性。


2.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，其特征在于：步骤1-1中通过质量管理系统获取各个批次打后叶片结构指标的历史数据，打后叶片结构指标检测历史数据包括大片率、中片率、小片率和叶中含梗率。


3.根据权利要求1所述的一种打后片烟结构均匀性追踪预测的控制方法，...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄长庚，贾文平，庄增坤，王清旺，
申请(专利权)人：福建省三明金叶复烤有限公司，
类型：发明
国别省市：福建;35