【技术实现步骤摘要】
电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器
本申请涉及电容瑕疵的检测领域，具体而言，涉及一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器。
技术介绍
现有的电容引出端子(正负极)歪斜和烧焦的外观检测方法，是将产品固定，旋转四次(每次90°)，拍照四次，检测两个端子的每一个面的瑕疵。由于合格品中存在两个端子之间夹角不是刚好垂直90度关系的情况，而且端子歪斜是有一定的容忍度的，在规定的歪斜角度内算合格产品。这些情况的存在使得正极端子引出端朝向或者背离正极端子底端的表面和负极端子引出端的侧面无法同时在一张图像内呈现良好效果，或者使得负极端子引出端朝向或者背离负极端子底端的表面和正极端子引出端的侧面无法同时在一张图像内呈现良好效果，导致出现误判的情况，也会出现同一产品反复上机测试，得出歪斜角度不一致，偏差较大，致使判断端子歪斜的角度临界值很难确定，也会存在漏判和误判。在
技术介绍
部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的
技术介绍
的理解，因此，
技术介绍
中可能包含某些信息，这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。
技术实现思路
本申请的主要目的在于提供一种电容端子的瑕疵的检测方法、装置、存储介质和处理器，以解决现有技术中电容端子的瑕疵监测不准确的问题。根据本专利技术实施例的一个方面，提供了一种电容端子的瑕疵的检测方法，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测方法包括：获取基准端面图像，所述基准端面图...
【技术保护点】
1.一种电容端子的瑕疵的检测方法，其特征在于，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测方法包括：/n获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；/n获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；/n根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；/n控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；/n根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵。/n
【技术特征摘要】
1.一种电容端子的瑕疵的检测方法，其特征在于，待测电容包括待测电容本体和待测电容端子，所述待测电容端子位于在所述待测电容本体的预定端面上，所述检测方法包括：
获取基准端面图像，所述基准端面图像包括基准电容端子的图像以及基准预定端面的图像，基准电容包括基准电容本体和所述基准电容端子，其中，所述基准电容端子位于所述基准电容本体的所述基准预定端面上；
获取所述待测电容的端面图像，所述端面图像包括所述待测电容端子的图像以及所述待测电容端子所在端面的图像；
根据所述基准端面图像确定基准偏移角，根据所述端面图像确定实际偏移角；
控制所述待测电容旋转预定角度，获取所述待测电容端子的侧面图像，所述预定角度为根据所述基准偏移角和所述实际偏移角计算得到的；
根据所述侧面图像和所述端面图像确定所述待测电容端子的瑕疵。
2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第一表面为所述第一负极端子引出端的朝向所述第一负极端子底端的表面，且所述第一表面与所述基准预定端面垂直，所述基准端面图像包括第一基准端面图像，获取所述第一基准端面图像的过程包括：
控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；
在确定所述基准侧面图像中不存在所述第一表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；
获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第一基准端面图像。
3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：
在所述第一基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第一基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第一基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；
获取第一位置点和第二位置点的连线，得到第一连线，所述第一位置点和所述第二位置点均为所述第一基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的点，所述第一位置点和所述第二位置点的位置不同；
确定所述第一连线与所述X轴的夹角，得到第一基准偏移角。
4.根据权利要求3所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第二表面为所述第一正极端子引出端的朝向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第二基准端面图像，获取所述第二基准端面图像的过程包括：
控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；
在确定所述基准侧面图像中不存在所述第二表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；
获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第二基准端面图像。
5.根据权利要求4所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：
在所述第二基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第二基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第二基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；
获取第三位置点和第四位置点的连线，得到第二连线，所述第三位置点和所述第四位置点均为所述第二基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第三位置点和所述第四位置点的位置不同；
确定所述第二连线与所述X轴的夹角，得到第二基准偏移角。
6.根据权利要求5所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一负极端子，所述第一负极端子包括第一负极端子引出端和第一负极端子底端，所述第一负极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第三表面为所述第一负极端子引出端的背向所述第一负极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第三基准端面图像，获取所述第三基准端面图像的过程包括：
控制旋转所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；
在确定所述基准侧面图像中不存在所述第三表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；
获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第三基准端面图像。
7.根据权利要求6所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：
在所述第三基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第三基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第三基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；
获取第五位置点和第六位置点的连线，得到第三连线，所述第五位置点和所述第六位置点均为所述第三基准端面图像中所述第一负极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第五位置点和所述第六位置点的位置不同；
确定所述第三连线与所述X轴的夹角，得到第三基准偏移角。
8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述基准电容包括第一正极端子，所述第一正极端子包括第一正极端子引出端和第一正极端子底端，所述第一正极端子底端接触地位于所述基准预定端面，第四表面为所述第一正极端子引出端的背向所述第一正极端子底端的表面，所述基准端面图像包括第四基准端面图像，获取所述第四基准端面图像的过程包括：
控制所述基准电容旋转，并获取基准侧面图像，所述基准侧面图像为所述基准电容的侧面图像；
在确定所述基准侧面图像中不存在所述第四表面的阴影的情况下，控制所述基准电容停止旋转；
获取基准端面图像，确定所述基准端面图像为第四基准端面图像。
9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，根据所述基准端面图像确定基准偏移角，还包括：
在所述第四基准端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述第四基准端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述第四基准端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；
获取第七位置点和第八位置点的连线，得到第四连线，所述第七位置点和所述第八位置点均为所述第四基准端面图像中所述第一正极端子引出端的顶面边缘上的一点，所述第七位置点和所述第八位置点的位置不同；
确定所述第四连线与所述X轴的夹角，得到第四基准偏移角。
10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，根据所述端面图像确定实际偏移角，包括：
在所述端面图像上建立坐标系，所述坐标系的X轴与所述端面图像的第一边缘平行，所述坐标系的Y轴与所述端面图像的第二边缘平行，所述第一边缘与所述第二边缘相邻且垂直；
根据所述坐标系确定所述实际偏移角。
11.根据权利要求10所述的检测方法，其特征在于，所述待测电容包括第二负极端子，所述第二负极端子包括第二负极端子引出端和第二负极端子底端，所述第二负极端子底端接触地位于所述预定端面，根据所述坐标系确定所述实际偏移角，包括：
获取第九位置点和第十位置点的连线，得到第五连线，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨智慧，宋明岑，周海民，
申请(专利权)人：珠海格力智能装备有限公司，珠海格力电器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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