【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本技术涉及一种测量物体质量的装置，尤其是一种无重力条件下测量物体质量的装置。一般地说，测量物体质量的标准用具是天平。然，在非重力情况下对物体质量(如在真空条件下)的标测在航天技术迅猛发展的今天也是必不可少的。本技术的目的在于提供一种无重力条件下测量物体质量的装置。该装置是一种在真空条件下(或模拟的真空条件下的)对物体质量以刻度尺的累读又且取其称量平均值的装置。本技术的目的是这样实现的一种无重力条件下测量物体质量的装置，包括带有盒盖的圆饼状小盒，其中，所述的圆饼装小盒其盒体内设有一重心指针且所述重心指针的一端连接一轻质弹簧，所述的轻质弹簧的一端连接一刻度尺、一立轴。先将待测物置于小盒之中，在外力作用下当小盒绕立轴转动且匀速后再量度刻度尺的均值最后得被测物体之质量。较之现有的物体质量测量手段和所用及的设备及已披露的有关的专利文献，本技术涉及的无重力条件下测量物体质量的装置所具有的技术进步是显而易见的根据牛顿力学的若干个原理本装置是一种在真空条件下或模拟的真空条件下可为测量物体质量而提供的实验设备，此设备的结构简单、操作方便，通过重心指针与刻度尺的相对运动就可以获...
【技术保护点】
一种无重力条件下测量物体质量的装置，包括带有盒盖（１）的圆饼状盒体（５），其特征是，所述的圆饼状盒体（５）其盒体内设有一重心指针（７）且所述重心指针（７）的一端连接一轻质弹簧（６），所述的轻质弹簧（６）的一端连接一刻度尺（８）、一立轴（９）。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
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