用于测量较小的力和位移的测量装置制造方法及图纸

技术编号:2560250 阅读:153 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术的目的是一种用于测量较小力和位移的测量装置,在所述装置主体(1)内具有包含光源(4)和感受位置的检测器(5)的检测器装置,以及包含由要被测量的力加载的弹簧装置(2)和安装到该弹簧装置(2)上的遮光装置(3)的传感装置,该遮光装置在加载到弹簧装置(2)上的力的影响下在检测器装置的光源(4)的光束中运动,该光束指向检测器(5)的工作表面。本发明专利技术特征在于,检测器装置和传感装置布置在普通的夹状装置(8)内,而夹状装置布置在所述装置的主体(1)内。(*该技术在2019年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术的目的是用于测量较小的力和位移的测量装置,在本装置的主体内具有包含光源和感受位置的检测器的检测器装置,以及包含由要被测量的力加载的弹簧装置和安装到该弹簧装置上的遮光装置的传感装置,该遮光装置在加载到弹簧装置上的力的影响下在检测器装置的光源的光束中运动,该光束指向检测器的工作表面。专利公开文本FI963612中公开了一种用于测量在液相和气相交界处形成的薄膜的表面压力的装置。在由这个公开文本所知的装置中,一感受位置的检测器和光源一起被用于检测由要被测量的小的力引起的传感器的位移。然而,在公知的装置中,在较宽的温度范围内补偿由温度造成的误差很难并很繁琐。虽然一部分误差可以用标定步骤和/或例如在装置的控制电路中利用适宜的补偿方案来校正,这些标定及补偿步骤非常繁琐并且费力。其他公知的装置,如普通的微量天平,部件昂贵,其占用空间较大,而不能被当作便携测量装置考虑。本专利技术的目的是提供一种适用于测量例如表面张力及表面压力的较小的力和较小的位移的装置,其中环境温度对测量结果的影响非常小。另外,本专利技术的目的是提供一种具有较小物理尺寸的测量装置,其为便携的并也适用于实验室外面的现场本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于测量较小的力和位移的装置,在所述装置的主体(1)内具有包含光源(4)和感受位置的检测器(5)的检测器装置,以及包含由要被测量的力加载的弹簧装置(2)和安装到该弹簧装置(2)上的遮光装置(3)的传感装置,该遮光装置在加载到弹簧装置(2)上的力的影响下在检测器装置的光源(4)的光束中运动,该光束指向检测器(5)的工作表面,其特征在于,检测器装置和传感装置布置在普通的夹状装置(8)内,而夹状装置布置在所述装置的主体(1)内,所述夹状装置由具有较小的热膨胀系数的材料制成。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:帕沃金努南维科蒙科南
申请(专利权)人:基布罗恩公司
类型:发明
国别省市:FI[芬兰]

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