一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具制造技术

本实用新型专利技术公开了一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体，主体一侧的中部开设有圆形通道，圆形通道的内部滑动连接有翻转圆筒，主体一侧顶部的一侧固定安装有光源开关，主体的顶部固定安装有与圆形通道的顶部相通的半导体检测显微镜，本实用新型专利技术一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，通过调节键控制翻转圆筒活动与固定，操控翻转圆筒抽拉和旋转，实现对半导体的拆装和旋转，便于半导体检测操作，使用方便，提高检测效率；在主体内部对半导体进行检测，环形照明灯提供光源，减少了外界环境对检测的影响，提高检测质量；通过调节治具的大小，实现治具适用于不同大小的半导体，提高使用范围。

【技术实现步骤摘要】
一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具
本技术涉及涉及电子
，具体为一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具。
技术介绍
随着经济的繁荣昌盛，人们生活水平的不断的提高，生产技术的发展越来越好，人们对自己时间的利用越来越苛刻，生活中，我们对于设备的要求越来越高，希望能够通过对设备的创新来提高设备的工作效率，减少工作时间，提高使用效率，使之发挥出最大的价值，随着科技的发展，便于调节大小的半导体检测用翻转治具有了很大程度的发展，它的发展给人们在对工厂车间进行清理吸尘时带来了很大的便利，其种类和数量也正在与日俱增。目前市场上的便于调节大小的半导体检测用翻转治具虽然种类和数量非常多，但是大多数的半导体检测设备只有人工通过镊子夹取半导体放置在放大镜下进行检测，检测一面后进行翻转，再检测另一面，操作麻烦，受外界环境影响较大，而且使用镊子夹取半导体需要对使用的力量精确把控，容易导致半导体损坏，这很大程度的限制了半导体检测设备的使用范围。
技术实现思路
本技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，以解决上述本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体(1)，其特征在于：所述主体(1)一侧的中部开设有圆形通道(20)，所述圆形通道(20)的内部滑动连接有翻转圆筒(3)，所述主体(1)一侧顶部的一侧固定安装有光源开关(22)，所述主体(1)的顶部固定安装有与圆形通道(20)的顶部相通的半导体检测显微镜(2)，且所述圆形通道(20)与半导体检测显微镜(2)的连接处固定安装有环形照明灯(19)，所述环形照明灯(19)通过光源开关(22)与外接电源电性连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体(1)，其特征在于：所述主体(1)一侧的中部开设有圆形通道(20)，所述圆形通道(20)的内部滑动连接有翻转圆筒(3)，所述主体(1)一侧顶部的一侧固定安装有光源开关(22)，所述主体(1)的顶部固定安装有与圆形通道(20)的顶部相通的半导体检测显微镜(2)，且所述圆形通道(20)与半导体检测显微镜(2)的连接处固定安装有环形照明灯(19)，所述环形照明灯(19)通过光源开关(22)与外接电源电性连接。


2.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述翻转圆筒(3)包括前圆板(5)、后圆板(6)、两个活动治具(8)和把手(14)，所述前圆板(5)一侧的两端分别通过滑杆(7)与后圆板(6)一侧的两端固定连接，两个所述滑杆(7)一侧穿过两个活动治具(8)一侧的两端开设的圆孔(16)，所述前圆板(5)的另一侧固定连接有把手(14)。


3.根据权利要求2所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述把手(14)远离前圆板(5)的一端固定安装有调节键(13)，所述调节键(13)的一端通过活动杆穿过把手(14)与前圆板(5)内部的伸缩力臂(15)的一端活动连接，所述伸缩力臂(15)的另一端通过滑块与活动杆表面开设的滑槽滑动连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱永兵，
申请(专利权)人：天津海瑞电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12