一种工件超视野识别方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请提出一种工件超视野识别方法、装置、存储介质及电子设备。其通过获取当前图像中的全部像素对应的第一统计结果和工件特征像素对应的第二统计结果，其中，工件特征像素为当前图像中的工件所对应的像素，第一统计结果表征当前图像中的全部像素的总和，第二统计结果表征工件特征像素的总和；在依据全部像素的总和与工件特征像素的总和判断工件是否超出了图像的视野范围。通过像素总和进行超视野识别，所得到的识别结果更加精准，有益于后续的监测和检测的开展。

【技术实现步骤摘要】
一种工件超视野识别方法、装置、存储介质及电子设备
本申请涉及图像领域，具体而言，涉及一种工件超视野识别方法、装置、存储介质及电子设备。
技术介绍
近年来，机器视觉技术发展极为迅猛，应用范围比较广，发展前景乐观。机器视觉系统主要应用于汽车生产、电子电路、食品生产等行业，实现如缺陷检测、视觉测量、文字识别等功能。具体地，在采集、识别目标图像的基础上，对目标进行检测、测量或者文字识别等功能。以上相关功能需要依靠图像内容实现，当图像中包含的目标图像不完整时，上述相关功能均会受到影响。因此，如何识别图像中的目标是否超出视野范围，成为了当前急需解决的问题。
技术实现思路
本申请的目的在于提供一种工件超视野识别方法、装置、存储介质及电子设备，以解决上述问题。为了实现上述目的，本申请实施例采用的技术方案如下：第一方面，本申请实施例提供一种工件超视野识别方法，所述方法包括：获取当前图像中的全部像素对应的第一统计结果和工件特征像素对应的第二统计结果，其中，所述工件特征像素为所述当前图像中的工件所对应的像素，所述第本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种工件超视野识别方法，其特征在于，所述方法包括：/n获取当前图像中的全部像素对应的第一统计结果和工件特征像素对应的第二统计结果，其中，所述工件特征像素为所述当前图像中的工件所对应的像素，所述第一统计结果表征所述当前图像中的全部像素的总和，所述第二统计结果表征所述工件特征像素的总和；/n依据所述第一统计结果和所述第二统计结果判断工件是否超出图像的视野范围。/n

【技术特征摘要】
1.一种工件超视野识别方法，其特征在于，所述方法包括：
获取当前图像中的全部像素对应的第一统计结果和工件特征像素对应的第二统计结果，其中，所述工件特征像素为所述当前图像中的工件所对应的像素，所述第一统计结果表征所述当前图像中的全部像素的总和，所述第二统计结果表征所述工件特征像素的总和；
依据所述第一统计结果和所述第二统计结果判断工件是否超出图像的视野范围。


2.如权利要求1所述的工件超视野识别方法，其特征在于，所述获取当前图像中的全部像素对应的第一统计结果和工件特征像素对应的第二统计结果的步骤，包括：
对所述当前图像进行去背景化处理，以得到仅包含工件特征像素的工件特征图像；
依据所述当前图像获取全部像素对应的所述第一统计结果；
依据所述工件特征图像获取所述工件特征像素的所述第二统计结果。


3.如权利要求2所述的工件超视野识别方法，其特征在于，依据下列算式对所述当前图像进行去背景化处理，以得到仅包含工件特征像素的工件特征图像：
P(m,n)＝1,T∈(K,R)
B(m,n)＝0,T∈(0,K)
其中，P(m，n)表示工件特征像素；B(m，n)表示背景像素；T表示每一个像素点的灰度值；K表示前景特征与背景分割的灰度阈值；R表示工件特征的灰度阈值。


4.如权利要求2所述的工件超视野识别方法，其特征在于，依据下列算式获取所述第一统计结果和所述第二统计结果：






其中，S2表示第二统计结果；t表示工件特征像素的总数量；Py表示第y个工件特征像素；S1表示第一统计结果；r表示全部像素的总数量；Qy表示第y个像素。


5.如权利要求1所述的工件超视野识别方法，其特征在于，所述依据所述第一统计结果和所述第二统计结果判...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宇，廖菲，吴智恒，李平，童季刚，罗良传，
申请(专利权)人：广东省智能制造研究所，
类型：发明
国别省市：广东;44