园柱外表面反射率谱测量用的支架制造技术

技术编号:2552197 阅读:183 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术涉及到一种圆柱外表面的反射率谱测量用的支架,具有积分球的分光光度计借助于本实用新型专利技术可以对圆柱外表面上的涂层的反射率谱直接进行测量,其技术要点是由V形块、固紧装置及连接架组成。优点是测量方法简单,使用方便,提高测量的可靠性。(*该技术在2006年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及到一种园柱外表面的反射率谱测量用的支架。具有积分球的分光光度计借助于本技术,在仪器测量范围内,可以对园柱外表面上具有的涂层进行反射率谱值的测量,也可以对有外玻璃置管内管园柱表面的反射率谱进行测量以及测量园柱外表面反射率沿轴方向的分布。本技术属于涂层光学性能测试范畴。紫外—可见—近红外分光光度计可以测量平整表面的反射率,采用具有积分球的分光光度计可以测量平整表面的总反射率和漫反射率,进而做数据处理、计算得到不同大气质量下平均太阳反射率比值。通常,在具有积分球的分光光度计的外壁测量孔处有一个支架,它由固定块1-1、支撑架1-2、拉紧弹簧1-3组成,A是积分球外壁,B是波测件。如附图1所示(PE公司生产Lambda 19分光光度计)。测量时,只需将被测件放置在固定块与测量孔之间,由弹簧拉紧,即可进行测量。而对于园柱外表面的反射率就无法进行测量,大量的科学研究和生产实践中需要对园柱外表面反射率的测量,只能间接进行,例如,测量全玻璃真空太阳集热管的内管的外表面具有涂层时的反射率谱值,就只能先做样品陪片,然后对陪片进行测量,不仅工艺复杂,而且稍有不慎还会偏离内管涂层的实际情况,造成误差,在实际应用中不利于抽检。本技术的目的是设计一种新型支架,能直接用具有积分球的分光光度计测量园柱外表面的反射率谱。本技术由V形块、固紧装置和与积分球外壁相连的连接架组成,V形块的轴线与积分球测量孔轴线组成的平面垂直于积分球外壁。如附图2所示,2-1是V形块,2-2是固紧装置,2-3是连接架。测量园柱外表面的反射率谱时,只需将被测量园柱置于V形块内,调节固紧装置将园柱固紧就可进行测量。所说的V形块可以竖向放置或横向放置,V形块角度也可以随意改变。所说的固紧装置可以是螺旋推进器,也可以是用弹簧拉紧或压紧。所说的连接架可以是一块板,板上还可开一个孔,当被测园柱较长且需竖直放置时,可将被测园柱伸到连接架下。当然连接架也可以是框架结构。将镀有太阳选择性吸收涂层的玻璃园管水平固定在支架上测试其反射率谱,再对比测量镀有同样涂层的玻璃平片的反射率谱,大气质量为2时,经过加权计算,用园管测出的反射率值为0.091,平片测出的反射率值为0.093,偏差只有0.002,在仪器的测量误差范围(±0.005)内。将带有玻璃罩管的内管外表面镀有涂层的真空集热管竖直固定在支架上,测其综合反射率,再对比镀有同样涂层的横向放置内管外表面反射率。在大气质量为2时,带罩管的涂层反射率值为0.143,经修正后,得到涂层的反射率值为0.092,不带罩管的内管外表面涂层的反射率值为0.090,即利用支架也可以直接测量真空太阳集热管的涂层的反射率。这里所说的修正是指经过反复实验,找到二者之间的关系,得到不同波长所对应的修正系数而进行的。本技术的优点是能够利用具有积分球的分光光度计直接进行柱形外表面反射率谱,提高了真空太阳集热管等选择性吸收涂层检测的可靠性,而且测量方法简单,使用方便。 附图说明附图1是具有积分球分光光度计测量支架结构示意图。附图2是柱形外表面反射率谱测量用支架结构图。附图3是本技术实施例结构图。实施例附图3给出了本技术的一个实施例,3-1是V形块、3-2是螺旋推进口、3-3是连接板、3-4是园孔,该支架固定在积分球外壁上。权利要求1.一种园柱外表面反射率谱测量用的支架,其特征在于由V形块、固紧装置及连接架组成,连接架固定在积分球的外壁上,V形块的轴线与积分球测量孔轴线组成的平面垂直于积分球外壁。2.按照权利要求1所说的园柱外表面反射率谱测量用的支架,其特征在于所说的V形块可以竖向放置或横向放置,V形块角度也可以随意改变。3.按照权利要求1和2所说的园柱外表面反射率谱测量用的支架,其特征在于所说的固紧装置可以是螺旋推进器,也可以是拉紧或压紧弹簧。4.按照权利要求1和2所说的园柱外表面反射率谱测量用的支架,其特征在于所说的连接架可以是一块连接板,也可以在连接板上加开一个孔,还可以是框架结构。专利摘要本技术涉及到一种圆柱外表面的反射率谱测量用的支架,具有积分球的分光光度计借助于本技术可以对圆柱外表面上的涂层的反射率谱直接进行测量,其技术要点是由V形块、固紧装置及连接架组成。优点是测量方法简单,使用方便,提高测量的可靠性。文档编号G01J3/00GK2269588SQ9624145公开日1997年12月3日 申请日期1996年10月25日 优先权日1996年10月25日专利技术者殷志强, 安瑞红 申请人:北京清华大学太阳能电子厂本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种园柱外表面反射率谱测量用的支架,其特征在于由V形块、固紧装置及连接架组成,连接架固定在积分球的外壁上,V形块的轴线与积分球测量孔轴线组成的平面垂直于积分球外壁。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:殷志强安瑞红
申请(专利权)人:北京清华阳光能源开发有限责任公司
类型:实用新型
国别省市:11[中国|北京]

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1