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位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质制造方法及图纸
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文档序号:25524701
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本公开提供了一种位姿检测方法、装置以及电子设备、存储介质,涉及三维全景技术领域,其中的方法包括:获取图像采集设备在两个不同点位处采集的两个深度图,以及与两个不同点位相对应的两个位姿信息;基于两个位姿信息获取与两个深度图相对应的遮挡体积比和重...
该专利属于贝壳技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过贝壳技术有限公司授权不得商用。
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