基于Zernike多项式的波前探测和重构方法技术

一种基于Ｚｅｒｎｉｋｅ多项式的波前探测和重构方法，用于自适应光学和光学检验。该方法运用Ｒ. Ｎｏｌｌ建议的Ｚｅｒｎｉｋｅ多项式表征经大气扰动的入瞳处的光学波前畸变；求出由两个离焦面上（前后等距）的光强分布决定的归一化Ｚｅｒｎｉｋｅ项在特定形状的探测器上的响应矩阵；由响应矩阵和入瞳处的波前在两个离焦面上的光强分布，求出入射波前Ｚｅｒｎｉｋｅ项的系数，该方法所制出的传感器系统简单，易于实现，其探测精度占优。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种Zernike多项式的波前和重构方法，用于自适应光学和光检验。该技术在1978年，F.Roddier提出了曲率波前传感器的概念，1989年N.Roddier对其进行的计算机仿真，1993年应用此种传感器和双压电晶体变形镜实现了闭环实验，有关引证技术文件如下1.F.Roddier，M.Northcott，J.Elon.，“Asimple low-order adaptive optics system for near infrared application”，Pub.Astr.Soci.Pac.103131-149，1991.2.F.Roddier，“Curvature sensinga diffraction theory”，NOAO1-5，1987.3.N.Roddier，“Curvature sening for adaptive opticsAcomputer simulation”，The University of Arizona，1987.本专利技术的目的在于为克服由H-S波前传感器组成的自适应学系统的复杂性和克服由曲率波前传感器组成的自适应光学系统的不足，寻求一种简单的、易实现的、快速探测且能基本适于低阶模校正的自适应光学的波前传感器。 本
技术实现思路
的具体实现方案是运用R.Noll建议的Zernike多项式表征经大气扰动的入瞳处的光学波前畸变;求出由两个离焦面上(前后等距)的光强分布决定的归一化Zernike项在特定形状的探测器上的响应矩阵;由响应矩阵和入瞳处的波前在两个离焦面上的光强分布，求出其Zernike项系数，从而实现波前的探测和重构。此种新型方法所做出的传感器，在自适应光学系统中适于低阶模探测。与H-S传感器和剪切干涉式波前传感器相比，具有系统简单、易于实现等特点;与曲率波前传感器相比，同属由光强探测位相方法，其探测精度占优。此种传感器也适于探测一般光学波前的象差。利用该方法制备的传感器原理光路示于附图说明图1中。主透镜L1的焦距为f1，场镜L2的焦距为f/2，L2置于L1的焦平面处。波前传感器原理上由两个探测器组成，一个探测器测量P1平面上的光强分布I-1，它在焦平面的前方;另一个探测测量P2平面上的光强分布I2，它在焦平面的后方。两个探测器与焦平面的距离均为1。P1平面和P2平面处的探测器的形状均如图2示。在图1示的F处放置一薄膜镜，使探测器置于薄膜镜上，通过电路驱动薄膜镜前后移动，实现前后两个离焦面上光强分布的测量，由光强分布和响应矩阵就可求出Zernike项系数。权利要求1.一种，其特征在于运用RNo11建议和Zernike多项式表征径大气扰动的入瞳处的光学波前畸变；求出由两个前、后等距离焦面上的光强分布决定的归一化Zernike项在特定形状的探测器上的响应矩阵；由响应矩阵和入瞳处的波前在两个离焦面上的光强分布，求出入射波前Zernike项的系数，实现波前的探测和重构；其主透镜的焦距为f，场镜的焦距为f/2，将场镜置于主透镜的焦平面处。2.如权利要求1所述的，其特征在于，该方法中的重构入射波前的Zernike项的最高项可由探测器的各象元排列及形状确定。全文摘要一种，用于自适应光学和光学检验。该方法运用R.Noll建议的Zernike多项式表征经大气扰动的入瞳处的光学波前畸变；求出由两个离焦面上(前后等距)的光强分布决定的归一化Zernike项在特定形状的探测器上的响应矩阵；由响应矩阵和入瞳处的波前在两个离焦面上的光强分布，求出入射波前Zernike项的系数，该方法所制出的传感器系统简单，易于实现，其探测精度占优。文档编号A61B3/107GK1105449SQ9411517公开日1995年7月19日 申请日期1994年9月16日 优先权日1994年9月16日专利技术者俞信, 魏学业 申请人:北京理工大学本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于Ｚｅｒｎｉｋｅ多项式的波前探测和重构方法，其特征在于：运用ＲＮｏ１１建议和Ｚｅｒｎｉｋｅ多项式表征径大气扰动的入瞳处的光学波前畸变；求出由两个前、后等距离焦面上的光强分布决定的归一化Ｚｅｒｎｉｋｅ项在特定形状的探测器上的响应矩阵；由响应矩阵和入瞳处的波前在两个离焦面上的光强分布，求出入射波前Ｚｅｒｎｉｋｅ项的系数，实现波前的探测和重构；其主透镜的焦距为ｆ，场镜的焦距为ｆ／２，将场镜置于主透镜的焦平面处。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：俞信，魏学业，
申请(专利权)人：北京理工大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]