测量小物品体积与密度的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术为一种利用电子天平测量小物品体积与密度的方法及装置。它是用高测量精度的电子天平测量小物品的质量Ｗ↓［物］及其完全浸没在已知确定密度的液体中所排开液体的质量Ｗ，利用Ｗ＝Ｆ↓［浮］／ｇ，Ｆ↓［浮］＝ρ↓［液］ｇｖ↓［排］，求得小物品的体积ｖ↓［排］＝ｖ↓［物］＝Ｗ／ρ↓［液］及密度ρ↓［物］＝ρ↓［液］Ｗ↓［物］／Ｗ。有与该方法对应的测量装置，它包括带有称重承载体的电子天平，承载体的上方悬挂有无需电子天平承载重量的线，线的下端连接有敞口的托载体。该方法简单、易操作、实用性强、测量精度高；该装置结构简单、方便操作、测量精度高。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测量体积与密度方法及装置，尤其涉及一种利用电子天平测量小物品体积与密度的方法及装置。
技术介绍
目前，实验用测量小物品的体积一般采用量筒排水法，利用加入待测物品前后的量筒内液体的读数差，即为所测物品的体积，由于量筒刻度精度低，人的观测主观影响较大，肉眼的读数精度有限，因此这种方法的测量误差较大、精度不高。
技术实现思路
本专利技术的技术任务是针对现有技术所存在的缺点，而提供了一种高精度测量小物品体积与密度的方法及装置的技术方案，该方法简单、易操作、实用性强；该装置结构简单，方便操作，测量精度高。本专利技术的测量小物品体积与密度的方法是通过如下的技术措施实现的，用高测量精度的电子天平测量小物品的质量W物及其完全浸没在已知确定密度的液体中所排开液体的质量W，利用W＝F浮/g，F浮＝ρ液gV排，求得小物品的体积V排＝V物＝W/ρ液及密度ρ物＝ρ液W物/W。其具体的测量步骤如下①.首先在高测量精度的电子天平上测出小物品的质量W物；②.将盛有已知密度标准液体的容器放置在高测量精度的电子天平的待测物品承载体上，取细线，其下端连接有托载体，将托载体完全浸没在容器中的液体内，清零或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量小物品体积与密度的方法，其特征是：用高测量精度的电子天平测量小物品的质量Ｗ↓［物］及其完全浸没在已知确定密度的液体中所排开液体的质量Ｗ，利用Ｗ＝Ｆ↓［浮］／ｇ，Ｆ↓［浮］＝ρ↓［液］ｇＶ↓［排］，求得Ｖ↓［排］＝Ｖ↓［物］＝Ｗ／ρ↓［液］及密度ρ↓［物］＝ρ↓［液］Ｗ↓［物］／Ｗ。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：孙德明，刘立红，刘长霞，许崇海，鹿晓阳，
申请(专利权)人：山东建筑工程学院，
类型：发明
国别省市：88[中国|济南]