电子产品抗冲击性能测试装置制造方法及图纸

公开了一种电子产品抗冲击性能测试装置，包括：机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；电磁释放器，固定在所述机架顶部；夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。本公开采用电子散斑干涉技术测试电子产品受到冲击时形变场的分布，可有效明确电子产品对于外界冲击力所具有的抵御能力及失效点。

【技术实现步骤摘要】
电子产品抗冲击性能测试装置
本公开涉及一种电子产品抗冲击性能测试装置。
技术介绍
大部分电子产品由于经常被使用，因此无形中增大了其碰撞与损坏的可能，为了提升电子产品的质量，应对其抗损伤能力进行强化。因此，在可靠性检测过程中，应进行产品破坏性测试，有效明确产品对于外界冲击力所具有的抵御能力及失效点，为产品外形设计，外壳、屏幕、零部件等材料的选择提供可靠的参考，从而实现产品抗冲击能力的提升。在电子行业中，为了保证电子产品的抗冲击性能，一般要求其通过某种通用的标准测试。适用的标准有，美国实验与材料协会(AmericanSoci-etyforTestingandMaterials,ASTM)提供的ANSI/ASTMD3332-93“使用冲击试验机测定产品脆值的实验方法”；美国国防部的军用标准MILI-STD-810F“环境考虑的测试方法标准和实验室测试”；国际电工委员会(InternationalElectrotechnicalCommission，IEC)提供的IEC68-2-27“基本环境试验规程国际标准”；电子工程设计发展联合会(Join本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电子产品抗冲击性能测试装置，其特征在于，包括：/n机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；/n电磁释放器，固定在所述机架顶部；/n夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；/n测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及/n电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。/n

【技术特征摘要】
1.一种电子产品抗冲击性能测试装置，其特征在于，包括：
机架，固定在基座上，所述基座上具有承受电子产品跌落时冲击力的冲击板，所述机架两侧具有轨道；
电磁释放器，固定在所述机架顶部；
夹具，其顶部吸附在所述电磁释放器上，两端置于所述导轨上；
测速装置，用于在所述电磁释放器释放所述夹具后测量所述夹具及其上的电子产品下落速度；以及
电子散斑干涉测量系统，用于获得跌落到所述冲击板上的电子产品的形变场。


2.根据权利要求1所述的电子产品抗冲击性能测试装置，其特征在于，所述电子散斑干涉测量系统包括：
激光器；
分束镜，用于将所述激光器发射的激光分成两束光...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘胜，陈志文，冯铮，徐国粮，马坤，王立成，杨凡，刘俐，
申请(专利权)人：武汉大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42