一种信息上报方法、装置、设备及生产控制系统制造方法及图纸

技术编号:25520455 阅读:17 留言:0更新日期:2020-09-04 17:11
本发明专利技术公开了一种信息上报方法、装置、设备及生产控制系统,涉及显示面板检测技术领域;该信息上报方法包括:获取各检测设备、PLC控制器及CIM系统中的至少一个或多个提供的面板检测信息;以面板ID为单位构造关联容器,对所述面板检测信息进行解析并将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的所述关联容器中;按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至CIM系统;本发明专利技术将每个面板在不同检测站点的分散的检测信息进行整合和关联,便于用户快速查找缺陷原因,以及进行流水线上的生产管理。

【技术实现步骤摘要】
一种信息上报方法、装置、设备及生产控制系统
本专利技术属于面板检测
,更具体地,涉及一种信息上报方法、装置、信息上报设备及生产控制系统。
技术介绍
在高度自动化的面板检测行业中,整个生产控制系统由流水线上的检测设备和车间的控制系统组成,目前车间的控制系统多为计算机集成制造(ComputerIntegratedManu-facturing,CIM)系统,该CIM系统用于给操作管理人员提供一套管理系统来协调整个车间的生产,主要负责监控和控制流水线的生产情况、存储重要的生产数据、报表等,统一管理各设备的生产/检测流程,并随时监控设备过程的状态,以减少过程失误进而降低成本及提升产品的质量。此外,CIM系统还将相关生产数据提供给上层的工厂生产计划管理系统;流水线上的生产/检测设备根据CIM系统下发的生产指令执行常规的生产/检测过程。目前,面板检测完成后所产生的缺陷信息都是通过检测设备自身的界面可视化的方式,让车间内部的相关技术人员进行人工复判,复判为OK品则直接进入下一个检测流程,在此过程中并未记录面板相关检测信息,所以当面板检测出现漏洞时,就无法快速追查相关检测记录,不利于分析原因。此外,在整个检测过程中面板可能需要经过多个检测工站,即便在某个检测工站中记录了在该站点的检测信息,对于操作管理人员来说,他们无法在需要时快速获取每一个面板的全流程检测数据,不利于后期的缺陷原因分析。
技术实现思路
针对现有技术的至少一个缺陷或改进需求,本专利技术提供了一种信息上报方法、装置、信息上报设备及生产控制系统,以面板ID为单位构造关联容器,对从各检测设备、PLC控制器及CIM系统中获取的面板检测信息进行解析后,将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的关联容器中;然后按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至CIM系统;将每个面板在不同检测站点的分散的检测信息进行整合和关联,便于用户快速查找缺陷原因,以及进行流水线上的生产管理。为实现上述目的,按照本专利技术的第一个方面,提供了一种信息上报方法,该方法包括:获取各检测设备、PLC控制器及CIM系统中的至少一个或多个提供的面板检测信息;以面板ID为单位构造关联容器,对所述面板检测信息进行解析并将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的所述关联容器中;按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至一个或多个CIM系统。优选的,上述信息上报方法,通过实时监听PLC控制器的寄存器地址值的变化来获取该PLC控制器提供的面板检测信息。优选的,上述信息上报方法,对所述面板检测信息进行解析具体包括:当获取到检测设备提供的字符串形式的面板检测信息时,按照TCP协议解析所述面板检测信息;当获取到PLC控制器提供的面板检测信息时,根据规定的通信协议将所述面板检测信息转换成字符串;当获取到CIM系统提供的SECS格式的面板检测信息时,按照SECS协议对所述面板检测信息进行逐级解析。优选的,上述信息上报方法还包括:预先对各检测设备、PLC控制器及CIM系统的设备信息进行配置,生成配置信息;所述配置信息包括检测设备的IP地址、端口号和共享目录,以及CIM系统所需的上报方式、IP地址、端口、设备ID、线体ID。优选的,上述信息上报方法还包括:统计每个面板ID在当前检测过程中的所有面板检测信息并显示在界面上供用户查看。优选的,上述信息上报方法,每个检测设备提供的面板检测信息包括检测进度信息和检测缺陷信息;其中,所述检测进度信息包括检测工位、检测载台、检测时间及检测进度;所述检测缺陷信息包括缺陷类型、缺陷坐标、缺陷等级及缺陷面积;PLC控制器提供的面板检测信息包括设备信息和异常信息;其中,所述设备信息包括模组名、设备名、场别、操作员、线体ID和单元ID;所述异常信息为检测故障对应的报警信息;CIM系统提供的面板检测信息为该CIM系统在接收到信息上报单元上传的信息之后反馈的过账信息。优选的,上述信息上报方法,所述上报方式包括TCP上报、FTP上报、SECS上报、PLC上报和文件共享上报;将关联容器中缓存的信息转化为不同上报方式对应的数据格式后上传至CIM系统。按照本专利技术的第二个方面,还提供了一种信息上报装置,该装置包括:信息采集单元,用于获取各检测设备、PLC控制器及CIM系统中的至少一个或多个提供的面板检测信息;信息处理单元,用于以面板ID为单位构造关联容器,对信息采集单元获取的所述面板检测信息进行解析并将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的所述关联容器中;信息上报单元,用于按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至CIM系统。按照本专利技术的第三个方面,还提供了一种信息上报设备,其包括至少一个处理单元、以及至少一个存储单元,其中,所述存储单元存储有计算机程序,当所述计算机程序被所述处理单元执行时,使得所述处理单元执行上述任一项所述的信息上报方法的步骤。按照本专利技术的第四个方面,还提供了一种生产控制系统,其特征在于,包括上述的信息上报设备,还包括AOI检测设备和CIM系统;所述信息上报设备具有TCP端口及SECS标准的通信接口,该信息上报设备通过所述通信接口与CIM系统连接,获取CIM系统下发的生产控制指令;通过所述TCP端口与AOI检测设备连接,将所述生产控制指令下发给AOI检测设备。总体而言,通过本专利技术所构思的以上技术方案与现有技术相比,能够取得下列有益效果:(1)本专利技术以面板ID为单位构造关联容器,对从各检测设备、PLC控制器及CIM系统中获取的面板检测信息进行解析后,将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的关联容器中;然后按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至CIM系统;将每个面板在不同检测站点的分散的检测信息进行整合和关联,便于用户快速查找缺陷原因,以及进行流水线上的生产管理。(2)本专利技术运用现代信息处理技术,对面板检测相关信息进行加工处理,以多种方式上报到CIM系统或者本地备份,提高事务处理的效率和自动化水平。(3)本专利技术中,在面板经过的每一个检测站点都实时上报相关检测信息到客户CIM服务器,检测人员可以在办公区域进行液晶屏检测,减少了产线上必须的准备工作,提高了工作效率;还便于后期出现问题追查原因,通过数据统计对比提升生产管理的效率。(4)本专利技术中的面板检测信息除上报CIM系统之外还进行本地备份,当信息上报设备与客户CIM系统断连时,操作人员可在信息上报设备的界面查看,方便在系统出现故障时查找原因。(5)本专利技术提供的上报系统,还可将检测信息保存在数据库,目前支持MySQL数据库、Oracle数据库,需要查看面板检测信息时方便查询。附图说明图1是本专利技术实施例提供的信息上报方法的流程图;图2是本专利技术实施例提供的关联容器中的信息结构的示意图;图3是本专利技术实施例提供的信息上报装置的逻辑框图;图4是本专利技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种信息上报方法,其特征在于,包括:/n获取各检测设备、PLC控制器及CIM系统中的至少一个或多个提供的面板检测信息;/n以面板ID为单位构造关联容器,对所述面板检测信息进行解析并将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的所述关联容器中;/n按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至一个或多个CIM系统。/n

【技术特征摘要】
1.一种信息上报方法,其特征在于,包括:
获取各检测设备、PLC控制器及CIM系统中的至少一个或多个提供的面板检测信息;
以面板ID为单位构造关联容器,对所述面板检测信息进行解析并将同一面板相关的信息缓存到其面板ID对应的所述关联容器中;
按照预先配置的上报方式将关联容器中缓存的信息上传至一个或多个CIM系统。


2.如权利要求1所述的信息上报方法,其特征在于,所述上报方式包括TCP上报方式、FTP上报方式、SECS上报方式、PLC上报和文件共享上报;
将关联容器中缓存的信息转化为CIM系统所需的上报方式对应的数据格式后上传至CIM系统。


3.如权利要求1所述的信息上报方法,其特征在于,通过实时监听PLC控制器的寄存器地址值的变化来获取该PLC控制器提供的面板检测信息。


4.如权利要求1所述的信息上报方法,其特征在于,对所述面板检测信息进行解析具体包括:
当获取到检测设备提供的字符串形式的面板检测信息时,按照TCP协议解析所述面板检测信息;
当获取到PLC控制器提供的面板检测信息时,根据规定的通信协议将所述面板检测信息转换成字符串;
当获取到CIM系统提供的SECS格式的面板检测信息时,按照SECS协议对所述面板检测信息进行逐级解析。


5.如权利要求1所述的信息上报方法,其特征在于,还包括:
预先对各检测设备、PLC控制器及CIM系统的设备信息进行配置,生成配置信息;所述配置信息包括检测设备的IP地址、端口号和共享目录,以及CIM系统所需的上报方式、IP地址、端口、设备ID、线体ID。


6.如权利要求1所述的信息上报方法,其特征在于,还包括:
统计每个面板ID在当前检测过程中的所有面板检测...

【专利技术属性】
技术研发人员:吴宇
申请(专利权)人:武汉精立电子技术有限公司武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:湖北;42

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