【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种发射光线的装置,它具有线状设置的反射光线的数个机构。本专利技术还涉及一种具有这种发射光线的装置和一个或多个摄像机的测量装置以及一种用于检测沿着检测平面旁边通过的材料带上的缺陷和/或不均匀性的系统。
技术介绍
在现有技术中已知用于检测沿着检测平面旁边通过的材料带的缺陷和/或不均匀性的系统,这些系统具有发射直线光的装置。在此通过直线光产生成束的光,它在材料带上产生大多垂直于材料带延伸的射线。通过这样的系统例如可以检查一个沿着检测面旁边通过的纸带,其中最好使用一个或多个行摄像机,用于通过检测材料带上的亮度差以反射或透射方法确定缺陷和/或不均匀性(例如薄点、飞物夹杂或污粒等)。在反射方法中不仅发射装置而且摄像机都设置在材料带的同一侧上,而在透射方法中它们设置在材料带的不同侧面上。例如由WO 2004/006560和US 6,880,952 B2已知用于发射直线光的装置。
技术实现思路
本专利技术的目的是,提供一种发射直线光的装置或一种测量装置,它能够以更方便的方式维护。这个目的通过(1)一种发射光线的装置,具有线状设置的反射光线的机构,其中,具有模块单元 ...
【技术保护点】
一种发射光线的装置,具有线状设置的反射光线的机构(3;4),其特征在于,具有模块单元(2),它们支承反射光线的机构(3)。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗兰帕拉茨基,米夏埃尔施帕茨,
申请(专利权)人:得克斯玛格有限责任公司贸易公司,
类型:发明
国别省市:CH[瑞士]
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