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本实用新型涉及一种多路开关测试装置；在对特定的待测芯片的各引脚的引脚保护电路进行VDD测试时，通过微控制器控制第一多路开关使与待测芯片的VDD引脚相对应的一个输出/输入端与公共输入/输出端进行连通，使待测芯片的VDD端接地；之后通过微控制器...
该专利属于深圳市联合仪器设备有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市联合仪器设备有限公司授权不得商用。

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