【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及--种贵金属材料的测定技术，尤其涉及一种用等离子体原子发射 光谱仪测定高纯金中杂质的方法。
技术介绍
随着国内外分析检测技术的发展，各检测企业为适应市场激烈竞争也相应提高了其产品的分析检测水平，目前我国高纯金的分析方法(主要测定高纯金中Ag、 Bi、 Cr、 Pb、 Sb、 Pd、 Si、 Mg、 Cu、 Fe、 Ni、 Mn、 As、 Sn共14种杂质的含量) 是按照国家标准GB/T11066—89进行的，其分析仪器主要为原子吸收光谱仪和电 弧光源发射光谱仪，样品分析处理过程复杂，耗时长，耗用试剂及玻璃器皿较多。在金及其合金中杂质元素的测定方法中，分光光度法、原子吸收光谱法以及 电弧激发、摄谱分析法均有应用。但这些测定方法均存有缺陷前2种测定方法 的缺陷是要逐一的去测定各种杂质，总测定结果速度慢；电弧激发、摄谱测定法则 对合金成份影响较大，配制标准试样需高纯金等基体，金标准及试样损耗相对较大。高纯金的测定方法的前处理工作是整个分析工作中非常关键的一步，占整个 测定过程的2/3时间之多。在这一过程中按以往的测定方法模式很容易使试样受 到"玷污"，从...
【技术保护点】
一种用等离子体原子发射光谱仪测定高纯金中杂质的方法，其特征在于方法步骤如下： １）预置洁净的测试环境； ２）取高纯金试样并清洁试样，干燥待用； ３）称取一个单位的样品于２００ｍｌ石英烧杯中，加入王水，加热低温溶解，待试样完全溶解后转入１００ｍｌ容量瓶中，补加盐酸，用去离子水定容到刻度，得到试样溶液； ４）分取试样溶液于两支以上的２５ｍｌ比色管中各１５ｍｌ，依次成倍数关系加入各待测元素混合的金标准溶液，用去离子水定容；得到浓度由低到高的试样溶液； ５）将等离子体原子发射光谱仪开机预热半小时，开启循环水泵，打开分析控制软件，设置工作参数，点击“点火”按钮，形成稳定的等离子炬焰；...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：王新业，郅富国，许丽娟，严素荣，
申请(专利权)人：北京有色金属与稀土应用研究所，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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