【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】检测装置及检测方法
本专利技术涉及检测
,特别是涉及一种检测装置及检测方法。
技术介绍
工生产中,产品表面的缺陷是通过2D机器视觉或者3D机器视觉进行检测的。其中,基于2D的机器视觉只能够实现某一平面内的定位、测量、表面缺陷检测等功能,无法对凹坑等三维缺陷进行检测,即若测量其尺寸(凹坑的宽、高、面积及周长等信息)便无法测得其深度(垂直于物体表面的方向)信息,而要检测出其深度信息通常会无法检测出其尺寸信息。基于单目的3D机器视觉需要结合结构光,且需要多次拍照以建立被测物体的3D模型再进行检测,其需要移动相机位置多次拍照,硬件成本较高、算法难度高、执行效率较低、检测精度也较低。
技术实现思路
本申请主要解决的技术问题提供一种检测装置及检测方法,以低算法难度实现高精度且高效率的凹坑检测。为解决上述技术问题,本申请采用的一个技术方案是:提供一种检测装置,包括:图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;旋转单元,用于放置所述被检测物体并带动所述被检测物体旋转,以使所述图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的图像;及处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,用于从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数。为解决上述技术问题,本申请采用的另一个技术方案是:提供一种检测装置的检测方法,包括:控制被检测 ...
【技术保护点】
一种检测装置,包括:/n图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;/n旋转单元,用于放置所述被检测物体并带动所述被检测物体旋转,以使所述图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的凹坑图像;及/n处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,用于从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
【国外来华专利技术】一种检测装置,包括:
图像采集单元,用于采集被检测物体的图像;
旋转单元,用于放置所述被检测物体并带动所述被检测物体旋转,以使所述图像采集单元对所述被检测物体上的同一凹坑采集至少两张图像,以得到完整的所述同一凹坑的凹坑图像;及
处理单元,与所述旋转单元及所述图像采集单元连接,用于从所述图像采集单元获得所述被检测物体的凹坑图像及从所述旋转单元获取对应于所述凹坑图像的旋转角度,根据所述凹坑图像及所述旋转角度得到所述凹坑的参数。
根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述旋转单元包括旋转平台及控制所述旋转平台旋转的控制单元,所述旋转平台用于放置所述被检测物体,所述控制单元用于获取所述图像采集单元采集所述被检测物体的凹坑图像时所述旋转平台的旋转角度并输出给所述处理单元。
根据权利要求2所述的检测装置,其中,所述处理单元包括旋转角度检测子单元,用于从所述控制单元接收所述旋转角度并从所述旋转角度中找到最大值与最小值,将所述旋转角度的最大值与最小值之差作为所述凹坑的对应中心角参数。
根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述处理单元还包括标定转换子单元,用于从所述图像采集单元接收所述被检测物体的凹坑图像并将所述凹坑图像的像素数据转换为实际坐标数据。
根据权利要求4所述的检测装置,其中,所述处理单元还包括凹坑高度检测子单元,用于检测所述凹坑凹面上平行于所述被检测物体的中心轴方向上的两边缘点之间的距离,作为所述凹坑的高度。
根据权利要求5所述的检测装置,其中,所述处理单元还包括凹坑深度检测子单元,用于检测所述凹坑凹面上的点到所述凹坑凹面平行于所述被检测物体的中心轴方向上的两边缘点所在直线的距离,作为所述凹坑的深度。
根据权利要求6所述的检测装置,其中,所述待检测物体为圆柱体时,所述凹坑的面积满足公式:
S为所述凹坑的面积,θ为所述旋转单元的旋转角度,θ
1为所采集的图像中第一次出现所述凹坑时所述旋转单元的旋转角度,θ
2为所采集的图像中最后一次出现同一凹坑时所述旋转单元的旋转角度,h(θ)为不同旋转角度下对应的所述凹坑的高度,r为所述圆柱体的半径,d为不同旋转角度下对应的所述凹坑的深度。
根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述检测装置还包括光源单元,与所述图像采集单元及所述被检测物体位于同一直线上,且位于远离所述图像采集单元的一端,所述光源单元的发光面对准所述图像采集单元。
根据权利要求1所述的检测装置,其中,所述被检测物体为中心对称且表面有凹坑的物体,所述图像采集单元为工业相机,所述旋转单元中的控制单元为电机。
技术研发人员:牛立涛,
申请(专利权)人:深圳配天智能技术研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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