一种超导量子芯片参数自动校准方法及相关组件技术

本发明专利技术公开了一种超导量子芯片参数自动校准方法。该方法中，在获取超导量子芯片的待校准参数的第一校准测量信号的第一范围后，控制测量装置在第一范围内向超导量子芯片发送多个第一校准测量信号，获取超导量子芯片在各个校准测量信号下的第一响应参数，最后，将最优的第一响应参数对应的第一校准测量信号作为待校准参数的第一实际校准参数。该方法有效地解决了由于人工校准造成的校准效率低等问题，实现了对芯片的参数进行全自动校准，具有校准耗时短、重复性工作少、节约人力成本以及校准效率高的优点。本发明专利技术还公开了一种超导量子芯片参数自动校准装置、系统及可读存储介质，具有与上述超导量子芯片参数自动校准方法相同的有益效果。

【技术实现步骤摘要】
一种超导量子芯片参数自动校准方法及相关组件
本专利技术涉及量子计算领域，特别是涉及一种超导量子芯片参数自动校准方法及相关组件。
技术介绍
随着近年来科技的发展，超导量子芯片技术取得了迅猛发展。在超导量子芯片设计完成后，需要进行参数校准，并且是常规化校准，并非校准一次就可以。现有技术中，通常通过人工对超导量子芯片的参数进行校准，但超导量子芯片参数种类比较多，校准工作繁琐耗时，并且因其材料和环境特性导致其需要经常进行校准，采用人工手动校准耗时长、重复性工作多，浪费人力成本并且校准效率低。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种超导量子芯片参数自动校准方法及相关组件，实现了对芯片的参数进行全自动校准，具有校准耗时短、重复性工作少、节约人力成本以及校准效率高的优点。为解决上述技术问题，本专利技术提供了一种超导量子芯片参数自动校准方法，应用于处理器，包括：获取超导量子芯片的待校准参数的第一校准测量信号的第一范围；控制测量装置在所述第一范围内向所述超导量子芯片发送多个所述第一校准测量信号；<br>获取所述超导量本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种超导量子芯片参数自动校准方法，应用于处理器，其特征在于，包括：/n获取超导量子芯片的待校准参数的第一校准测量信号的第一范围；/n控制测量装置在所述第一范围内向所述超导量子芯片发送多个所述第一校准测量信号；/n获取所述超导量子芯片在各个所述校准测量信号下的第一响应参数；/n将最优的所述第一响应参数对应的所述第一校准测量信号作为所述待校准参数的第一实际校准参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种超导量子芯片参数自动校准方法，应用于处理器，其特征在于，包括：
获取超导量子芯片的待校准参数的第一校准测量信号的第一范围；
控制测量装置在所述第一范围内向所述超导量子芯片发送多个所述第一校准测量信号；
获取所述超导量子芯片在各个所述校准测量信号下的第一响应参数；
将最优的所述第一响应参数对应的所述第一校准测量信号作为所述待校准参数的第一实际校准参数。


2.如权利要求1所述的超导量子芯片参数自动校准方法，其特征在于，所述待校准参数包括腔频参数、比特能谱参数、拉比测量参数、Ramsey测量参数、比特磁场串扰参数以及比特线路延时参数中的一种或多种的组合。


3.如权利要求2所述的超导量子芯片参数自动校准方法，其特征在于，所述拉比测量参数包括拉比振荡幅值参数和拉比振荡时长参数。


4.如权利要求1所述的超导量子芯片参数自动校准方法，其特征在于，控制测量装置在所述第一范围内向所述超导量子芯片发送多个所述第一校准测量信号，包括：
控制测量装置以所述第一范围的上限的边界值或者下限的边界值为基准、预设间隔为步长向所述超导量子芯片发送多个所述第一校准测量信号。


5.如权利要求1所述的超导量子芯片参数自动校准方法，其特征在于，将最优的第一响应参数对应的第一校准测量信号作为所述待校准参数的第一实际校准参数之后，还包括：
保存各个所述校准测量信号及各个所述校准测量信号对应的第一响应参数，并绘制各个所述校准测量信号及各个所述校准测量信号对应的第一响应参数之间的测试关系曲线。
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【专利技术属性】
技术研发人员：刘强，金长新，刘幼航，李清石，李彦祯，
申请(专利权)人：济南浪潮高新科技投资发展有限公司，
类型：发明
国别省市：山东;37