【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种，属于固体荧光光谱测量 B.Schaudel，P.Goldner et al.，J.of Alloys and Compounds，300-301(2000)，443. P.C.de Oliveira，A.E.Perkins et al.，Opt.Lett.，21(1996)，1685. W.Deng，D.S.Wiersma et al.，Phys.Rev.B，56(1997)，178.
技术实现思路
本专利技术旨在提出一种，该方法不需对测试样品进行严格尺寸加工，探测过程简便；保证了样品中不同深度功率密度相同，荧光采样与样品的实际尺寸无关，测量结果真实本专利技术是通过以下技术方案加以实现的一种，采用包括缩束准直器，双透镜4f成像系统，滤波器(可选)和光纤探测器进行探测固体荧光，其特征在于包括以下过程将激发光束经缩束准直器形成光斑直径小于1mm的平行光束，沿样品测量面边缘一侧平行入射激发样品发射荧光，样品发出的荧光在与激发光垂直方向上被双透镜成像系统汇聚和成像在该系统的后焦平面上，在荧光像处的最大荧光位置放置芯径小于200微米的光纤探测...
【技术保护点】
一种平行光激发与垂直光纤探测固体荧光的方法，采用包括缩束准直器，双透镜４ｆ成像系统，滤波器和光纤探测器进行探测固体荧光，其特征在于包括以下过程：将激发光束经缩束准直后形成光斑直径小于１ｍｍ的平行光束，沿样品测量面边缘一侧平行入射激发样品发射荧光，样品发出的荧光在与激发光垂直方向上被双透镜成像系统汇聚和成像在该系统的后焦平面上，在荧光像处的最大荧光位置放置芯径小于２００微米的光纤探测器探测荧光。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：柴路，王清月，薛迎红，颜石，刘庆文，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：发明
国别省市：12[]
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