【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种透射光栅光谱仪,特别是一种高分辨率大面积透射光栅软X射线光谱仪,该谱仪主要适用于软X射线波段内激光等离子体的发射特性的测量。软X射线透射光栅光谱仪使用灵活,调整简便,在基础物理研究和诊断中具有一定的优势,被广泛用于各类X光源的测量,这从德国马普量子光学所和日本大阪大学等单位的实验中可以看到(参阅已有技术R.Sigel,P.Pakula,S.Sakabe et al.,X-ray generation in a cavity heated by 1.3-or 0.44-μm laser light Ⅲ comparison of theexperimental results with theoretical predications for X-ray confinement.Phys.Rev.A38(11),1988:5779-5785,以及H.Nishimura,Y.Kato,H.Takabe et al.,X-rayconfinement in a gold cavity heated by 351-nm laser light.Ph ...
【技术保护点】
一种大面积透射光栅软X射线光谱仪,包括机械构件和光学元件两大部分,机械构件包括头部(1)、导轨(4)、作为外壳的外套筒(5)和调整架(9)、(10),光学元件包括反射镜(6)、光阑(13)、光栅(7)、接收器件(8)和显示器件(12),其特征在于具体结构是:〈1〉机械构件的头部(1)是由一衔接管(102),前端带有与真空靶室窗口(14)真空密接的接口法兰(101)和后端带有衔接法兰(103)所构成;〈2〉上述头部(1)的衔接法兰(103)上固定有带斜拉加强筋(3)的支 撑板(2),加强筋(3)上装有悬挂式的导轨(4),导轨(4)上置有五维调整的调整架(9)、( ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:邓建,张正泉,徐至展,钟方川,覃岭,
申请(专利权)人:中国科学院上海光学精密机械研究所,
类型:发明
国别省市:31[中国|上海]
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