本发明专利技术提供一种反射率测量装置，该装置包含一光源体，其可提供一检测光；一第一光检测部，其可感测光的强度；一光源调制部，其可将该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一光检测部上；一第二光检测部，其可感测光的强度；以及一反射罩，其设置于该待测物与该光源调制部之间，该反射罩可将由该待测物散射的一发散反射光导引至该第二光检测部上。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关一种光学检测装置，尤其是涉及一种可以测量大角度发散的反 射光以测量光反射率的一种反射率测量装置。
技术介绍
由于地球变暖问题日渐受到重视，各种能源蕴藏量均不超过60年，加上 主要能源——石油价格频创历史新高，使得加强发展"再生能源"、"绿色能 源"成为全球趋势。在这些新兴能源中，由于太阳能具有源源不断以及洁净的 特色，再加上不会引起污染以及不会耗尽自然资源或导致全球温室效应，因此 已经逐渐在商业化能源中崭露头角。目前太阳能电池的光照面一般都会有抗反射层结构以减少入射阳光的反 射。由于硅晶的表面呈现如同镜面般的亮黑灰色，可以反射30%以上的入射光。 因此如果直接使用于太阳能电池，意味着就损失30%以上的阳光能量进入， 而上述所谓抗反射层的目的即是减少这些因为反射所造成的损失。除了抗反射 层外， 一般单晶硅的太阳能电池，其光照面的表面会经表面结构(texture)的处 理，来更进一步地减少入射阳光的反射。这表面结构处理，会在表面留下如同 大大小小金字塔(pyramid)结构，让入射光至少要经过晶片表面的二次反射，因 此就大大的减低入射光经过第一次反射就折回的机率。为了测量太阳能电池的局部反射率以评估工艺的品质，目前所使用的测量 方法为如美国专利US. Pat. No. 5,406,367所公开的一种装置与方法。在该技术 中在待测物上设置一积分球，以收集大发散角的反射光，再通过光检测器检测 大发散角的反射光的光强度。不过该技术在测量反射光的发散角时有所限制， 若反射光的散射角度太大则无法进入至积分球内，因而会造成测量上的误差。 不过，若将该积分球的开口加大的话，虽然可以接收到大发散角度的反射光， 但是大开口的话，进入积分球的光线也会容易经几次反射之后而离开积分球， 因此反而会有较大的测量误差。
技术实现思路
本专利技术提供一种反射率测量装置，其主要利用一反射罩将由待测物上产生 的大角度发散的反射光调制至一光感测器上，以测量光反射率，通过简单的结 构设计以提升测量准确率以及降低成本。在一实施例中，本专利技术提供一种反射率测量装置，包括 一光源体，其可 提供一检测光； 一第一光检测部，其可感测光的强度； 一光源调制部，其可将 该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一光 检测部上； 一第二光检测部，其可感测光的强度；以及一反射罩，其设置于该 待测物与该光源调制部之间，该反射罩具有一抛物曲面可将由该待测物散射的 一发散反射光导弓i至该第二光检测部上。在另一实施例中，本专利技术提供一种反射率测量装置，包括 一光源体，其 可提供一检测光； 一第一光检测部，其可感测光的强度； 一光源调制部，其可 将该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一 光检测部上； 一第二光检测部，其可感测光的强度；以及一反射罩，其设置于 该待测物与该光源调制部之间，该反射罩具有一椭圆曲面可将由该待测物散射 的一发散反射光导引至该第二光检测部上。本专利技术的有益效果在于利用反射罩将待测物大角度发散的反射光，导引至 该第二光检测部上，从而实现提升测量准确率以及降低成本的目的。下面结合附图和具体实施例对本专利技术进行详细描述，但不作为对本专利技术的 限定。附图说明图1A以及图1B为本专利技术的反射率测量装置第一实施例立体组合以及立 体分解示意图2为本专利技术的反射罩剖面示意图3为本专利技术的反射率测量装置第二实施例立体分解示意图4A与图4B为本专利技术的使用抛物曲面的反射罩的光学路径说明示意图5为第一光检测部所检测出的反射光斑模拟示意图6为第二光检测部所检测出的反射光斑模拟示意图；图7A与图7B为本专利技术的使用椭圆曲面的反射罩的光学路径说明示意图。其中，附图标记1-反射率测量装置10- 光源体11- 第一光检测部110- 光检测器111- 固定座112- 透镜12- 光源调制部120- 座体121- 分光镜122- 透镜123- 开孔124- 套筒125- 凸座13- 第二光检测部130- 固定座131- 罩体132- 透镜133- 光检测器14- 反身寸罩140- 反射面141- 凹槽142- 通孔15- 光监控部150- 座体151- 透镜152- 光检观!j器16- 镭射光控制器17- 承载平台90-待测物91、 91'-第一检测光92、 92'-第二检测光93、 95、 93，、 95，-反射光94、 96、 94，-平行光具体实施例方式为使对本专利技术的目的、构造、特征、及其功能有进一步的了解，将参照附 图并配合实施例详细说明如下，但以下附图及实施例仅为辅助说明，本专利技术并 不限于附图及实施例。请参阅图1A以及图1B所示，该图为本专利技术的反射率测量装置实施例立 体组合以及立体分解示意图。该反射率测量装置具有一光源体10、 一第一光 检测部11、 一光源调制部12、 一第二光检测部13以及一反射罩14。该光源 体10可为准直光源或者是一般光源以产生一检测光。在本实施例中，该光源 体10选择为准直光源，其中该准直光源为一镭射光源，但不以此为限。该光源调制部12设置于该光源体10的一侧，以接收该检测光，该光源调 制部12可以将该检测光调制至待测物90上。在本实施例中，该光源调制部 12更具有一座体120、 一分光镜121以及一透镜122。该座体120的一端开设 有一开孔123，以提供该检测光通过。该分光镜121设置于对应该开孔123的 位置上，该分光镜121可将该检测光分成一第一检测光以及一第二检测光。透 镜122固定于套筒124中，套筒124再固定于反射罩14中的凹槽141中，然 后组装时再对应于凸座125，使得该透镜122与该分光镜121相对应以将该第 一检测光聚焦投射至待测物90上。因为透镜122的焦点必须与抛物面反射罩 14的焦点重合且较难调整，所以先将透镜122与反射罩14焦点调整至重合， 再与凸座125上圆孔对准。该第一光检测部11设置于该光源调制部12的一侧 以感测光的强度。在本实施例中，该第一光检测部11更具有一固定座111、 一透镜112以及一光检测器110。该透镜112设置于该分光镜121以及该光检 测器110之间。当然，在另一实施方式中，如果该光检测器110可以接收的光 线范围够大的话，该透镜112可以视需求而予以省略。该反射罩14，设置于该待测物90与该光源调制部12之间，该反射罩14可将由该待测物90散射的一发散反射光导引至该第二光检测部13上。该反射 罩14上具有一反射面140，在本实施例中其为一抛物曲面(亦即其截面为拋物 线)。此外，为了增加反射效果，该反射面140上更可以涂覆一层反射膜。至 于该反射膜的材质为现有技术，在此不作赘述。此外，在该反射罩14对应该 凸座125上更具有一凹槽141，其可提供固定该套筒124。如图2所示，该凹 槽141内的反射罩上开设有一通孔142，以提供光线通过。在一实施例中，该 通孔142可为具有锥度的通孔。再回到图1A以及图1B所示，该第二光检测部13，其设置于该反射罩14 的一侧，以感测由该反射罩14反射的光强度。该第二光检测部13更具有一固 定座130、 一罩体131、 一透镜132以及一光检测器133。该透镜132固定于 该固定座130上且位于反射罩14以及该光检本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种反射率测量装置，其特征在于，包括： 一光源体，其可提供一检测光； 一第一光检测部，其可感测光的强度； 一光源调制部，其可将该检测光调制至一待测物上并将由该待测物反射的一反射光调制至该第一光检测部上； 一第二光检测 部，其可感测光的强度；以及 一反射罩，其设置于该待测物与该光源调制部之间，该反射罩可将由该待测物散射的一发散反射光导引至该第二光检测部上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：林昆蔚，江易轩，郑龙宇，张裕修，
申请(专利权)人：财团法人工业技术研究院，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
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