射频功率放大模块动态老化试验装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，包括试验箱(2)和连接在试验箱(2)上的控制箱(1)；所述试验箱(2)内设置有若干个测试机构和温度检测模块(12)，其底部安装有加热模块(10)和制冷模块(11)；所述控制箱(1)内设置有控制系统，所述控制系统包括控制器，分别与控制器连接的时钟模块和射频信号输出模块，与射频信号输出模块连接的功分器。本发明专利技术将射频功率放大模块分别在高温、低温环境下进行老化测试，同时将射频功率放大模块分别在高温、低温环境下启动，使其分别在高温、低温环境下接受冲击，对其在高温和低温下启动、运行的性能进行测试。

【技术实现步骤摘要】
射频功率放大模块动态老化试验装置
本专利技术涉及射频功率放大模块测试领域，具体是指一种射频功率放大模块动态老化试验装置。
技术介绍
随着电子技术的发展，一个好的电子设备不但要求有较高的性能指标，而且还要具备较高的稳定性和可靠性。作为无线通信设备中的重要组成部分，功放，即射频功率放大器同样需要进行可靠性测试，以排除掉一些坏掉的芯片。老化测试是检测射频功率放大器的重要手段，然而，现有的老化技术通常只是将射频功率放大模块置于高温房内进行测试，其测试方法较为单一，无法测试射频功率放大模块在高温和低温下启动、运行的性能。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述问题，提供一种能够模拟在不同环境下的对射频功率放大模块进行老化试验的试验装置。本专利技术的目的通过下述技术方案实现：射频功率放大模块动态老化试验装置，包括试验箱和连接在试验箱上的控制箱；所述试验箱内设置有若干个测试机构和温度检测模块，其底部安装有加热模块和制冷模块；所述控制箱内设置有控制系统，所述控制系统包括控制器，分别与控制器连接的时钟模块和射频信号输出模块，与射频信号输出模块连接的功分器；所述控制器与加热模块、制冷模块以及温度检测模块连接，功分器则与试验箱内的射频功率放大模块连接；射频信号输出模块，用于给待测的射频功率放大模块提供射频信号；功分器，用于将射频信号分配给多个待测的射频功率放大模块；时钟模块，用于设定加热时间和制冷时间；控制器，用于根据时钟模块设定的时间控制射频信号输出模块、加热模块以及制冷模块工作。进一步的，所述试验箱内设置有将试验箱的内部空间分隔为若干个安装腔的隔板；所述测试机构安装在安装腔内。所述测试机构包括设置在试验箱侧壁上的若干个插座，安装在隔板上且与插座对应的若干个夹持机构；所有夹持机构之间通过连接结构连接。所述夹持机构包括试验夹具，通过导线与试验夹具连接的插头；所述插头安装在连接结构上。所述试验夹具包括底座，与底座铰接的上盖，安装在底座内部的硅像胶层，安装在底座内部且位于硅像胶层上方的试验电路板，以及设置在底座上并与试验电路板连接的接口；试验电路板与功分器连接，所述接口通过导线与插头连接。所述连接结构包括分别固定在试验箱相对两侧壁上的两个支架，活动安装在两个支架之间的插头连接板；所述插头固定在插头连接板上。所述加热模块和制冷模块均通过固定夹具安装在试验箱内；所述固定夹具包括相对设置的两根支撑杆，分别安装在两根支撑杆上的两个夹持部件。所述夹持部件包括一端贯穿支撑杆后连接有夹紧板、另一端则连接有拉板的推杆，固定连接在夹紧板上且位于夹紧板和支撑杆之间的压缩弹簧。该射频功率放大模块动态老化试验装置的老化方法包括以下步骤：步骤1：初使化设备，并向时钟模块内设定加热时间、制冷时间，向控制器内设定加热温度和制冷温度；步骤2：控制器控制射频信号输出模块向射频功率放大模块输出射频信号，同时控制加热模块将试验箱内部温度加热到设定温度；步骤3：达到加热时间后，停止加热，同时控制器控制制冷模块将试验箱内部温度调节至设定的制冷温度；步骤4；达到制冷时间后，停止制冷，同时停止向射频功率放大模块输入射频信号；步骤5：控制器控制加热模块将试验箱内部加热至设定的加热温度，然后再向射频功率放大模块输入射频信号，达到加热时间后停止加热；将试验箱内温度制冷到设定的制冷温度，达到制冷时间后停止制冷，并停止向射频功率放大模块输入射频信号；步骤6：控制器控制制冷模块将试验箱内部温度制冷至设定的制冷温度，然后再向射频功率放大模块输入射频信号，达到制冷时间后停止制冷；将试验箱内温度加热到设定的加热温度，达到加热时间后停止加热，并停止向射频功率放大模块输入射频信号，试验箱内部温度达到室温后返回步骤2。另外，设定的加热时间和制冷时间均为60～80min，设定的加热温度为60～70℃，设定的制冷温度为-5～-10℃。本专利技术较现有技术相比，具有以下优点及有益效果：(1)本专利技术将射频功率放大模块分别在高温、低温环境下进行老化测试，同时将射频功率放大模块分别在高温、低温环境下启动，使其分别在高温、低温环境下接受冲击，对其在高温和低温下启动、运行的性能进行测试。(2)本专利技术在试验电路板的下方设置硅像胶层，硅像胶层在高温、低温下不易发生变形，确保试验过程中射频功率放大模块与试验电路板接触良好。(3)本专利技术中所有的夹持机构上的插头均固定在插头连接板上，试验时可以快速的将所有夹持机构的插头插入插座中，提高工作效率。(4)本专利技术的加热模块和制冷模块均通过固定夹具进行固定，其方便拆装，便于维护更换。附图说明图1为本专利技术的结构图。图2为本专利技术的试验夹具的结构图。图3为本专利技术的底座的剖示图。图4为本专利技术的固定夹具的使用状态图。图5为本专利技术的控制系统的连接示意图。图6为本专利技术的老化流程示意图。上述附图中的附图标记为：1—控制箱，2—试验箱，3—插头连接板，4—插头，5—插座，6—支架，7—隔板，8—试验夹具，81—上盖，82—底座，83—接口，84—硅像胶层，85—试验电路板，9—固定夹具，91—推杆，92—拉板，93—支撑杆，94—压缩弹簧，95—射频功率放大模块，96—夹紧板，10—加热模块，11—制冷模块，12—温度检测模块。具体实施方式下面结合实施例对本专利技术作进一步地详细说明，但本专利技术的实施方式并不限于此。实施例1如图1所示，本专利技术中的射频功率放大模块动态老化试验装置，包括试验箱2和连接在试验箱2上的控制箱1。所述试验箱2内设置有若干个测试机构和温度检测模块12，另外，试验箱2的底部还安装有加热模块10和制冷模块11。该控制箱1为整个老化试验装置的控制中心，其内部设置有控制系统。具体的，如图5所示，该控制系统包括控制器，时钟模块，射频信号输出模块以及功分器。时钟模块与控制器连接，其用于设定试验箱2内部的加热时间和制冷时间；射频信号输出模块也与控制器连接，其用于给待测的射频功率放大模块提供射频信号；功分器输入端与射频信号输出模块连接，其输出端则与多个射频功率放大模块连接，其用于将射频信号输出模块输出的射频信号分配给多个待测的射频功率放大模块。控制器则分别与加热模块10、制冷模块11、温度检测模块12以及待测的射频功率放大模块95连接，其内部预设有加热温度和制冷温度，并且该控制器根据时钟模块设定的时间控制射频信号输出模块、加热模块以及制冷模块工作，另外，该控制器还接收温度检测模块12的检测信号和射频功率放大模块95输出的信号，以便试验人员了解试验情况。本实施例的控制系统还设置有显示器，该显示器与控制器连接，通过显示器显示温度、时间等数据，以便试验人员更直观的了解试验情况。为了可以同时对多个射频功率放大模块95进行老化试验，如图1所示，该试验箱2内设置有隔板7，该隔板7将试验箱2的内部空间分隔为若干个本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，包括试验箱(2)和连接在试验箱(2)上的控制箱(1)；所述试验箱(2)内设置有若干个测试机构和温度检测模块(12)，其底部安装有加热模块(10)和制冷模块(11)；所述控制箱(1)内设置有控制系统，所述控制系统包括控制器，分别与控制器连接的时钟模块和射频信号输出模块，与射频信号输出模块连接的功分器；所述控制器与加热模块(10)、制冷模块(11)以及温度检测模块(12)连接，功分器则与试验箱(2)内的射频功率放大模块连接；/n射频信号输出模块，用于给待测的射频功率放大模块提供射频信号；/n功分器，用于将射频信号分配给多个待测的射频功率放大模块；/n时钟模块，用于设定加热时间和制冷时间；/n控制器，用于根据时钟模块设定的时间控制射频信号输出模块、加热模块以及制冷模块工作。/n

【技术特征摘要】
1.射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，包括试验箱(2)和连接在试验箱(2)上的控制箱(1)；所述试验箱(2)内设置有若干个测试机构和温度检测模块(12)，其底部安装有加热模块(10)和制冷模块(11)；所述控制箱(1)内设置有控制系统，所述控制系统包括控制器，分别与控制器连接的时钟模块和射频信号输出模块，与射频信号输出模块连接的功分器；所述控制器与加热模块(10)、制冷模块(11)以及温度检测模块(12)连接，功分器则与试验箱(2)内的射频功率放大模块连接；
射频信号输出模块，用于给待测的射频功率放大模块提供射频信号；
功分器，用于将射频信号分配给多个待测的射频功率放大模块；
时钟模块，用于设定加热时间和制冷时间；
控制器，用于根据时钟模块设定的时间控制射频信号输出模块、加热模块以及制冷模块工作。


2.根据权利要求1所述的射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，所述试验箱(2)内设置有将试验箱(2)的内部空间分隔为若干个安装腔的隔板(7)；所述测试机构安装在安装腔内。


3.根据权利要求2所述的射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，所述测试机构包括设置在试验箱(2)侧壁上的若干个插座(5)，安装在隔板(7)上且与插座(5)对应的若干个夹持机构；所有夹持机构之间通过连接结构连接。


4.根据权利要求3所述的射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，所述夹持机构包括试验夹具(8)，通过导线与试验夹具(8)连接的插头(4)；所述插头(4)安装在连接结构上。


5.根据权利要求4所述的射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，所述试验夹具(8)包括底座(82)，与底座(82)铰接的上盖(81)，安装在底座(82)内部的硅像胶层(84)，安装在底座(82)内部且位于硅像胶层(84)上方的试验电路板(85)，以及设置在底座(82)上并与试验电路板(85)连接的接口(83)；试验电路板(85)与功分器连接，所述接口(83)通过导线与插头(4)连接。


6.根据权利要求5所述的射频功率放大模块动态老化试验装置，其特征在于，所述连接结构包括分别固定在试验箱(2...

【专利技术属性】
技术研发人员：杜秋平，马卫东，何建兵，陈惠玲，胡斌，
申请(专利权)人：成都思科瑞微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51