【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光谱辐射分析仪，尤其涉及带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪。在光源光度色度测量中，一般使用光谱辐射分析仪，光谱辐射分析仪通常由测试主机，参考探测器和导光光纤束组成。参考探测器的作用是在分光测量扫描过程中用于监测被测光源的波动。这种光谱辐射分析仪存在着一个主要的弱点是仪器的光度测量线性范围较窄，尤其用于光通量测试时，问题更显突出。本技术的目的是提供一种带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，以实现更宽的光度线性和更好光度测量的准确度。本技术的目的是提供一种以实现更宽光度线性和更好光度测量准确度的带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪。为了达到上述目的，本技术采取下列措施带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，它包括分光测试主机，导光光纤束，特征是在分光测试主机上，通过屏蔽线与V(λ)光度探头相连。本技术用V(λ)光度探头替代原来的参考探测器，通过这种V(λ)光度探头，光谱辐射分析仪不仅能实现原来的参考探测器监测被测光波动的功能，而且可以实现通过V(λ)光度探头直接测量被测光度值的功能。由于V(λ)光度探头比原来的光谱辐射分析仪具备更宽的光度线性，因此带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪易于实现更宽的光度线性，并可实现光度值的快速测量(无需光谱扫描)，从而使本技术完全实现了积分法测光的优点，此外，用光谱辐射分析仪所特有的分光法测光不受被测光源光谱分布影响的特点，来修正因V(λ)光度探头的V(λ)匹配误差，易于实现高的光度测量准确度。总之，本技术带V(λ)光度探头的光谱辐射分析仪，同时兼备积分球和分光法测光的优点，比以往的光谱辐射分析仪易于实现宽的光度线性和高...
【技术保护点】
一种带Ｖ（λ）光度探头的光谱辐射分析仪，它包括分光测试主机［１］，导光光纤束［３］，其特征在于在所说的分光测试主机［１］上，通过屏蔽线［４］与Ｖ（λ）光度探头［２］相连。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，胡红英，
申请(专利权)人：杭州远方仪器有限公司，
类型：实用新型
国别省市：86[中国|杭州]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。