【技术实现步骤摘要】
一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置
本技术涉及一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。
技术介绍
一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质，需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况，现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。对于通过红外光谱仪进行光谱分析的化学物质，研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况，现有的红外光谱仪未配备研究此过程微观结构的谱带变化的附件——红外光谱仪的薄膜材料时温等效性测量装置，因而不能研究在进行拉伸随着温度升高试验时，被测试样在拉伸载荷的作用下发生从一种排列状态转变成另一种排列状态（例如构象、键长、键角等的变化）时，红外谱带的、峰形、峰高的变化情况。不能研究在升温拉伸实验时被测试样随着温度的升高，高聚物自由体积发生变化时某些特定的官能团会发生量的变化过程，这个过程发生时可以用来预测或者验证被测材料玻璃化转变区域的温度范围。本技术是利用现有仪器的光路条件，在相关样品池的可用空间内，完...
【技术保护点】
1.一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置，其组成包括:支撑外框，其特征是：所述的支撑外框与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应，所述的支撑外框与左试样夹具、右试样夹具固定，所述的试样夹具与被测薄膜样品固定，所述的被测薄膜试样因穿过加热筒内部而被加热到所需要的温度，所述的加热筒与温度传感器装置连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置，其组成包括:支撑外框，其特征是：所述的支撑外框与红外光谱仪样品仓的可用空间相对应，所述的支撑外框与左试样夹具、右试样夹具固定，所述的试样夹具与被测薄膜样品固定，所述的被测薄膜试样因穿过加热筒内部而被加热到所需要的温度，所述的加热筒与温度传感器装置连接。
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【专利技术属性】
技术研发人员：李子帙，赵玉华，徐志乐，
申请(专利权)人：哈尔滨理工大学，
类型：新型
国别省市：黑龙江;23
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