闪存特性分析方法及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种闪存特性分析方法及系统，涉及半导体存储领域，用于实现：通过根据具体的使用环境生成对应测试代码，并由由闪存内置的主控直接运行测试代码，得到的测试结果与闪存实际使用环境中的误差极小。本发明专利技术的有益效果为：测试结果与闪存实际使用环境中的误差极小，解决了现有技术测试环境和使用环境不相符的问题，接近于产品的实际场景，可解决批量的问题，并可以实现脱机数据记录的功能。

【技术实现步骤摘要】
闪存特性分析方法及系统
本专利技术涉及半导体存储领域，特别涉及一种闪存特性分析方法及系统。
技术介绍
NANDFlash作为一种性能优秀的存储设备，受到越来越广泛的应用。不同的厂家不同的产品型号，都有较大的差异，具有不同的特性，对闪存的使用者带来极大的不便。闪存使用者需要根据不同的特性，将闪存使用在不同类型的产品，如：工业级，消费级。另一方面，从原厂购买的物料，并没有提供详细信息。所以使用者就需要研究闪存，做实验得到对应信息。NandFlash的特性的巨大差异，给使用者带来了极大的困难。因此，在使用nandflash之前需要做特性分析等工作。现在常见的解决方法：传统的特性分析方法，挑选数片nandflash颗粒，使用特性分析工具，按照预设的流程做实验，得到基本数据后分析数据，得到此款nandflash的基本特性。这种方法，对于nandflash的特性分析存在较大的问题，a)首先，样本数量太少，实验的结果可能带来误差。且特性分析仪器价钱昂贵，不适合于做批量的实验。b)特性分析仪器不能脱机记录数据，必须通过PC端来实际控制和记录数据；c)特性分析脱离了实际的应用场景。脱离实际的三点：1，eMMC颗粒的通信频率是200MHZ，而特性分析的频率是20MHZ2，控制器不同，特性分析仪器的主控并不是实际的产品的主控3，外壳不同，会导致在高低温实验，即使外部温度条件一直，内部的nandflash温度可能并不一致。综上所述，根据现存分析方法获得的实验结果并不能完全符合实际的场景。
技术实现思路
为至少解决现有技术中存在的技术问题之一，本专利技术的目的在于提供一种闪存特性分析方法及系统，通过根据具体的使用环境生成对应测试代码，并由由闪存内置的主控直接运行测试代码，得到的测试结果与闪存实际使用环境中的误差极小，解决了现有技术测试环境和使用环境不相符的问题。本专利技术解决其问题所采用的技术方案第一方面是：一种闪存特性分析方法，其特征在于，包括以下步骤：S10、将测试代码录入待测试闪存中；S20、所述待测试闪存中的主控运行所述测试代码，执行测试流程；S30、根据所述测试流程获得对应的测试数据。有益效果：测试结果与闪存实际使用环境中的误差极小，解决了现有技术测试环境和使用环境不相符的问题，接近于产品的实际场景，可解决批量的问题，并可以实现脱机数据记录的功能。根据本专利技术第一方面所述的，S10包括：S11、根据目标使用环境生成对应的测试代码；S12、根据所述测试代码生成对应固件。根据本专利技术第一方面所述的，S10包括：S13、通过系统级芯片将所述固件基于对应闪存的传输协议接口录入待测试闪存中。根据本专利技术第一方面所述的，S13包括：通过计算机终端对所述固件基于指定接口下发到所述系统级芯片中。根据本专利技术第一方面所述的，S20包括：S21、所述主控运行所述测试代码，并于系统级芯片建立通信连接；S22、根据所述系统级芯片下发的测试指令，按照定义的测试规则执行测试流程。根据本专利技术第一方面所述的，S22还包括：基于所述主控与所述系统级芯片建立通信连接，根据所述系统级芯片实时获取所述主控执行测试流程的数据。本专利技术解决其问题所采用的技术方案第二方面是：一种闪存特性分析系统，其特征在于，包括：烧录模块，用于将测试代码录入待测试闪存中；闪存主控，用于所述待测试闪存中的主控运行所述测试代码，执行测试流程；回传模块，用于根据所述测试流程获得对应的测试数据。有益效果：测试结果与闪存实际使用环境中的误差极小，解决了现有技术测试环境和使用环境不相符的问题，接近于产品的实际场景，可解决批量的问题，并可以实现脱机数据记录的功能。根据本专利技术第二方面所述的，烧录模块包括：代码单元，用于根据目标使用环境生成对应的测试代码；固件生成单元，用于根据所述测试代码生成对应固件。附图说明图1是根据本专利技术实施例的方法流程示意图；图2是根据本专利技术实施例的系统结构示意图；图3是根据本专利技术实施例一。具体实施方式以下将结合实施例和附图对本专利技术的构思、具体结构及产生的技术效果进行清楚、完整的描述，以充分地理解本专利技术的目的、方案和效果。术语解释：eMMC颗粒内部：主控和nandflash，主控可以运行代码，这个代码可以操作nandflashnandflash，必须要主控来控制，其自己不能独立运行；nandflash：存储介质参照图1，是根据本专利技术实施例的方法流程示意图；脱机方式的流程：1，根据特性分析的实验流程，实现测试代码，2，将测试代码烧入eMMC3，给eMMC供电，eMMC开始工作，运行测试代码4，将得到的实验结果，记录在nandflash预留的block内5，实验完成，将eMMC的实验数据提取6，通过PC端将实验数据分析，得到特性分析结论在线方式的流程：1，根据特性分析的实验流程，实现测试代码，2，PC端和eMMC建立实时通讯3，用户端根据需求来操作nandflash，并得到反馈的数据4，Pc端分析数据，得到特性分析结论参照图2，是根据本专利技术实施例的系统结构示意图，包括：烧录模块，用于将测试代码录入待测试闪存中；闪存主控，用于所述待测试闪存中的主控运行所述测试代码，执行测试流程；回传模块，用于根据所述测试流程获得对应的测试数据。烧录模块包括：代码单元，用于根据目标使用环境生成对应的测试代码；固件生成单元，用于根据所述测试代码生成对应固件。参照图3，是根据本专利技术实施例一，脱机方式的流程：编写测试代码生成eMMC的固件firmwareA通过PC端的工具，USB接口下发到SOC再通过soc的emmc协议接口将最终的固件firmware下载到eMMC内部(整个操作过程可以通过主控soc串口查看执行情况。)将eMMC的排针摘下，单独给emmc的socket的子板供电，即可开始执行测试代码在线方式的流程：(交互式)编写测试代码生成eMMC的固件firmwareB通过PC端的工具，USB接口下发到SOC再通过soc的emmc协议接口FirmwareB在eMMC内部开始运行，并且与SOC建立通信(那么eMMC与soc与PC端一直建立者通讯)PC端则可以发送特定的测试指令，eMMC根据预先定义的规则，执行测试流程测试完成后，将实验数据反馈给主机端。应当认识到，本专利技术的实施例可以由计算机硬件、硬件和软件的组合、或者通过存储在非暂时性计算机可读存储器中的计算机指令来实现或实施。所述方法可以使用标准编程技术-包括配置有计算机程序的非暂时性计算机可读存储介质在计算机程序中实现，其本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种闪存特性分析方法，其特征在于，包括以下步骤：/nS10、将测试代码录入待测试闪存中；/nS20、所述待测试闪存中的主控运行所述测试代码，执行测试流程；/nS30、根据所述测试流程获得对应的测试数据。/n

【技术特征摘要】
1.一种闪存特性分析方法，其特征在于，包括以下步骤：
S10、将测试代码录入待测试闪存中；
S20、所述待测试闪存中的主控运行所述测试代码，执行测试流程；
S30、根据所述测试流程获得对应的测试数据。


2.根据权力要求1所述的闪存特性分析方法，其特征在于，所述S10包括：
S11、根据目标使用环境生成对应的测试代码；
S12、根据所述测试代码生成对应固件。


3.根据权力要求2所述的闪存特性分析方法，其特征在于，所述S10包括：
S13、通过系统级芯片将所述固件基于对应闪存的传输协议接口录入待测试闪存中。


4.根据权力要求3所述的闪存特性分析方法，其特征在于，所述S13包括：
通过计算机终端对所述固件基于指定接口下发到所述系统级芯片中。


5.根据权力要求1所述的闪存特性分析方法，其特征在于，...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋魏杰，
申请(专利权)人：珠海妙存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44