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一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。通过红外光谱仪进行光谱分析的薄膜类化学物质，需要研究各种聚合物在温度逐渐升高时同时受到拉伸力作用的过程中的微观结构变化的情况，现有的红外光谱仪未配备这种测量装置。一种用于测量薄膜材料时温等效性的装置。其...
该专利属于哈尔滨理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过哈尔滨理工大学授权不得商用。

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