磁性体检查装置制造方法及图纸

该磁性体检查装置(100)通过对磁性体(W)内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体(W)的状态，该磁性体检查装置具备：探测各磁性体(W)的磁场的多个探测线圈(10)；励磁部(11)，针对多个磁性体(W)设置1个该励磁部(11)；以及探测信号输出部(12)，其将基于各磁性体(W)的磁场的探测信号分别输出。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁性体检查装置
本专利技术涉及一种磁性体检查装置，特别是涉及一种对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。
技术介绍
以往，已知对多个磁性体的状态进行检查的磁性体检查装置。这种磁性体检查装置例如在日本特开2005-89172号公报中有所公开。在日本特开2005-89172号公报中，公开了如下一种磁性体检查装置：该磁性体检查装置具备用于对多条线缆中的各线缆进行引导的多条引导路径，在各引导路径的下侧具备磁化检测部，该磁化检测部具有探测线圈和包含永磁体的励磁部。日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置构成为通过漏磁通法来检查线缆的状态，该漏磁通法为：通过永磁体来使线缆磁化，通过探测线圈来检测从线缆的表面泄漏的磁场。此外，日本特开2005-89172号公报所公开的探测线圈被形成为沿着引导路径的形状的凹曲面形状。现有技术文献专利文献专利文献1：日本特开2005-89172号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题然而，日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置所进行的漏磁通法通过探测线圈来检测从被磁化的线缆的表面漏出的磁场，因此难以准确地探测线缆的内部的损伤、线缆中的不面向探测线圈的部分的损伤。因而，存在难以高精度地检查多个线缆这样的问题。另外，日本特开2005-89172号公报所公开的磁性体检查装置构成为针对每条引导路径设置永磁体，因此存在部件个数增加这样的问题。本专利技术是为了解决如上所述的问题而完成的，本专利技术的1个目的在于提供一种能够抑制部件个数增加、并且能够高精度地检查多个磁性体的状态(有无损伤等)的磁性体检查装置。用于解决问题的方案为了实现上述目的，本专利技术的一个方面的磁性体检查装置通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，该磁性体检查装置具备：对各磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；励磁部，针对多个磁性体设置1个该励磁部；以及探测信号输出部，其将基于各磁性体的磁场的探测信号分别输出。此外，在本专利技术中，磁性体的“损伤等”是指以下的广泛的概念：由于磁性体的错位、局部磨耗、线材断线、凹陷、腐蚀、开裂、扭曲等而产生的相对于探测方向的(包括因在磁性体内部产生了损伤等的情况下的空隙而引起的)截面积的变化；由于磁性体的锈、焊接氧化皮、杂质的混入、组成成分变化等而产生的磁导率的变化；包含磁性体不均匀的部分。另外，磁场的变化是指以下的广泛的概念：通过使磁性体与探测部相对移动而引起的由探测部探测到的磁场的强度的时间性变化；以及通过使向磁性体施加的磁场随时间变化而引起的由探测部探测到的磁场的强度的时间性变化。本专利技术的一个方面的磁性体检查装置如上所述那样具备对各磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈以及针对多个磁性体设置有1个的励磁部。在此，在基于全磁通法的磁性体的检查中，通过测定磁性体内部的磁通(全磁通)来进行检查。因而，不论损伤等位于磁性体的哪个位置，都能够基于磁性体内部的磁通的变化来探测损伤。通过如上所述那样构成，能够通过对各磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈来分别探测从各磁性体产生的磁场。其结果，能够通过全磁通法来检查多个磁性体的状态(有无损伤等)，因此与使用测定从磁性体的表面泄漏的磁通的漏磁通法来检查多个磁性体的状态(有无损伤等)的情况相比，能够高精度地检查多个磁性体的状态(有无损伤等)。另外，能够通过1个励磁部来一次对多个磁性体施加磁场，因此与针对1个探测线圈(磁性体)设置1个励磁部的情况相比，能够抑制部件个数增加。因而，能够抑制部件个数增加，并且能够高精度地检查多个磁性体的状态(有无损伤等)。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，多个探测线圈被设置为分别围绕各磁性体的周围，针对多个磁性体设置有1个励磁部。如果这样构成，则能够通过1个励磁部对分别被探测线圈围绕着周围的多个磁性体施加磁场。其结果，在磁性体检查装置中，能够将各探测线圈配置于磁性体所经过的各区域，因此与各探测线圈不围绕磁性体的周围的结构相比，能够抑制装置大型化。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，励磁部构成为包围多个探测线圈。如果这样构成，则能够容易地将多个探测线圈配置于励磁部的内部。其结果，能够利用在励磁部内部产生的磁场来容易且可靠地向多个探测线圈所包围的磁性体施加磁场。在该情况下，优选的是，探测线圈包含1对差动线圈，励磁部构成为包围多组差动线圈。如果这样构成，则即使在使用了多组差动线圈的情况下，也能够通过1个励磁部施加磁场。其结果，能够通过1个励磁部一次对能够抑制来自外部的磁场的影响的差动线圈施加磁场，因此能够提高磁性体的状态(有无损伤等)的检查的精度，并且能够简化装置结构。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，磁性体由长条材料形成，多个探测线圈被配置为：在多个长条材料延伸的方向上，至少相邻的探测线圈之间的位置相互错开，励磁部构成为包围错开位置地配置的多个探测线圈。如果这样构成，则即使在多个长条材料的间隔窄的情况下，也能够通过将多个探测线圈在长条材料延伸的方向上错开地配置来使探测线圈之间在长条材料延伸的方向上交叠地配置。其结果，与不将多个探测线圈在长条材料延伸的方向上错开地配置的情况相比，即使在多个长条材料的间隔窄的情况下也能够使用磁性体检查装置来进行检查，因此能够扩大能够应用磁性体检查装置的范围。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，还具备磁场施加部，该磁场施加部对磁性体施加磁场，来对磁性体施加规定方向的磁场，多个探测线圈构成为探测由磁场施加部预先施加了磁场的磁性体的磁场的变化。如果这样构成，则对磁性体预先施加磁场，因此能够使磁性体的磁化的方向大致固定。其结果，能够降低从探测信号输出部输出的探测信号的噪声，能够提高探测信号的S/N比。因而，通过提高探测信号的S/N比，能够更高精度地检查多个磁性体的状态(有无损伤等)。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，还具备判定部，该判定部基于由探测信号输出部输出的多个探测信号来进行各磁性体的状态的判定，判定部构成为：在由探测信号输出部输出的各探测信号超过了规定的阈值的情况下，按每个磁性体来向外部输出表示各探测信号超过了规定的阈值的阈值信号。如果这样构成，则能够通过确认所输出的阈值信号来容易地判定在磁性体中产生了损伤等的部位(位置)。在上述一个方面的磁性体检查装置中，优选的是，励磁部包含被设置为以包围多个探测线圈的方式缠绕的励磁线圈，励磁线圈构成为沿磁性体延伸的方向施加磁场，多个探测线圈构成为分别探测通过由励磁线圈施加磁场而产生的各磁性体的磁场的变化。如果这样构成，则励磁线圈激励出磁性体的损伤等的部分的磁化的状态，因此能够容易地探测到来自磁性体的损伤等的部分的磁场的变化。特别是，在向励磁线圈流通交流电流等的情况下，磁性体的磁场也随时间变化。因此，无需使磁性体与探测线圈相对移动就能够使探测线圈探测到的磁场发生变化来进行探测。专利技术的效果根据本专利技术，如上所述，能够提供能够抑制部件个数增加、且能够高精度地检查多个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种磁性体检查装置，通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，所述磁性体检查装置具备：/n对各所述磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；/n励磁部，针对多个所述磁性体设置1个所述励磁部；以及/n探测信号输出部，其将基于各所述磁性体的磁场的探测信号分别输出。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20180308 JP 2018-0420691.一种磁性体检查装置，通过对磁性体内部的磁通进行测定的全磁通法来检查多个磁性体的状态，所述磁性体检查装置具备：
对各所述磁性体的磁场进行探测的多个探测线圈；
励磁部，针对多个所述磁性体设置1个所述励磁部；以及
探测信号输出部，其将基于各所述磁性体的磁场的探测信号分别输出。


2.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
多个所述探测线圈被设置为分别围绕各所述磁性体的周围，
针对多个所述磁性体设置有1个所述励磁部。


3.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述励磁部构成为包围多个所述探测线圈。


4.根据权利要求3所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述探测线圈包含1对差动线圈，
所述励磁部构成为包围多组所述差动线圈。


5.根据权利要求1所述的磁性体检查装置，其特征在于，
所述磁性体由长条材料形成，
多个所述探测线圈被配置为：在多个所述长条材料延伸的方向上，...

【专利技术属性】
技术研发人员：饭岛健二，
申请(专利权)人：株式会社岛津制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP