本申请实施例提供一种电子产品的性能调试方法、装置及相关产品，调试方法包括：获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，对调试的部位和调试量进行精准预测，不会造成调过头使产品报废的情况，使得最终产品具有工艺简单，零件少，成本低，可靠性高的优点。
【技术实现步骤摘要】
电子产品的性能调试方法、装置及相关产品
本申请涉及计算机科学领域，尤其涉及一种电子产品的性能调试方法、装置及相关产品。
技术介绍
电子产品在设计、生产和装配过程中，受原材料及加工工艺的不一致性以及生产和装配过程中的误差等因素的影响，产品的性能参数会不满足要求。因此，产品在出厂前必须通过反复调试。为实现产品的反复调试，在产品上必须而配置一些实现反复调试的物理结构，但是，这种物理结构导致产品结构和工艺复杂，零件多，成本高，可靠性差。
技术实现思路
有鉴于此，本申请解决的技术问题之一在于提供一种电子产品的性能调试方法、装置及相关产品，提高计算效率，降低成本。1、一种电子产品的性能调试方法，所述电子产品具有相关于其电磁场的性能，其特征在于，所述方法包括：获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。2、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数之前，所述方法还包括：通过矢量网络分析仪对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数。3、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最优策略包括：调整所述电子产品的物理结构时的调整位置以及调整力度。4、根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，包括：根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。5、根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，包括：根据所述最优策略，控制机电设备对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。6、根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述机电设备包括：磨头、铣刀和激光器中至少一种。7、根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述电子产品具有腔体或者微带结构，以使得所述电子产品具有相关于其电磁场的性能。8、根据权利要求7所述的方法，其特征在于，若所述电子产品具有微带结构，则所述根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，包括：根据所述最优策略，调整所述电子产品的微带结构以改变所述电磁场。9、一种电子产品的性能调试装置，所述电子产品具有相关于其电磁场的性能，其特征在于，所述装置包括：获取单元，用于获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；判断单元，用于判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；分析单元，用于若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；调整单元，用于根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。10、根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述最优策略包括：调整所述电子产品的物理结构时的调整位置以及调整力度。11、根据权利要求9所述的装置，其特征在于，所述调整单元进一步用于根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。12、根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述调整单元进一步用于根据所述最优策略，控制机电设备对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。13、根据权利要求13所述的装置，其特征在于，所述机电设备包括：磨头、铣刀和激光器中至少一种。14、根据权利要求9-13任一项所述的装置，其特征在于，所述电子产品具有腔体或者微带结构，以使得所述电子产品具有相关于其电磁场的性能。15、根据权利要求14所述的装置，其特征在于，若所述电子产品具有微带结构，则所述调整单元进一步用于根据所述最优策略，调整所述电子产品的微带结构以改变所述电磁场。16、一种电子设备，用于对电子产品进行性能调试，所述电子产品具有相关于其电磁场的性能，其特征在于，所述电子设备包括存储器以及处理器，所述存储器上存储有可执行程序，所述处理器运行所述可执行程序时执行如下步骤：获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。17、根据权利要求16所述的电子设备，其特征在于，所述最优策略包括：调整所述电子产品的物理结构时的调整位置以及调整力度。18、根据权利要求16所述的电子设备，其特征在于，所述处理器执行根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数的步骤，包括：根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。19、根据权利要求18所述的电子设备，其特征在于，所述处理器执行根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数的步骤，包括：根据所述最优策略，控制机电设备对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。20、根据权利要求19所述的电子设备，其特征在于，所述机电设备包括：磨头、铣刀和激光器中至少一种。21、根据权利要求16-20任一项所述的电子设备，其特征在于，所述电子产品具有腔体或者微带结构，以使得所述电子产品具有相关于其电磁场的性能。22、根据权利要求21所述的电子设备，其特征在于，若所述电子产品具有微带结构，则所述处理器执本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种电子产品的性能调试方法，所述电子产品具有相关于其电磁场的性能，其特征在于，所述方法包括：/n获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；/n判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；/n若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；/n根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。/n
【技术特征摘要】
1.一种电子产品的性能调试方法，所述电子产品具有相关于其电磁场的性能，其特征在于，所述方法包括：
获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数；
判断所述当前性能参数是否达到所述电子产品合格时具备的目标性能参数；
若所述当前性能参数达不到所述目标性能参数，则对所述电子产品的性能进行分析，生成将所述当前性能参数调整到目标性能参数的最优策略；
根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数之前，所述方法还包括：通过矢量网络分析仪对所述电子产品进行性能测试得到的当前性能参数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最优策略包括：调整所述电子产品的物理结构时的调整位置以及调整力度。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述最优策略，调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，包括：根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述最优策略，对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数，包括：根据所述最优策略，控制机电设备对所述电子产品的物理结构进行切削、打磨、烧灼中至少其一处理，以调整所述电子产品的物理结构以改变所述电磁场，使得所述电子产品具有所述目标性能参数。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈志熙，刘洁，石佳，滕红亮，
申请(专利权)人：南京星火技术有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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