半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置制造方法及图纸

技术编号:2556866 阅读:197 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术是一种用于半导体吸收式光纤温度传感器的检测装置。包括有光强控制电路、可与光纤耦合的光源、光纤传感器、光电探测器、信号接收及处理装置,本实用新型专利技术由于采用光强一一时间分隔方法的单光源-单光纤-单探测器的结构,因此其不仅结构简单,节省材料,容易制作,而且可以使输出光强的比值随温度线性变化。本实用新型专利技术是一种方便实用的半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置。(*该技术在2010年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术是一种用于半导体吸收式光纤温度传感器的检测装置,属于光纤温度传感器检测装置的创新技术。现有半导体吸收式光纤温度传感器所用的检测装置,一般是果用波长-时间分隔方法的双光源-单光纤-单探测器的结构和采用光强-空间分隔方法的单光源-双光纤-双探测器的结构,这些结构不仅所用器件材料较多,结构复杂,制作麻烦,而且输出比值信号是非线性的。本技术的目的在于克服上述缺点而提供一种结构简单,节省材料,容易制作,且输出比值信号线性化的半导体吸收式光纤温度检测实验装置。本技术的结构如附图所示,包括有光强控制电路(1)、可与光纤耦合的光源(2)、光纤传感器(3)、光电探测器(4)、信号接收及处理装置(5),其中可与光纤耦合的光源(2)的输入端与光强控制电路(1)的输出端连接,光纤传感器(3)中的入射光纤与可与光源耦合的光源(2)的输出端连接,出射光纤与光电探测器(4)的输入端连接,光电探测器(4)的输出端与信号接收及处理装置(5)的输入端连接。下面结合实施例详细说明本技术的具体结构附图说明图1为本技术的原理框图;图2为本技术的原理图;图3为出射光强(U)随入射光强(I)变化的关系曲线;图4、图5本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种半导体吸收式光纤温度检测线性化实验装置,其特征在于包括有光强控制电路(1)、可与光纤耦合的光源(2)、光纤传感器(3)、光电探测器(4)、信号接收及处理装置(5),其中可与光纤耦合的光源(2)的输入端与光强控制电路(1)的输出端连接,光纤传感器(3)中的入射光纤与可与光源耦合的光源(2)的输出端连接,出射光纤与光电探测器(4)的输入端连接,光电探测器(4)的输出端与信号接收及处理装置(5)的输入端连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:田兴候丽新
申请(专利权)人:广东省化学工业学校
类型:实用新型
国别省市:81[中国|广州]

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