磁性体检查装置制造方法及图纸

该磁性体检查装置(100)通过对磁性体(W)内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体(W)的状态，该磁性体检查装置具备：探测各磁性体(W)的磁场的多个探测线圈(10)；励磁部(11)，针对多个磁性体(W)设置1个该励磁部(11)；以及探测信号输出部(12)，其将基于各磁性体(W)的磁场的探测信号分别输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁性体检查装置
本专利技术涉及一种磁性体检查装置，特别是涉及一种对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。
技术介绍
以往，已知对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。这种磁性体检查装置例如在日本特开2005-89172号公报中有所公开。在日本特开2005-89172号公报中，公开了如下一种磁性体检查装置：该磁性体检查装置具备用于对多条线缆中的各线缆进行引导的多条引导路径，在各引导路径的下侧具备磁化检测部，该磁化检测部具有探测线圈和包含永磁体的励磁部。日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置构成为通过漏磁通法来检查线缆的状态，该漏磁通法为：通过永磁体来使线缆磁化，通过探测线圈来检测从线缆的表面泄漏的磁场。此外，日本特开2005-89172号公报所公开的探测线圈被形成为沿着引导路径的形状的凹曲面形状。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2005-89172号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，日本特开2005-89172号公报所公开的磁本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁性体检查装置，通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，所述磁性体检查装置具备：/n对各所述磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；/n励磁部，针对多个所述磁性体设置1个所述励磁部；以及/n探测信号输出部，其将基于各所述磁性体的磁场的探测信号分别输出。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180308 JP 2018-0420691.一种磁性体检查装置，通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，所述磁性体检查装置具备：
对各所述磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；
励磁部，针对多个所述磁性体设置1个所述励磁部；以及
探测信号输出部，其将基于各所述磁性体的磁场的探测信号分别输出。


2.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
多个所述探测线圈被设置为分别围绕各所述磁性体的周围，
针对多个所述磁性体设置有1个所述励磁部。


3.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述励磁部构成为包围多个所述探测线圈。


4.根据权利要求3所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述探测线圈包含1对差动线圈，
所述励磁部构成为包围多组所述差动线圈。


5.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述磁性体由长条材料形成，
多个所述探测线圈被配置为：在多个所述长条材料延伸的方向上，...

【专利技术属性】
技术研发人员：饭岛健二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP