光滤波器中峰值补偿的方法和设备技术

技术编号:2582670 阅读:182 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
在一个实施例中,本发明专利技术涉及一种用于确定被样本散射的光子校正波长的方法和系统。该方法包括以下步骤:确定从样本散射的光子波长,该样本曝光在照射光子下并传输通过可调谐滤波器;和校正该光子的被确定的波长作为可调谐滤波器温度的函数和作为可调谐滤波器带通设定值的函数。校正被确定的波长的步骤还可以包括:确定偏移量,和添加该偏移量到光子的被确定的波长。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及光谱和成像的系统和方法以及光谱调制补偿的方法和设备。
技术介绍
光谱成像组合数字成像和分子光谱技术,它可以包括喇曼散射,荧光,光致发光,紫外,可见和红外吸收光谱技术。在应用于材料的化学分析时,光谱成像通常称之为化学成像。用于光谱(即,化学)成像的设备通常包括图像收集光学元件,焦平面阵列成像检测器和成像光谱仪。一般地说,样本尺寸确定图像收集光学元件的选取。例如,为了分析亚微米至毫米空间尺度的样本,通常采用显微镜。对于在毫米至米尺度范围内的较大物体,微距摄像镜头是合适的。对于相对难接近的环境内样本,可以采用柔性光纤镜或刚性管道镜。对于非常大尺度的物体,例如,行星物体,望远镜是合适的图像收集光学元件。为了检测各种光学系统形成的图像,通常采用二维成像焦平面阵列(FPA)检测器。FPA检测器的选取是受描述相关样本采用的光谱技术所确定。例如,在可见光波长荧光和喇曼光谱成像系统中,通常采用FPA型的硅(Si)电荷耦合器件(CCD)检测器,而在近红外光谱成像系统中,通常采用铟镓砷(InGaAs)FPA检测器。人们已设计用于光谱成像系统的各种成像光谱仪。这些例子包括,但不限于,光栅本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于校正光子的被确定的波长的方法,该方法包括以下步骤:确定从样本散射的光子的波长,该样本曝光在照射光子下并传输通过可调谐滤波器;和校正所述一个光子的被确定的波长作为可调谐滤波器的温度的函数和作为可调谐滤波器的带通设定值的函数。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:约翰S麦尔杰森H尼斯肖纳斯图尔特
申请(专利权)人:凯米映像公司
类型:发明
国别省市:US[美国]

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