辐射温度传感器用的硅探测器筛选方法技术

本发明专利技术属于一种辐射温度测定技术，是按照非平衡式部分辐射温度传感器一致性的指标进行预先筛选硅光电池探测器，然后在一个温度点统调的方法代替传统的逐点温度比较的方法获得非平衡式部分辐射温度传感器分度特性，并使其分度特性取得一致．既节约了调试时间和能源的消耗，同时降低了成本，也简化了辐射温度传感器的维修工作．（*该技术在2006年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本专利技术是一种辐射温度测定技术。辐射温度传感器的输出信号和被测温度之间的关系，即仪表的分度特性，是仪表的最基本的特性，硅探测器是辐射温度传感器中使用最广的探测器之一。传统的用半导体作探测器的辐射温度传感器的分度方法，是将传感器通过黑体炉和标准温度计逐点温度进行比较求得其分度特性的，因此，都没有统一的分度表。非平衡式都分辐射温度传感器分度特性不一致的主要原因是硅光电池探测器在同样光照下的输出信号不一致之故。英国兰德红外温度计公司(Land Infrared Pyrometers Limited)的Q系列辐射温度传感器具有该公司统一的分度表，其探测器是硅光电池，从1985年引进该项技术的有关资料中了介到，该公司实现辐射温度传感器分度特性一致的方法是在许多年以前购置一块硅晶体，每次制作硅探测器时都从这块硅晶体上取作原料，并固定硅光电池的制作工艺，随着辐射温度传感器产品的不断生产，经大量测量数据的积累，逐步求得辐射温度传感器分度特性曲线和允许误差。因此，虽然兰德公司的方法实现了辐射温度传感器分度特性的一致，但该公司的方法有不足之处，第一，确定分度表的时间长，必须经过很长的时本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种使非平衡式部分辐射温度传感器分度特性一致性的方法，其特征是控照对非平衡式部分辐射温度传感器一致性的指标要求，对硅探测器进行预先筛选。在一个温度点上对装有筛选合格的传感器进行统调代替逐点温度比较的方法获得非平衡式部分辐射温度传感器分度特性的一致性。

【技术特征摘要】
1.一种使非平衡式部分辐射温度传感器分度特性一致性的方法，其特征是控照对非平衡式部分辐射温度传感器一致性的指标要求，对硅探测器进行预先筛选。在一个温度点上对装有筛选合格的传感器进行统调代替逐点温度比较的方法获得非平衡式部分辐射温度传感器分度特性的一致性。2.如权利要求1所述的筛选方法，其特征在于按下列计算作为筛选硅探测器的依据a.以给定的辐射温度传感器输出特性一致性的要求 (△T)/(T) ＝±n%，求得该传感器在被测温度为T时的输出信号的允许变化范围 (△V)/(V) ＝± (C2)/(λe(T)T) n%。b.在辐射温度传感器的测温量程上限的输出信号被...

【专利技术属性】
技术研发人员：姜世昌，吴淑媛，叶荣昌，
申请(专利权)人：机械工业部上海工业自动化仪表研究所，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]