一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法技术

本发明专利技术提供一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其能够根据物体的颜色信息区分图像中镜面反射区域和漫反射区域并标记出图像中的高光区域，根据反射分离理论对高光区域进行去高光处理。根据图像的纹理信息对去除高光后的图像进行修复。本发明专利技术能够解决实际生活中拍摄照片出现的高光问题，并且还原出去除高光的场景。与传统的方法相比，该方法不需要拍摄大量的图片，大大提高了图像处理的效率。实验表明本方法还可运用与结构光三维测量方法。

【技术实现步骤摘要】
一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法
本专利技术涉及一种结构光测量方法，具体涉及结构光用于高反射率物体的测量领域。
技术介绍
随着社会的发展，技术的革新。由于结构光的三维形貌测量技术具有高精度、高效率且由于非接触式检测对被测物体的损害非常低的优点，该技术越来越多的应用于各行各业。在结构光三维测量中，需要对被测物体投射编码条纹，由编码条纹投射在物体表面从而携带了物体表面的三维纹理信息，通过CCD相机接收图像，而图像条纹的灰度变化即反应了被测物体表面的三维形貌。然而在实际测量过程中，由于某些物体表面对光的反射率过强，而导致图像中产生高光。高光不仅仅使相机饱和，丢失物体表面的纹理信息，同时高光的存在还会影响到后续对图像的处理，影响图像条纹边缘轮廓的提取。而实际的工业测量中，大部分的测量对象往往为高反射率物体。针对这一现状，最早的解决方法是在物体表面喷涂一层降低反射的涂层，然后再进行测量，由于此类方法需要再物体表面喷涂涂层可能会导致测量误差和物体表面损坏等诸多不利结果。另外，也有方法采用减小曝光时间和曝光次数从而达到去除高光的效果，但是这种方本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其特征在于，包括步骤：/n对获得的物体图像进行去高光处理，准确获得图像中的高光区域，对标记好的高光区域进行高光去除处理；/n由于采用的高光去除处理使用的是由像素的值减去镜面分量后获得该像素的漫反射分量，对于高光像素其镜面分量占据像素值中较大的一部分，所以在去除镜面分量后可能获得的漫反射分量很小，导致该高光区域去除高光后变成黑色区域，需要对这类情况进行图像修复；进行图像修复时，根据图像的纹理信息对高光去除后的图像进行修复，以此还原去除高光的真实场景。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其特征在于，包括步骤：
对获得的物体图像进行去高光处理，准确获得图像中的高光区域，对标记好的高光区域进行高光去除处理；
由于采用的高光去除处理使用的是由像素的值减去镜面分量后获得该像素的漫反射分量，对于高光像素其镜面分量占据像素值中较大的一部分，所以在去除镜面分量后可能获得的漫反射分量很小，导致该高光区域去除高光后变成黑色区域，需要对这类情况进行图像修复；进行图像修复时，根据图像的纹理信息对高光去除后的图像进行修复，以此还原去除高光的真实场景。


2.根据权利要求1所述基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其特征在于，通过计算原图像的图像强度和MSF图像强度差值粗略的分类饱和像素和漫反射像素；其中饱和像素由三个部分构成，分别为镜面像素、颜色跃变像素和噪声；粗略分类像素公式为：

（1）
其中i=1，2，3。


3.对所得像素进行精细分类：通过计算相邻像素RGB通道的色度距离和像素点的最大漫反射色度将上述粗略分类的镜面像素细分为高光像素、颜色变化像素和噪声；由于颜色变化像素色度距离较大，判断颜色跃变像素通过如下公式：

（2）



若不满足上式，则说明像素为镜面像素或噪声；由于噪声的最大漫反射色度是恒定的，通过判断相邻像素的最大漫反射色度即可区分高光...

【专利技术属性】
技术研发人员：祝振敏，郑卫华，杨超，章海亮，张福民，
申请(专利权)人：华东交通大学，
类型：发明
国别省市：江西;36