一种CPU老化测试平台制造技术

技术编号:25800350 阅读:28 留言:0更新日期:2020-09-29 18:34
一种CPU老化测试平台,在机座中心固定机器人,机器人中部置有相机,机器人顶部置有机械臂,机械臂连接机械手,机座四周固定围栏,机座上部固定机柜,机座左部安装进料输送带、合格产品输出带、不合格产品输出带,上机柜、下机柜、右机柜内固定有柜体工位,柜体工位内置有治具,治具前端下部置有进出产品载盘,进出产品载盘中间置有待测产品,治具前端左部置有PID温度显示器,治具顶端左部置有散热风扇,治具顶端右部置有入风口风扇,治具中心置有上下升降的保温腔体,上下升降的保温腔体内置有温度加热丝。计算机内置有视觉算法定位软件,可以控制机械手实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化自动测试作业。

【技术实现步骤摘要】
一种CPU老化测试平台
本专利技术涉及一种测试平台,具体地说涉及一种在控制计算机内置有视觉算法定位软件,可以控制机械手实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化自动测试作业,根据产能需要可以实现不超过300个CPU产品进行同时老化的一种CPU老化测试平台。
技术介绍
近年来,随着现代核心芯片的研发投入,越来越多的厂商进入芯片产业,各种产品的核心计算单元CPU也达到飞快发展,各种产品的计算处理单元CPU层出不穷,由于产品多样性,复杂性,集成度更高,性能要求越来越超前,其各芯片厂商在产品出厂前必须要做老化测试,对提供产品的可靠性造非常重要,然而现代流水线上CPU的老化测试大多是人工操作,CPU芯片对ESD,EOS属于敏感产品,各个生产企业,产品老化测试多样化,移植性低,通用型几乎没有,产品老化测试产能底,企业效率底下。
技术实现思路
本专利技术的目的是克服现有技术的不足之处,提供一种在控制计算机内置有视觉算法定位软件,可以控制机械手实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化自动测试作业,根据产能需要可以实现不超过300个CPU产品进行同时老化的一种CPU老化测试平台。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种CPU老化测试平台,包括机座,机座中心固定机器人,机器人中部置有相机,机器人顶部置有机械臂,机械臂连接机械手,机座四周固定围栏,机座上部固定上机柜,上机柜底部置有控制计算机,机座下部固定下机柜,机座右部固定右机柜,机座左部安装进料输送带、合格产品输出带、不合格产品输出带,上机柜、下机柜、右机柜内固定有柜体工位,柜体工位内置有治具,不合格产品输出带上安装CPU产品盘,CPU产品盘内置有不合格产品,合格产品输出带上置有合格产品,进料输送带上置有待测产品。治具前端下部置有进出产品载盘,进出产品载盘中间置有待测产品,治具前端左部置有PID温度显示器,治具顶端左部置有散热风扇,治具顶端右部置有入风口风扇,治具中心置有上下升降的保温腔体,上下升降的保温腔体内置有温度加热丝。本专利技术的有益效果是,建立一款开放、灵活的通用的老化测试平台,具有高效、安全、可靠、稳定性强的自动化芯片老化测试系统。解决市场上所有产品的带电老化,老化产能要求大的自动化老化测试需求。本专利技术在控制计算机内置有视觉算法定位软件,控制机械手,可以实现无人工干预的CPU芯片产品的带电老化测试作业,根据产能需要可以实现不超过300个CPU产品同时老化,提升了测试的产能,节省了人力成本,提升企业竞争力。附图说明下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。图1是本专利技术的实施例一的整体俯视结构图。图2是本专利技术的实施例一的机柜正视结构图。图3是本专利技术的实施例一的工装载具结构图。图4是本专利技术的实施例一的工装载具实物图。图中:1.控制计算机,2.上机柜,3.治具,4.围栏,5.机器人,6.相机,7.进料输送带,8.合格产品输出带,9.不合格产品输出带,10.待测产品,11.合格产品,12.不合格产品,13.CPU产品盘,14.柜体工位,15.进出产品载盘,16.PID温度显示器,17.散热风扇,18.上下升降的保温腔体,19.温度加热丝,20.入风口风扇,21.机座,22.机械臂,23.机械手,24.右机柜,25.下机柜。具体实施方式在图1、图2、图3、图4所示实施例中,设置有控制计算机(1),上机柜(2),治具(3),围栏(4),机器人(5),相机(6),进料输送带(7),合格产品输出带(8),不合格产品输出带(9),待测产品(10),合格产品(11),不合格产品(12),CPU产品盘(13),柜体工位(14),进出产品载盘(15),PID温度显示器(16),散热风扇(17),上下升降的保温腔体(18),温度加热丝(19),入风口风扇(20),机座(21),机械臂(22),机械手(23),右机柜(24),下机柜(25)。实施本专利技术的一种CPU老化测试平台,包括机座(21),机座(21)中心固定机器人(5),机器人(5)中部置有相机(6),机器人(5)顶部置有机械臂(22),机械臂(22)连接机械手(23),机座(21)四周固定围栏(4),机座(21)上部固定上机柜(2),上机柜(2)底部置有控制计算机(1),机座(21)下部固定下机柜(25),机座(21)右部固定右机柜(24),机座(21)左部安装进料输送带(7)、合格产品输出带(8)、不合格产品输出带(9),上机柜(2)、下机柜(25)、右机柜(24)内固定有柜体工位(14),柜体工位(14)内置有治具(3),不合格产品输出带(9)上安装CPU产品盘(13),CPU产品盘(13)内置有不合格产品(12),合格产品输出带(8)上置有合格产品(11),进料输送带(7)上置有待测产品(10)。实施本专利技术的一种CPU老化测试平台,治具(3)前端下部置有进出产品载盘(15),进出产品载盘(15)中间置有待测产品(10),治具(3)前端左部置有PID温度显示器(16),治具(3)顶端左部置有散热风扇(17),治具(3)顶端右部置有入风口风扇(20),治具(3)中心置有上下升降的保温腔体(18),上下升降的保温腔体(18)内置有温度加热丝(19)。实施本专利技术的一种CPU老化测试平台,上机柜(2)、下机柜(25)、右机柜(24)内固定的柜体工位(14),每个机柜内的柜体工位(14)至少有3个,最多不超过100个。机械手(23)可以抓取进料输送带(7)上的待测产品(10),并把待测产品(10)放置到治具(3)上的进出产品载盘(15)上,进出产品载盘(15)具有自动伸缩装置,将待测产品(10)自动进入治具(3)内,经过高温老化后的待测产品(10),经控制计算机(1)自动检测后再由进出产品载盘(15)伸出,分为合格产品(11)和不合格产品(12),再由机械手(23)把合格产品(11)抓取后置放到合格产品输出带(8)上,机械手(23)把不合格产品(12)抓取后置放到不合格产品输出带(9)上。控制计算机(1)内置有视觉算法定位软件,可以控制机械手(23)把待测产品(10)放置到各个治具(3)内,控制计算机(1)可以自动检测待测产品(10)为合格产品(11)或不合格产品(12),并控制机械手(23)合格产品(11)抓取后置放到合格产品输出带(8)上,把不合格产品(12)抓取后置放到不合格产品输出带(9)上。实施本专利技术的一种CPU老化测试平台,高温老化测试系统主要集成以下功能:具有基于虚拟仪器技术的人机友好交互界面的设计;基于虚拟仪器技术的电机载具运动控制系统;基于PLC实现六轴机械手运动控制系统;基于视觉定位补偿技术的取放位置校准技术;PID温控表微电脑显示器,温度解析能力0.1℃,温度控制精度±1℃,能显示窗温度设定值、温度实际值、电热功率输出比。采用P.I.D自动验算控制,采用伸缩抽屉进出的方式取放产品。老化柜,又称为烧机柜是半成品、成品类借着Burnin/Runin(预烧)来移除早期失效不合格之零组件产品,而使产品进入市场后可靠性相本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种CPU老化测试平台,包括机座(21),其特征在于,在所述机座(21)中心固定机器人(5),机器人(5)中部置有相机(6),机器人(5)顶部置有机械臂(22),机械臂(22)连接机械手(23),机座(21)四周固定围栏(4),机座(21)上部固定上机柜(2),上机柜(2)底部置有控制计算机(1),机座(21)下部固定下机柜(25),机座(21)右部固定右机柜(24),机座(21)左部安装进料输送带(7)、合格产品输出带(8)、不合格产品输出带(9),上机柜(2)、下机柜(25)、右机柜(24)内固定有柜体工位(14),柜体工位(14)内置有治具(3),不合格产品输出带(9)上安装CPU产品盘(13),CPU产品盘(13)内置有不合格产品(12),合格产品输出带(8)上置有合格产品(11),进料输送带(7)上置有待测产品(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种CPU老化测试平台,包括机座(21),其特征在于,在所述机座(21)中心固定机器人(5),机器人(5)中部置有相机(6),机器人(5)顶部置有机械臂(22),机械臂(22)连接机械手(23),机座(21)四周固定围栏(4),机座(21)上部固定上机柜(2),上机柜(2)底部置有控制计算机(1),机座(21)下部固定下机柜(25),机座(21)右部固定右机柜(24),机座(21)左部安装进料输送带(7)、合格产品输出带(8)、不合格产品输出带(9),上机柜(2)、下机柜(25)、右机柜(24)内固定有柜体工位(14),柜体工位(14)内置有治具(3),不合格产品输出带(9)上安装CPU产品盘(13),CPU产品盘(13)内置有不合格产品(12),合格产品输出带(8)上置有合格产品(11),进料输送带(7)上置有待测产品(10)。


2.根据权利要求1所述的一种CPU老化测试平台,其特征在所述治具(3)前端下部置有进出产品载盘(15),进出产品载盘(15)中间置有待测产品(10),治具(3)前端左部置有PID温度显示器(16),治具(3)顶端左部置有散热风扇(17),治具(3)顶端右部置有入风口风扇(20),治具(3)中心置有上下升降的保温腔体(18),上下升降的保温腔体(18)内置有温度加热丝(19)。

...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢建升韩俊盛银
申请(专利权)人:苏州高测智能系统有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1