【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种半导体激光吸收光谱气体分析方法，所述方法包括以下步骤：ａ．确定半导体激光器的工作电流范围和工作温度范围；ｂ．把所述半导体激光器的工作温度范围划分为至少二个工作温度区间，使任一工作温度区间对应被测气体的至少一条吸收谱线；ｃ．测得所述半导体激光器的工作温度Ｔ↓［ｗｏｒｋ］，确定与所述工作温度Ｔ↓［ｗｏｒｋ］所在的由步骤ｂ确定的工作温度区间对应的吸收谱线；ｄ．根据半导体激光器的工作温度Ｔ↓［ｗｏｒｋ］和步骤ｃ确定的吸收谱线的中心频率，确定并调整半导体激光器的工作电流；ｅ．半导体激光器发出的光穿过被测气体并被传感器接收；对接收到的光信号进行吸收光谱分析，进而得到被测气体的被测参数并显示。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王健，顾海涛，刘立鹏，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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