用于加速风化试验设备的抬高的黑面板制造技术

一种用在具有试样台的加速风化试验设备中的黑面板组件，该组件包括设置在试样台上的平台，该平台包括多个支座和安装表面，其中多个支座使安装表面相对于试样台升起。该黑面板组件还包括具有暴露侧和安装侧的黑面板，其中，该黑面板从安装侧安装在平台上。黑面板组件还包括与黑面板的暴露侧连接的温度传感器。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及加速风化试验设备，并且更具体地说涉及一种用于加速风化试验设备的抬高的黑面板。
技术介绍
外涂层、例如涂料和罩面漆以及容易在暴露于太阳辐射和其它风化作用的情况下退化的塑料和其它组分的制造商往往想知道这些产品如何承受多年曝露。但是，这些制造商通常需要在比在正常条件下使这些材料暴露于风化作用下所需的时间短得多的时间内获取这些信息。因此，已经开发出加速风化测试设备，这些设备在短得多的时间内加速由于露天暴露而导致的风化作用，从而制造商不必为了确定其产品在实际露天暴露五年或十年之后情况怎样而实际等待五或十年。风化试验设备可以分类成利用太阳辐射来进行测试的室外设备和产生人工辐射来进行测试的室内设备。室内测试设备通常包括测试腔室，在其中可以使测试试样暴露于加速风化条件。这些测试腔室通常包括一个或多个人工辐射源，例如高强度等离子灯，这些人工辐射源能够将高强度辐射射向安放在测试腔室中的测试试样。另外，室内加速风化测试设备包括靠近测试试样设置在测试腔室中的黑面板温度探头。该黑面板温度探头通常包括涂黑金属面板，该涂黑金属面板具有安装在其上的温度探头。从黑面板温度探头感测到的温度通常代表在加速风化试验期间测试试样可能经受的最高温度。通常使用的室内加速风化试验设备包括测试腔室，其中，测试试样水平布置在试样盘的静态阵列上。这些风化试验设备包括大体上为矩形的测试腔室，它具有顶板、地板和一对侧壁。一个或多个高强度等离子灯、例如氙灯通常位于天花板中并且构成为将辐射射向测试腔室的地板。试样盘安放在测试腔室的地板附近，从而每个试样的暴露表面接收来自这些灯的辐射。但是，测试试样的底侧不暴露于可能存在于测试腔室中的任何气流。黑面板温度探头设置在测试试样盘的一个中，并且同样地，其底侧不暴露于在测试腔室中的任何气流。涉及用于使非金属材料暴露在使用实验室光源的加速试验设备中的标准实践的ASTM6151(American Society for Testing andMaterial，designation 6151)建议，黑面板的背面“应该向暴露腔室内的大气敞开”。但是，在上述室内加速风化试验设备中，黑面板的背面不向暴露腔室内的大气敞开。因此，黑面板会经受静态和动态温度，这些温度与测试试样所受到的实际温度相比不真实。因此，在现有技术中存在这样的需要即，能够将黑面板安放在上述类型的室内加速风化试验设备中，而使黑面板的背面向在该设备的暴露腔室内的大气敞开。
技术实现思路
根据本专利技术的一个主要方面，提供一种用在具有试样台的加速风化试验设备中的黑面板组件，该组件包括设置在试样台上的平台，该平台包括安装表面和多个支座，其中，多个支座使安装表面相对于试样台抬高。黑面板组件另外包括具有暴露侧和安装侧的黑面板，其中，黑面板从安装侧安装在平台上。黑面板组件还包括与黑面板的暴露侧连接的温度传感器。根据本专利技术的另一个主要方面，提供一种加速风化试验设备，它具有包括试样台的测试腔室和至少一个灯组件，所述至少一个灯组件设置在测试腔室中并且构成为将辐照射向试样台，所述加速风化试验设备包括设置在试样台上的平台，该平台包括安装表面和多个支座，其中，多个支座使安装表面相对于试样台抬高。该加速风化试验设备另外包括具有暴露侧和安装侧的黑面板，其中，黑面板从安装侧安装在平台上，并且包括与黑面板的暴露侧连接的温度传感器。根据本专利技术的另一个主要方面，提供一种用在加速风化试验设备的测试腔室中的黑面板组件，所述加速风化试验设备具有至少一个将辐照射向试样台的灯，所述黑面板组件包括设置在试样台上的平台，该平台包括平的安装表面和多个支座，其中，多个支座使安装表面相对于试样台抬高，从而在安装表面的底部和试样台之间形成间隙，并且其中，将所述支座构成为使得空气能够流动穿过该间隙。该黑面板组件还包括具有暴露侧和安装侧的黑面板，该黑面板构成为从安装侧安装在平台上，黑面板的暴露侧的取向设定为接收来自所述至少一个灯的辐照。黑面板组件另外包括与黑面板的暴露侧连接的温度传感器。附图说明在附图中显示出某些实施方案。但是，要理解的是，当前的公开内容不限于在附图中所示的布置和手段，其中图1显示出加速风化试验设备的透视图；图2显示出图1的加速风化试验设备的测试腔室的示意图；图3显示出用在图2的测试腔室中的试样盘阵列的透视图；图4显示出用在图2的测试腔室中的黑面板的透视图；图5显示出根据本专利技术的教导构造出的黑面板组件的透视图；图6显示出图5的黑面板组件的分解图；图7显示出图2的测试腔室的示意图，在其中具有根据当前公开内容的教导构造出的黑面板组件。具体实施例方式为了促进对在这里所披露的原理的理解，现在参照在这些附图中所示的优选实施方案，并且将采用特定语言来描述这些优选实施方案。然而需要理解的是，并不因此而对本专利技术的范围进行任何限制。如本专利技术所属领域中的普通技术人员通常所考虑的那样，在所示的装置中的这些替换和进一步变型、以及这些进一步的应用为在这里举例说明所披露的原理。参照图1，该图大体上显示出现有技术的加速风化试验设备20。该设备20包括柜子22、其中容纳有用来操作该设备20的部件。该设备20包括前表面24，从该前表面可以接近测试腔室门26和控制面板28。腔室门26提供了通向测试腔室30的通道。控制面板28允许该设备20的操作人员控制该设备20的各项功能。控制面板28可以包括多个控制按钮和至少一个显示器。在所披露的实施例中，控制面板28为触摸屏显示器。参照图2，该图显示出设备20的测试腔室30的详细视图。测试腔室30大体上为矩形并且包括多个可以置于测试腔室30的顶板上的灯32。每个灯32包括有反射器34，它与灯32组合用来将辐照射向测试腔室30的底部。在测试腔室30的任一个壁上，可以设有一个或多个传感器36，它们可以感测测试腔室30的各种环境条件，例如辐照度、湿度和/或温度。在测试腔室30的地板附近设有试样台38，它可以沿着支撑轨道40滑进和滑出测试腔室30。因此，操作人员可以打开测试腔室门26并且将试样台38拖出，以获得通向试样台38的通道。支撑轨道40由安装在测试腔室30的相互对向的壁上的支撑托架42支撑。试样台38包括安装表面44，在其上可以安放一个或多个测试试样46，以便在测试腔室30中进行风化试验。黑面板48也安放在试样台38上以提供参考温度，该参考温度反映出测试试样46在测试腔室30中进行测试期间所经受的最高温度。参照图3，该图显示出现有技术的试样盘50的阵列。该试样盘50的阵列的尺寸可以设定为占据试样台38的一部分或全部。在所披露的实施例中，如图3所示，试样盘50的阵列包括三十四个单独的试样盘52和一个单一的黑面板盘54。每个单独的试样盘52大体上为矩形并且构成为保持相应尺寸的测试试样46。黑面板盘52的尺寸也设定为保持黑面板48。参照图4，该图显示出现有技术的黑面板48。该黑面板48包括暴露侧60，该暴露层60由黑色层覆盖；以及安装层(未示出)，从所述安装侧可以将黑面板48安装或安放在试样台38上。该黑色层可以包括任何具有良好耐老化性的涂层，并且所述涂层可以吸收到达该涂层的大部分辐射。该黑面板48包括温度传感器外壳62，该温度传感器外壳62通过托架64安装在暴露侧60上。温度传感器外壳62和托架本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用在具有试样台的加速风化试验设备中的黑面板组件，该黑面板组件包括：　　　　设置在试样台上的平台，该平台包括安装表面和多个支座，其中，多个支座使安装表面相对于试样台抬高；　　　　黑面板，它具有暴露侧和安装侧，其中，黑面板从安装侧安装在平台上；以及　　　　温度传感器，它与黑面板的暴露侧连接。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：C瓦斯，R舒尔茨，M罗赫连科，
申请(专利权)人：阿特拉斯材料测试技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]