一种多路开关测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及一种多路开关测试装置；在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行VDD测试时，通过微控制器控制第一多路开关使与待测芯片的VDD引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的VDD端接地；之后通过微控制器控制第二多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，使通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电通过不同的待测芯片的引脚输入至待测芯片，而后通过电压比较电路进行比较判断通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电在通过待测芯片的VSS端输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，若两个条件均不满足则电压比较电路无输出，即待测芯片的被测引脚正常，反之则异常。

【技术实现步骤摘要】
一种多路开关测试装置
本技术涉及集成电路测试
，更具体地说，涉及一种多路开关测试装置。
技术介绍
现有技术中的IC(IntegratedCircuit，集成电路)测试采用的是IC在封装厂封装完之后，送到测试厂，由测试厂利用大型的ATE(AutomaticTestEquipment，自动化测试设备)进行测试。在IC测试领域存在一个十倍法则，即坏品在后道工序被发现，比在前道工序被发现所付出的成本是十倍之多。因此，若测试后发现芯片存在封装或加工问题，需要将芯片再反馈到封装厂，由封装厂改善，由此造成芯片修正成本急剧增加。为了降低成本，保证生产质量，封装厂也越来越注重提前发现问题。为此，封装厂在芯片封装之前提前进行抽样，力争把问题在前端解决掉。对于封装厂的前端IC测试来说，对芯片进行开短路测试是最为主要的测试之一。但对于封装厂而言，利用大型ATE来测试，成本较高，ATE中除用于开短路测试的部分之外，其它大部分资源是冗余的。这就造成了封装厂采用ATE对IC进行测试成本高,且ATE的大部分功能被闲置浪费。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述缺陷，提供一种电路简单，成本低，体积小的多路开关测试装置。本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种多路开关测试装置，包括具有引脚保护电路的待测芯片、第一多路开关、第二多路开关、微控制器、恒压电路和恒流电路以及电压比较电路；其中，所述第一多路开关的多个输出/输入端与所述第二多路开关的多个输出/输入端一一对应连接且还与所述待测芯片的多个引脚一对一连接；所述恒压电路与电源连接用于输出2.5V的直流电，所述恒流电路与所述恒压电路连接用于输出500uA的电流，所述恒流电路还与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接；所述第一多路开关的公共输入/输出端接地；所述电压比较电路的输出端与所述微控制器连接，所述微控制器的多个I/O端与所述第一多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接，所述微控制器的多个I/O端还与所述第二多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接；所述多路开关测试装置还包括状态显示电路，所述状态显示电路用于显示所述待测芯片的各引脚的所述引脚保护电路是否正常。本技术所述的多路开关测试装置，其中，所述恒压电路为三端稳压管，所述三端稳压管的IN端与所述电源的正极连接，所述三端稳压管的ADJ端接地，所述三端稳压管的OUT端分别与所述恒流电路和所述电压比较电路连接；所述三端稳压管的IN端与ADJ端并联有第一电容且所述三端稳压管的OUT端与ADJ端并联有第二电容。本技术所述的多路开关测试装置，其中，所述恒流电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一三极管以及第二三极管；所述第一电阻和所述第二电阻均与所述三端稳压管的OUT端连接；所述第一电阻的另一端与所述第一三极管的发射极连接，所述第二电阻的另一端与所述第二三极管的发射极连接，所述第一三极管的基极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与所述第三电阻连接，所述第三电阻的另一端接地；所述第二三极管的集电极分别与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接。本技术所述的多路开关测试装置，其中，所述电压比较电路包括第一电压比较器和第二电压比较器；所述第一电压比较器的反向输入端连接有第四电阻和第五电阻，所述第四电阻的另一端与所述三端稳压管的OUT端连接，所述第五电阻的另一端接地；所述第二电压比较器的同向输入端连接有第六电阻和第七电阻，所述第六电阻的另一端与所述三端稳压管的OUT端连接，所述第七电阻的另一端接地；所述第一电压比较器的同向输入端与所述第二电压比较器的反向输入端连接且还与所述第二三极管的集电极连接；所述第一电压比较器的输出端连接有第一二极管，所述第一二极管的正极与所述第一电压比较器的输出端连接；所述第二电压比较器的输出端连接有第二二极管，所述第二二极管的正极与所述第二电压比较器的输出端连接；所述第一二极管的负极与所述第二二极管的负极连接且还连接有第八电阻，所述第八电阻的另一端连接有第三三极管，所述第三三极管的基极与所述第八电阻的另一端连接；所述第三三极管的集电极连接有第九电阻，所述第九电阻的另一端与所述电源的正极连接，所述第三三极管的发射极接地；所述第三三极管的集电极与所述微控制器的P1.7端连接。本技术所述的多路开关测试装置，其中，所述状态显示电路包括第一发光二极管和第二发光二极管；所述第一发光二极管的正极与所述第二发光二极管的正极连接且还连接有第十电阻，所述第十电阻的另一端与所述电源的正极连接；所述第一发光二极管的负极与所述微控制器的P1.7端连接，所述第二发光二极管的负极与所述微控制器的P1.6端连接。本技术所述的多路开关测试装置，其中，所述多路开关测试装置还包括模式设置电路，所述模式设置电路与所述微控制器连接用于控制所述第一多路开关的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开和控制所述第二多路开关的一个或多个输出/输入端与公共输入/输出端进行导通或断开。本技术的有益效果在于：在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行VDD测试时，通过微控制器控制第一多路开关使与待测芯片的VDD引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的VDD端接地；之后通过微控制器控制第二多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，使通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电通过不同的待测芯片的引脚输入至待测芯片，其中，第二多路开关与待测芯片的VDD端和VSS端相对应的两个输出/输入端禁止与公共输入/输出端进行连通，即导通后测试无意义；而后通过电压比较电路进行比较判断通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电在通过待测芯片的不同的引脚输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，满足其中一个条件则电压比较电路输出报警信号给微控制器，即待测芯片的被测引脚出现开路故障或短路故障，微控制器控制状态显示电路进行引脚故障的显示，若两个条件均不满足则电压比较电路无输出，即待测芯片的被测引脚正常，微控制器控制状态显示电路进行引脚引脚正常的显示；在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行VSS测试时，与VDD测试几乎相同，区别就是由第二多路开关将通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电通过待测芯片的VSS端输入至待测芯片，由第一多路开关的多个输出/输入端轮流与公共输入/输出端进行连通，即对待测芯片的多个引脚进行轮流接地，其中，待测芯片的VDD端继续保持接地；而后通过电压比较电路进行比较判断通过恒压电路和恒流电路输出的2.5V500uA的直流电在通过待测芯片的VSS端输入至待测芯片之后的电压是否高于开路电压或低于短路电压，满足其中一个条件则电压比较电路输出报警信号给微控制器，即待测芯片的被测引脚出现开路或短路故障，微控制器控制状态显示电路进行引脚故障的显示，若两个条件本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多路开关测试装置，包括具有引脚保护电路的待测芯片、第一多路开关、第二多路开关、微控制器、恒压电路和恒流电路以及电压比较电路；其特征在于，所述第一多路开关的多个输出/输入端与所述第二多路开关的多个输出/输入端一一对应连接且还与所述待测芯片的多个引脚一对一连接；/n所述恒压电路与电源连接用于输出2.5V的直流电，所述恒流电路与所述恒压电路连接用于输出500uA的电流，所述恒流电路还与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接；所述第一多路开关的公共输入/输出端接地；/n所述电压比较电路的输出端与所述微控制器连接，所述微控制器的多个I/O端与所述第一多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接，所述微控制器的多个I/O端还与所述第二多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接；所述微控制器用于控制所述第一多路开关和所述第二多路开关的工作；/n所述多路开关测试装置还包括状态显示电路，所述状态显示电路用于显示所述待测芯片的各引脚的所述引脚保护电路是否正常。/n

【技术特征摘要】
1.一种多路开关测试装置，包括具有引脚保护电路的待测芯片、第一多路开关、第二多路开关、微控制器、恒压电路和恒流电路以及电压比较电路；其特征在于，所述第一多路开关的多个输出/输入端与所述第二多路开关的多个输出/输入端一一对应连接且还与所述待测芯片的多个引脚一对一连接；
所述恒压电路与电源连接用于输出2.5V的直流电，所述恒流电路与所述恒压电路连接用于输出500uA的电流，所述恒流电路还与所述电压比较电路和所述第二多路开关的公共输入/输出端连接；所述第一多路开关的公共输入/输出端接地；
所述电压比较电路的输出端与所述微控制器连接，所述微控制器的多个I/O端与所述第一多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接，所述微控制器的多个I/O端还与所述第二多路开关的多个地址端和禁止端一对一连接；所述微控制器用于控制所述第一多路开关和所述第二多路开关的工作；
所述多路开关测试装置还包括状态显示电路，所述状态显示电路用于显示所述待测芯片的各引脚的所述引脚保护电路是否正常。


2.根据权利要求1所述的多路开关测试装置，其特征在于，所述恒压电路为三端稳压管，所述三端稳压管的IN端与所述电源的正极连接，所述三端稳压管的ADJ端接地，所述三端稳压管的OUT端分别与所述恒流电路和所述电压比较电路连接；所述三端稳压管的IN端与ADJ端并联有第一电容且所述三端稳压管的OUT端与ADJ端并联有第二电容。


3.根据权利要求2所述的多路开关测试装置，其特征在于，所述恒流电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻和第一三极管以及第二三极管；所述第一电阻和所述第二电阻均与所述三端稳压管的OUT端连接；所述第一电阻的另一端与所述第一三极管的发射极连接，所述第二电阻的另一端与所述第二三极管的发射极连接，所述第一三极管的基极与所述第二三极管的基极连接，所述第一三极管的发射极与所述第三电阻连接，所述第三电阻的另一端接地；所述第二三极管的集电极分别与所述电压比较电路和所述第二多路开关...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨斐，
申请(专利权)人：深圳市联合仪器设备有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44