荧光测量用固体托架制造技术

一种荧光测量用固体托架包括托架体及盖体，托架体、盖体均为石英透明材料，托架体上开有样品凹槽，托架体一端设有延伸凹槽，用来托住和压紧盖体。使用时，将所需测量的固体样品放入托架体上的凹槽中，再用盖体盖好，之后放入荧光测量设备中进行测量。本实用新型专利技术的荧光测量用固体托架结构简单，具有样品不易滑落、样品量少、样品可回收的特点，它能节省样品，无污染，易清洗，且能防杂光、散光。（*该技术在2016年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种荧光测量用固体托架包括托架体（１）及盖体（３），其特征在于：托架体（１）、盖体（３）均为石英透明材料，托架体（１）的中部开有样品凹槽（２），托架体（１）的一端设有延伸凹槽（４），延伸凹槽（４）的间隙等于盖体（３）的厚度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高希存，
申请(专利权)人：南昌大学，
类型：实用新型
国别省市：36[中国|江西]