一种空间光辐射测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种空间光辐射测量装置，包括暗箱、设置在暗箱内的转台、光学取样装置及测光隧道，其中光学接收器由光度探头、光谱仪受光口及亮度计组成。通过设置暗箱，以及将光度、光谱和亮度测量装置集成到一起，一次光信号取样即可实现被测光源或灯具的光强、光谱和亮度等重要光色参数的全面测量，减小了实验室体积，降低了成本，并可通过相互校正实现极高的测量精度。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术属于光辐射测量领域，具体涉及一种空间光辐射测量装置。
技术介绍
分布光度计是实现光源空间光辐射测量的常用装置，根据应用场合及测试功能的不同，可分为测量空间亮度分布的近场分布光度计、测量空间光谱分布的分布光谱辐射计、测量小尺寸及发光较弱的光源或灯具光强分布的紧凑型分布光度计以及测量大尺寸光源或灯具光强分布的远场分布光度计等。此外，公开号为CN101592519B的专利还公开了一种分布光度计，它可实现光源或灯具光强分布及颜色等光色参数的综合测量。上述分布光度计均需在专用的测光暗室中才能准确测量各参数。公开号为CN2893683Y的专利公开了一种管式分布光度计，通过设置由暗箱、测光隧道与光学接收器组成的隔光密闭空间，省去了需专设暗室的麻烦，但该分布光度计一般只配有光度探头，只能测量光源或灯具的光强分布和总光通量，不能同时满足目前对光源或灯具空间颜色测量日益增长的需求。
技术实现思路
为了克服现有技术的不足，本技术旨在提供一种空间光辐射测量装置，既无需专设测量暗室，同时还可实现各种待测光源或灯具各类光色和光谱参数的空间测量，操作简便且准确度高。为解决上述技术问题，本技术采用了如下的技术方案一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空间光辐射测量装置，包括用于夹持被测光源(9)的自动转台(2)、光学接收器(3)和控制中心(5)，其特征在于，还包括暗箱(1)和测光隧道(4)，所述的自动转台(2)设置在暗箱(1)内，所述的测光隧道(4)设置在暗箱(1)和光学接收器(3)之间，被测光源(9)的光束经过测光隧道(4)入射到光学接收器(3)上；所述的光学接收器(3)由光度探头(6)、光谱仪受光口(7)和亮度计(8)组成，光谱仪受光口(7)与光谱仪(10)相连接，所述的光度探头(6)、光谱仪受光口(7)和亮度计(8)并排设置。

【技术特征摘要】
1.一种空间光辐射测量装置，包括用于夹持被测光源(9)的自动转台(2)、光学接收器(3)和控制中心(5)，其特征在于，还包括暗箱(1)和测光隧道(4)，所述的自动转台(2) 设置在暗箱(I)内，所述的测光隧道(4)设置在暗箱(1)和光学接收器(3)之间，被测光源 (9)的光束经过测光隧道(4)入射到光学接收器(3)上；所述的光学接收器(3)由光度探头(6)、光谱仪受光口(7)和亮度计(8)组成，光谱仪受光口(7)与光谱仪(10)相连接，所述的光度探头￠)、光谱仪受光口(7)和亮度计(8)并排设置。2.如权利要求1所述的一种空间光辐射测量装置，其特征在于，所述的光度探头(6)和光谱仪受光口(7)与同一个光谱仪(10)相连接，所述的光谱仪(10)和亮度计(8)与控制中心(5)电连接；或者所述的光谱仪(10)、光度探头￠)以及亮度计(8)分别与控制中心 (5)电连接。3.如权利要求1所述的一种空间光辐射测量装置，其特征在于，所述的光度探头(6)的光轴和光谱仪受光口(7)的光轴平行...

【专利技术属性】
技术研发人员：潘建根，
申请(专利权)人：杭州远方光电信息股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：