位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质制造方法及图纸

技术编号:25524701 阅读:41 留言:0更新日期:2020-09-04 17:14
本公开提供了一种位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质,涉及三维全景技术领域,其中的方法包括:获取图像采集设备在两个不同点位处采集的两个深度图,以及与两个不同点位相对应的两个位姿信息;基于两个位姿信息获取与两个深度图相对应的遮挡体积比和重合面积;根据遮挡体积比和重合面积并基于位姿判别规则,判断两个位姿是否正确;本公开的方法、装置以及电子设备、存储介质,计算与在不同点位下采集的深度图相对应的遮挡体积比和重合面积,判断图像采集设备位姿的正确性,从而确保最终生成的三维模型质量;能够实现鲁棒的点位间的位姿检测,提高三维全景模型构建的准确性和质量,有效的改善了客户体验。

【技术实现步骤摘要】
位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质
本公开涉及三维全景
,尤其涉及一种位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质。
技术介绍
三维全景是基于全景图像的真实场景虚拟现实技术,三维全景模型是将点云采集设备在多个拍摄点位采集的点云数据拼接成一个全景模型。在点云数据采集期间,新的点云数据不断添加到整体点云信息中,将其用作组合点云以生成三维模型。在室内场景3D扫描过程中,常常需要进行多个不同点位的拍摄,将在这些不同点位得到的深度图转为的点云都位于自己的相机坐标系下。在点云数据拼接时,需要将这些不同点位的点云变换到统一的世界坐标系(一般以第一个点位的坐标系作为世界坐标系)。在拼接过程中,无论是自动拼接,还是人工手动拼接点云,都很难确保100%的准确率,删除错误点位并调整拍摄位置得到新的点位信息,从而确保最终生成的三维模型质量。目前,基于图像采集设备在多个点位采集的多个深度图,获得多个点云图,将点云图拼接成一个全景模型。在拼接时,通过重合像素点数量判断图像采集设备在不同点位处的位姿是否正确,并提示相关人员。但是,在此位姿检测方法中,对于重合像素点数本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种位姿检测方法,包括:/n获取图像采集设备在两个不同点位处采集的两个深度图,以及与所述两个不同点位相对应的两个位姿信息;/n基于所述两个位姿信息获取与所述两个深度图相对应的遮挡体积比和重合面积;/n根据所述遮挡体积比和所述重合面积并基于位姿判别规则,判断所述两个位姿是否正确。/n

【技术特征摘要】
1.一种位姿检测方法,包括:
获取图像采集设备在两个不同点位处采集的两个深度图,以及与所述两个不同点位相对应的两个位姿信息;
基于所述两个位姿信息获取与所述两个深度图相对应的遮挡体积比和重合面积;
根据所述遮挡体积比和所述重合面积并基于位姿判别规则,判断所述两个位姿是否正确。


2.如权利要求1所述的方法,所述根据所述遮挡体积比和所述重合面积并基于位姿判别规则,判断所述两个位姿是否正确包括:
判断所述遮挡体积比是否小于预设的体积比阈值并且所述重合面积大于预设的重合面积阈值;
如果是,则确定与所述两个位姿信息相对应的位姿转换关系正确;如果否,则确定所述位姿转换关系错误。


3.如权利要求1或2所述的方法,所述两个深度图包括:所述图像采集装置在第一点位、第二点位分别采集的第一深度图、第二深度图;所述基于所述两个位姿信息获取与所述两个深度图相对应的遮挡体积比包括:
基于所述两个位姿信息获取所述第一深度图遮挡所述第二深度图的第一遮挡体积、所述第二深度图遮挡所述第一深度图的第二遮挡体积;
获取所述第一遮挡体积与所述第二深度图的像素点总体积的第一体积比、所述第二遮挡体积与所述第一深度图的像素点总体积的第二体积比;
将所述第一体积比与所述第二体积比中的较大值,确定为所述遮挡体积比。


4.如权利要求3所述的方法,所述基于所述两个位姿信息获取与所述两个深度图相对应的重合面积包括:
基于所述两个位姿信息获取所述第一深度图相对于所述第二深度图的重合部分的第一面积、所述第二深度图相对于所述第一深度图的重合部分的第二面积;
将所述第一面积与第二面积中的较大值,确定为所述重合面积。


5.一种位姿检测装置,包括:
第一获取模块,用于获取图像采集设备在两个不同点位处采集的两个深度图,以及与所述两个不同点位相对应的两个位...

【专利技术属性】
技术研发人员:张文涛胡洋
申请(专利权)人:贝壳技术有限公司
类型:发明
国别省市:天津;12

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