使用离子束制造扫描探针显微镜和临界尺寸扫描探针显微镜纳米针探针的方法与由其制造的技术

本发明专利技术涉及一种使用离子束制造扫描探针显微镜（ＳＰＭ）的方法以及由其制造的纳米针探针，该离子束优选为聚焦的离子束。更具体而言，本发明专利技术涉及一种制造ＳＰＭ纳米针探针的方法和由其制造的ＳＰＭ纳米针探针，该探针能够容易地调整，以使附着于ＳＰＭ纳米针探针尖端上的纳米针具有期望的指向，且该探针能够容易被准直，使附着于ＳＰＭ纳米针探针尖端上的纳米针沿着期望的指向。而且，本发明专利技术涉及一种使用离子束制造临界尺寸ＳＰＭ（ＣＤ－ＳＰＭ）纳米针探针的方法和由其制造的ＣＤ－ＳＰＭ，该探针能够精确地扫描纳米尺度的样品物体的侧壁，该离子束优选为聚焦的离子束。更具体而言，本发明专利技术涉及一种制造ＣＤ－ＳＰＭ纳米针探针的方法和由其制造的ＣＤ－ＳＰＭ纳米针探针，该探针能够通过将附着于ＳＰＭ纳米针探针尖端上的纳米针末端的一部分向着并非附着于ＳＰＭ纳米针探针尖端上的纳米针所延伸出去的初始方向的特定方向弯曲特定角度，来精确地扫描纳米尺度的样品物体的侧壁。一种使用离子束制造扫描探针显微镜（ＳＰＭ）纳米针探针的方法，包括：定位所述探针，使得其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端面向辐照所述离子束的方向；以及通过向其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端辐照所述离子束利用所述离子束平行地排列附着于所述探针的所述尖端上的所述纳米针。一种使用离子束制造临界尺寸扫描探针显微镜（ＣＤ－ＳＰＭ）纳米针探针的方法，包括：使用掩模屏蔽附着于所述探针的尖端上的所述纳米针的特定部分；以及通过在暴露于所述掩模之外的所述纳米针的部分上辐照所述离子束来沿着所述辐照的离子束的方向弯曲暴露于所述掩模之外的所述纳米针的所述部分，以排列所述纳米针的所述部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及使用离子束制造扫描探针显微镜(SPM)纳米针探针的方法和由其制 造的纳米针探针。更具体而言，本专利技术涉及一种制造SPM纳米针探针的方法和由其制造的 SPM纳米针探针，该探针能够容易地被调整，以使附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针具 有期望的指向，且该探针能够容易被准直，使附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针沿着 期望的指向。而且，本专利技术涉及一种使用离子束制造临界尺寸SPM(OT-SPM)纳米针探针的方法 和由其制造的CD-SPM，该探针能够精确地扫描纳米尺度的样品物体的侧壁。更具体而言，本 专利技术涉及一种制造⑶-SPM纳米针探针的方法和由其制造的⑶-SPM纳米针探针，该探针能 够通过将附着于SPM纳米针探针尖端上的纳米针末端的一部分向着除了附着于SPM纳米针 探针尖端上的纳米针所延伸出去的初始方向之外的特定方向弯曲特定角度，来精确地扫描 纳米尺度的样品物体的侧壁。
技术介绍
下文中，术语“纳米针”包括术语“纳米管”和“纳米线”所指的内容。SPM是一种在纳米尺度技术中使用的装置，其功能非常强大且有用，而且很精密。 SPM分成多种，例如利用施加于探针和样品物体之本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使用离子束制造扫描探针显微镜（ＳＰＭ）纳米针探针的方法，包括：　　　　定位所述探针，使得其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端面向辐照所述离子束的方向；以及　　　　通过向其上附着有所述纳米针的所述探针的尖端辐照所述离子束，与所述离子束平行地排列附着于所述探针的所述尖端上的所述纳米针。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：朴丙天，郑基永，宋元永，洪在完，吴范焕，安商丁，
申请(专利权)人：韩国标准科学研究院，
类型：发明
国别省市：KR[韩国]