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本发明涉及一种用于检定和／或定量测定分析物（６）的设备以及一种相应的方法，该分析物包括基质（２）和磁化的纳米颗粒（４），该颗粒呈可移动的排列在基质（２）中或其上，并固定在捕集分子（１０）上，该捕集分子特异性地结合在分析物（６）上，其中该纳米...
该专利属于西门子公司所有，仅供学习研究参考，未经过西门子公司授权不得商用。

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