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红外测温贴制造技术

技术编号:2553530 阅读:214 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种红外测温贴,所述红外测温贴为片状,包括测温部和固定部,所述测温部暴露在外,由恒定红外发射率的材料制成,或者其表面涂覆有恒定红外发射率材料的涂层,所述固定部将所述红外测温贴贴附在待测物体表面。本实用新型专利技术通过采用将恒定红外发射率的材料制成的红外测温贴贴在物体表面,然后用红外测温仪对所述红外测温贴的表面温度进行测量,避免了由于待测物体表面红外发射率不同而造成的温度测量误差,并且不必每次测量都调整红外测温仪的红外线发射率,大大提高了工作效率。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种红外温度测量的工具。
技术介绍
传统的温度测量方法是将测量工具与待测物体相接触,然后读出待测 物体的温度值。但是,有些温度测量场合,温度测量工具不容易靠近待测 物体,这样,传统的接触式温度测量方法就不容易实施。后来,人们发现, 绝对零度以上的物体都会辐射出红外线,通过测量物体辐射红外线的大小 就可以得出物体的温度,由此,红外测温技术就诞生了。红外线测温仪就是通过接受物体所辐射出的红外线进行温度测量的, 具有快捷和非接触的优点。但是,物体的红外线发射率对测量结果有着决 定性的影响。而物体的材料种类,表面粗糙度,理化特性等变化均会影响 其红外线发射率。例如,对于一些表面光泽的物体进行红外温度测量,红 外测温仪所接收到的红外线除待测物体自身辐射的红外线之外,还包括反 射过来的红外线,这就会造成测量误差。为了消除这种误差,在使用红外 线测温仪进行温度测量之前,就需要根据具体的被测物体表面特征,对红 外测温仪进行红外线发射率读数调整。同样温度的物体,如表面红外线发 射率不同且测量前未进行正确的红外发射率读数调整,则测量结果会不同, 从而造成测量结果的误差。而红外线发射率读数调本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种红外测温贴,其特征在于,所述红外测温贴为片状,包括测温部和固定部,所述测温部暴露在外,由恒定红外发射率的材料制成,所述固定部将所述红外测温贴贴附在待测物体表面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:刘晓春姚杰
申请(专利权)人:刘晓春
类型:实用新型
国别省市:31[中国|上海]

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