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检定分析物的设备和方法技术

技术编号:2581811 阅读:159 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种用于检定和/或定量测定分析物(6)的设备以及一种相应的方法,该分析物包括基质(2)和磁化的纳米颗粒(4),该颗粒呈可移动的排列在基质(2)中或其上,并固定在捕集分子(10)上,该捕集分子特异性地结合在分析物(6)上,其中该纳米颗粒(4)在基质(2)中的可移动性受待检定的分析物(6)在捕集分子(10)上结合的影响,并可磁性地读出。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种利用特异性地结合在分析物上的捕集分子(10)来检定和/或定量测定分析物(6)的设备,其特征在于,-基质(2)-至少一种磁化的纳米颗粒(4),该颗粒呈可移动排列在基质(2)中或其上,并固定在捕集分子(10)上,该捕集分子特 异性地结合在分析物(6)上,-其中,该纳米颗粒(4)在基质(2)中的可移动性受待检定的分析物(6)在捕集分子(10)上结合的影响,并可磁性读出该纳米颗粒(4)的经变化的可移动性。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:乔基姆班格特路德维格贝尔托马斯埃本汉斯迪特尔福伊希特克里斯蒂安齐尔赫
申请(专利权)人:西门子公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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