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本发明提供一种基于颜色信息的结构光测量高反射率物体的方法，其能够根据物体的颜色信息区分图像中镜面反射区域和漫反射区域并标记出图像中的高光区域，根据反射分离理论对高光区域进行去高光处理。根据图像的纹理信息对去除高光后的图像进行修复。本发明能够...
该专利属于华东交通大学所有，仅供学习研究参考，未经过华东交通大学授权不得商用。

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