本发明专利技术公开了一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，具体为：ａ．使用特定光纤和透过光纤连接光源与被测光谱仪，从而分别得到特定光谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配，所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内；ｂ．比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂散光比率。本发明专利技术还公开了一种用于实施上述方法的装置。本发明专利技术具有方法设计合理，能有效、快速的测定杂散光比率，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的优点，可广泛应用于光谱仪性能的检测中。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种光谱仪的检测方法及装置，特别涉及一种测定光谱仪中杂 散光比率的方法及装置。
技术介绍
测试光谱仪杂散光比率时，选择某些在测试波长处不透明的溶液，将光穿 过溶液，在被检测光谱仪上测试该测试波长下的光强，即为该光谱仪在测试波 长下的杂散光光强，将杂散光光强与不穿过溶液时得到的光强相比较，得到杂 散光比率。根据中华人民共和国国家计量检定规程——《JJG 689-1990紫外、可见、 近红外分光光度计》和美国国家材料试验协会提供的评估方法^ASTME 387《Standard Test Method for Estimating Stray Radiant Power Ratio of Dispersive Spectrophotometers by the Opaque Filter Method》，对于紫夕卜(UV)波段，测试 220nm处的杂散光比率时，选择lcm光程的10g/L的碘化纳溶液；测试340nm处的 杂散光比率时，采用lcm光程的50g/L的亚硝酸钠溶液。可见光(VIS)波段，测 试620nm处的杂散光比率时，采用lcm光程的0.005。/。的亚甲基蓝溶液。近红外(N1R)波段，测试1690nm处的杂散光比率时，采用5cm光程的二溴甲烷(CH2Br2)溶液。上述方法有如下不足1、 配制溶液首先需要称重，然后再配制溶液，操作人员的个体差异会导致 浓度存在较大偏差，测定误差大。2、 测定方法危害性大，采用的这些溶液多是易挥发、有毒的物质，如亚硝 酸钠是一种致癌物质，二溴甲垸是易挥发的有毒物质。这些溶液的回收也是一 个难题， 一般直接排放，污染环境。3、 可测定波长少， 一种溶液一般只能测试一个波长，如二溴甲烷只能用于 1690nm处杂散光的测定。4、 测定过程烦琐，配制溶液需要一定的时间。溶液不容易长期保存，每次测定一般要重新进行配制。
技术实现思路
为了解决上述现有技术的不足，本专利技术提供了一种测量误差小，测量速度 快，无毒、无污染，可测定波段多，稳定方便的测定光谱仪中杂散光比率的方 法；还提供了一种结构简单合理，测量误差小，测量速度快，无毒、无污染， 可测定波段多，稳定方便的测定光谱仪中杂散光比率的装置。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案是一种测定光谱仪中杂散光比 率的方法，包括以下步骤a、 使用特定光纤和透过光纤连接光源和被测光谱仪，从而分别得到特定光 谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配；所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光 透明，所述特定波长处于所述工作波段内；b、 比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂 散光比率。本专利技术所述步骤a为使用特定光纤、透过光纤和光开关连接光源和被测 光谱仪，通过所述光开关的选择，从而分别得到特定光谱和透过光谱；所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配 ，所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光 透明，所述特定波长处于所述工作波段内。本专利技术所述特定光纤中含有吸收所述特定波长的光的物质。本专利技术所述物质含有羟基。本专利技术所述特定波长为1390nm、 2200nm中的至少一个。本专利技术解决上述技术问题所采用的技术方案还是一种测定光谱仪中杂散光 比率的装置，包括特定光纤、透过光纤、与被测光谱仪工作波段相匹配的光源；所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光 透明，所述特定波长处于所述工作波段内。本专利技术所述装置还包括与所述特定光纤和透过光纤相连接的光开关。本专利技术所述不透明是指所述特定波长的光在所述特定光纤中的透过率小于0.001%。本专利技术与现有技术相比，具有以下有益效果1、 本专利技术采用对特定波长的光存在强吸收的特定光纤，特定光纤在特定波 长处不透明，从而实现对特定波长杂散光比率的快速测定。光纤连接光谱仪即可测试，光纤性质稳定，不会因为操作人员的人为原因 产生偏差，测定误差小，可再现性好。2、 装置无毒无挥发，不会造成人身伤害和环境污染。3、 可以一次完成多个波段的杂散光比率测定，提高了工作效率。4、 使用方便快捷，无须配制溶液和使用比色皿等附件，储藏和运输方便， 处理方式与普通光纤相同。附图说明图1为实施例1中装置的结构示意图； 图2为实施例1中装置的另一结构示意图； 图3为实施例2中装置的结构示意图； 图4为实施例中的特定光谱图； 图5为实施例中的透过光谱图。 具体实施例方式以下实施例对本专利技术的方法、步骤、工具和应用等情况做了进一步的说明， 是本专利技术比较好的应用形式，但是本专利技术的范围并不局限在以下的实施例。实施例1:如图l、 2所示， 一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，包括钨灯l、可与钩灯1相连接的特定光纤3和透过光纤4。被测光谱仪2为SWIR-100 (Focused Photonics, Inc.),该被测光谱仪2的工 作波段为1000-2500nm。钨灯1的工作波长范围为400-3000nm，从而与所述被 测光谱仪2的工作波段相匹配。所述特定光纤3由含有高浓度羟基的石英构成，所述羟基的浓度为 1000ppm，特定光纤3的长度为5m，确保了对特定波长为1390nm、 2200nm的光的完全吸收；透过光纤4由石英构成(受工艺影响，可能含有低浓度的羟基)， 从而使特定波长为1390nm、 2200nm的光很好透过。本实施例还揭示了一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，也即上述装置的 应用过程，包括以下步骤a、 如图1所示，用所述特定光纤3连接钨灯1和被测光谱仪2，鸽灯1发 出的光经特定光纤3进入所述被测光谱仪2，从而得到如图4所示的特定光谱。 可以看出，在特定波长1390nm、 2200nm处的光强很弱，由于特定波长的光已 经被特定光纤3全部吸收，所以得到的光强正是被测光谱仪2在所述特定波长 处的杂散光光强；如图2所示，用透过光纤4连接钨灯1和被测光谱仪2，钩灯1发出的光经 透过光纤4进入所述被测光谱仪2，从而得到如图5所示的透过光谱。可以看出， 在特定波长1390nm、 2200nm处的光强很高，而这正是钩灯1在所述特定波长 处的光强；b、 比较所述特定光谱和透过光谱，从而得到所述被测光谱仪在所述特定波 长1390nm、 2200nm处的杂散光比率。实施例2:如图3所示， 一种测定光谱仪中杂散光比率的装置，该装置包括鸨灯1、特 定光纤3、透过光纤4和光开关5。特定光纤3和透过光纤4的一端与钨灯1相连，特定光纤3和透过光纤4 的另一端与光开关5相连，光开关5与被测光谱仪2相连。本实施例中的特定光纤3、透过光纤4、钨灯1和被测光谱仪2与实施例1 所使用的相同。本实施例还揭示了一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，也即上述装置的 应用过程，包括以下步骤a、如图3所示，钨灯1通过特定光纤3、透过光纤4和光开关5连接被测 光谱仪2，通过所述光开关2，使钨灯l发出的光可选择性地分别通过特定光纤 3和透过光纤4进入被测光谱仪2，从而分别得到如图4、 5所示的特定光谱和 透过光谱；b、比较所述特定光谱和透过光谱，从而得到所述被测光谱仪2在所述特定 波长1390nm、 2200nrn处的杂散光比率。在上述实施例1、 2中，得出被测光谱仪2在特定波长1390本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测定光谱仪中杂散光比率的方法，包括以下步骤： ａ、使用特定光纤和透过光纤连接光源和被测光谱仪，从而分别得到特定光谱和透过光谱； 所述光源与被测光谱仪的工作波段相匹配； 所述特定光纤对特定波长的光不透明，所述透过光纤对所述特定波长的光透明，所述特定波长处于所述工作波段内； ｂ、比较所述特定光谱和透过光谱，得到被测光谱仪在所述特定波长处的杂散光比率。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：叶华俊，刘立鹏，
申请(专利权)人：聚光科技杭州股份有限公司，北京聚光世达科技有限公司，
类型：发明
国别省市：86[中国|杭州]
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