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改进型热电偶温度取样探头制造技术

技术编号:2557534 阅读:200 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种改进型热电偶温度取样探头,包括探头壳体,探头壳体的工作端外表面上均布设置着搪瓷层,该搪瓷层的厚度为0.1-1.0mm。本实用新型专利技术可以有效地延缓热电偶温度取样探头的磨损,延长其使用寿命,降低企业的使用成本。(*该技术在2015年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术属于热电偶(阻)温度取样装置的改进,特别是改进型热电偶温度取样探头
技术介绍
热电偶温度取样探头是工业中用以取得温度数值的一个不可或缺的重要装置,这些取样探头的壳体一般是由金属材料构成的,它常常安装在诸如煤粉管、酸、碱罐中测量温度,往往对其壳体造成严重的磨损或腐蚀,这样,不仅容易给生产企业造成巨大的经济浪费,而且还会因为磨损或腐蚀等问题而造成温度等数值取样不准,而有些取样点又不能随时间修,因而给企业生产造成了严重的隐患。目前使用的热电偶温度取样探头的使用寿命一般为3-6个月,不仅使用寿命短而且造价昂贵。
技术实现思路
本技术的目的在于提供一种改进型热电偶温度取样探头,可以有效地延缓热电偶温度取样探头的磨损,延长其使用寿命,降低企业的使用成本。本技术的目的是这样实现的一种改进型热电偶温度取样探头,包括探头壳体,探头壳体的工作端外表面上均布设置着搪瓷层,该搪瓷层的厚度为0.1-1.0mm。由于在本技术探头壳体的工作端外表面上均布设置着搪瓷层,使本技术不仅能够有效地延缓热电偶温度取样探头的磨损或腐蚀,而且可以极大地延长其使用寿命,经试用,本技术的使用寿命平均可以达到10-19个月,一改过本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种改进型热电偶温度取样探头,包括探头壳体(1),其特征是:探头壳体(1)的工作端外表面上均布设置着搪瓷层(2),该搪瓷层(2)的厚度为0.1-1.0mm。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:李铭
申请(专利权)人:李铭
类型:实用新型
国别省市:65[中国|新疆]

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